3.5 Prosedur Kerja
Pembuatan magnet permanen BaFe
12
O
19
dengan penambahan serbuk SiO
2
mengikuti beberapa tahap yaitu:
3.5.1 Penggilingan serbuk menggunakan Planetary Ball Mill PBM
Serbuk BaFe
12
O
19
ditambahkan dengan serbuk SiO
2
dengan perbandingan komposisi yang sudah ditetapkan PBM, di timbang
dengan perbandingan berat 1:5. Di masukkan ke dalam jar PBM yang telah di cuci terlebih dahulu menggunakan pasir , air dan sabun. Di
milling dengan PBM selama 0 jam tanpa di milling, 12 jam, 24 jam, 36 jam dan 48 jam.
3.5.2 Pengukuran Diameter Serbuk
Di ukur diameter serbuk BaFe
12
O
19
yang sudah di milling dengan serbuk SiO
2
pada waktu milling 12 jam, 24 jam, 36 jam dan 48 jam. Pengukuran diameter serbuk BaFe
12
O
19
yang sudah di milling dengan serbuk SiO
2
di lakukan dengan menggunakan Partikel Size Analyzer PSA .
3.5.3 Pengukuran Densitas Serbuk
Pengukuran densitas serbuk BaFe
12
O
19
+ SiO
2
dilakukan dengan menggunakan picnometer. Pertama picnometer dalam keadaan kosong
m
1
, lalu picnometer diisi dengan airm
2
. Selanjutnya picnometer di bersihkan dan di keringkan dengan pemanas sekitar 20 menit, kemudian
picnometer diisi dengan serbuk, lalu ditimbang kembali m
3
, setelah itu kedalam picnometer yang berisi serbuk di tambahkan air sampai
picnometer penuh dan di timbang kembali m
4
. Kemudiam densitas dapat di hitung dengan persamaan rumus:
� = �
3
− �
1
�
2
− �
1
− �
4
− �
3
� �
���
3.5.4 X-Ray Difraction XRD
Disiapkn bahan yang akan di analisa sample,lalu dinyalakan computer dan monitornya.,kemudian dinyalakan mesin XRD.,kemudian
diperiksa apakah knops dan KV sudah pada posisi nol 0. Set 0 jika posisi belum pada 0,Jalankan control XRD yang berada pada
computer.Disesuikan parameter pada XRD sesuai dengan yang di inginkan. Kemudian pilih mode lambat, sedang atau cepat waktu analisa.
Setelah itu tekan tombol start pada control XRD. Lalu ditunggu sampai proses analisa scan selesai. Setelah proses analisa selesai maka akan
didapatkan data berupa grafis dengan peak-peak puncak - puncak nya. Dari grafis itu fokuskan analisa pada puncak yang paling dominan.
3.5.5 OM Optical Microscope
Kategori