53
3. Hasil Karakterisasi Scanning Electron Microscopy SEM
Scanning Electron Microscopy SEM merupakan alat yang digunakan untuk mengetahui morfologi permukaan pada kristal
semikonduktor masif SnSe
0,2
Te
0,8
. Pada penelitian ini karakterisasi Scanning Electron Microscopy SEM dan karakterisasi Energy Dispersive
Analysis of X-Ray EDAX dilakukan pada sampel pertama dengan massa bahan dasar Sn 0,9 gram dan sampel kedua dengan massa bahan dasar Sn
1 gram. Hal ini dikarenakan setelah dilakukan pencocokan hasil karakterisasi XRD dengan standar JCPDS, sampel I memiliki banyak
kesamaan sudut dengan standar JCPDS dan merupakan kristal dengan kualitas terbaik dibandingkan dengan ketiga sampel yang lainnya dilihat
dari intensitas puncak yang dihasilkan dari karakterisasi XRD. Sedangkan sampel II dipilih karena kualitas kristal yang dihasilkan kurang baik jika
dilihat dari intensitas puncak hasil karakterisasi XRD, dan difraktogram hasil karakerisasi XRD pun kurang baik. Hasil analisis SEM yang
didapatkan berupa foto morfologi permukaan dari kristal masif SnSe
0,2
Te
0,8
dengan beberapa perbesaran.
54
a b
c d
Gambar 19. Foto morfologi permukaan kristal semikonduktor masif SnSe0,2Te0,8 sampel I hasil karakterisasi SEM dengan
perbesaran a 1.000 kali, b 3.000 kali, c 5.000 kali dan d 10.000 kali.
55
a b
c d
Gambar 20. Foto morfologi permukaan kristal semikonduktor masif SnSe0,2Te0,8 sampel II hasil karakterisasi SEM dengan
perbesaran a 1.000 kali, b 3.000 kali, c 5.000 kali dan d 10.000 kali.
56
4. Hasil Karakterisasi Energy Dispersive Analysis of X-Ray EDAX
Karakterisasi Energy Dispersive Analysis of X-Ray EDAX dilakukan guna mengetahui komposisi unsur kimia pembentuk kristal.
Seperti pada analisis morfologi permukaan menggunakan Scanning Electron Microscopy SEM, analisis komposisi kimia masif SnSe
0,2
Te
0,8
pada penelitian ini dilakukan untuk sampel pertama dan sampel kedua. Hasil dari analisis EDAX yang didapatkan berupa grafik hubungan antara
energi dan intensitas. Hasil tersebut merupakan spektrum energi sinar-X karakteristik dari bahan yang dikarakterisasi.
Gambar 21. Hasil karakterisasi EDAX kristal semikonduktor masif SnSe
0,2
Te
0,8
sampel I.
57
Gambar 22. Hasil karakterisasi EDAX kristal semikonduktor masif SnSe
0,2
Te
0,8
sampel II. Dari hasil karakterisasi EDAX kristal semikonduktor masif
SnSe
0,2
Te
0,8
hasil preparasi teknik Bridgman sampel pertama maupun sampel kedua dapat terlihat bahwa keduanya mengandung unsur Stannum
Sn, Selenium Se, dan Tellurium Te. Dari hasil tersebut juga dapat dilihat bahwa kedua sampel didominasi dengan unsur Stannum Sn dan
Tellurium Te.
58
B. Pembahasan
Kategori