λ = panjang gelombang sinar-X
d = jarak kisi pada kristal dalam bidang
Identifikasi senyawa dapat dilakukan secara cepat dengan membandingkan atom intensitas spektrum sampel dengan intensitas standar, karena intensitas spektrum
suatu senyawa sangat spesifik dan berbeda untuk setiap senyawa. Setiap jenis mineral memiliki susunan atom yang spesifik sehingga menghasilkan bidang atom
karakteristik yang dapat memantulkan sinar-X. Sinar-X dapat dipantulkan oleh atom- atom yang tersusun dalam bidang kristal dan menghasilkan pola-pola khas dari setiap
jenis mineral pada saat analisa. Montmorilonit kering udara dicirikan oleh puncak difraksi sinar-X tingkat pertama sebesar 12,3 Å yang bergeser ke 17,7 Å setelah
contoh mengalami solvasi Tan, 1998.
2.5.2 Scanning Electron Microscopy SEM
Scanning Electron Microscope SEM merupakan sebuah tipe mikroskop elektron
yang menggambarkan permukaan sampel melalui proses scan dengan menggunakan pancaran energi yang tinggi dari elektron dalam suatu pola scan raster.
SEM digunakan untuk mengamati morfologi suatu bahan dengan prinsip kerja sifat gelombang dari elektron yaitu difraksi pada sudut yang sangat kecil.
Penggunakan SEM sebagai salah satu mikroskop elektron didasarkan pada fakta bahwa alat ini dapat digunakan untuk mengamati dan mengkarakterisasi bahan
dengan skala mikrometer μm hingga nanometer nm.
Dalam SEM lensa yang digunakan adalah suatu lensa elektromagnetik, yakni medan magnet dan medan listrik, yang dibuat sedemikian rupa sehingga elektron yang
melewatinya dibelokkan seperti cahaya oleh lensa eletromagnetik tersebut. Sebagai pengganti sumber cahaya dipergunakan suatu pemicu elektron electron gun, yang
berfungsi sebagai sumber elektron yang dapat menembaki elektron yang berenergi tinggi, biasanya antara 20 KeV-200KeV, terkadang sampai 1 MeV.
Universitas Sumatera Utara
Analisa SEM pada membran yaitu untuk melihat morfologi permukaan membran, ukuran pori. Permukaan membran dan ukuran pori mempengaruhi kinerja
membran dalam filtrasi suatu bahan.
2.5.3 Fourier Transform Infrared Spectroscopy FTIR
Spektrofotmeter inframerah merupakan suatu metode yang dapat mengidentifikasi kandungan gugus fungsi suatu senyawa organik dan membandingkan dengan daerah
sidik jarinya tetapi tidak dapat menentukan molekular unsur penyusunnya. Karakterisasi menggunakan FTIR dapat dilakukan dengan menganalisis
spektra yang dihasilkan sesuai dengan puncak-puncak yang dibentuk oleh suatu gugus fungsi. Spektrum inframerah senyawa organik bersifat khas, artinya senyawa yang
berbeda akan mempunyai spektrum yang berbeda pula. Daerah inframerah terletak pada daerah spektrum 4000-200 cm
-1
Sistem analisa spektroskopi infra merah telah memberikan keunggulan dalam mengkarakterisasi senyawa organik dan formulasi material polimer. Analisa infra
merah akan menentukan gugus fungsi dari molekul yang memberikan regangan pada daerah serapan infra merah. Tahap awal identifikasi bahan polimer, maka harus
diketahui pita serapan yang karakteristik untuk masing-masing polimer dengan membandingkan spektrum yang telah dikenal. Pita serapan yang khas ditunjukan oleh
monomer penyusun material dan struktur molekulnya. .
Analisis gugus fungsi suatu bahan polimer menggunakan metode Spektroskopi Infra merah Transformasi Fourier FT-IR dilakukan untuk mengetahui gugus fungsi
yang terdapat dalam membran polisulfon.
2.6 Air Gambut
