Langkah Kerja Data Pengamatan Pengolahan Data

dengan menambah sejumlah kecil ketidakmurnian. Ketidakmurnian ini disebut dopant. Doping sejumlah besar ke semikonduktor dapat meningkatkan konduktivitasnya dengan faktor lebih besar dari satu milyar. Dalam sirkuit terpadu modern, misalnya, polycrystalline silicon didop-berat seringkali digunakan sebagai pengganti logam. Alat Semikonduktor atau semiconductor devices, adalah sejumlah komponen elektronik yang menggunakan sifat-sifat materi semikonduktor, yaitu Silikon, Germanium, dan Gallium Arsenide. Alat-alat semikonduktor zaman sekarang telah menggantikan alat thermionik seperti tabung hampa. Alat-alat semikonduktor ini menggunakan konduksi elektronik dalam bentuk padat solid state, bukannya bentuk hampa vacuum state atau bentuk gas gaseous state. Alat-alat semikonduktor dapat ditemukan dalam bentuk- bentuk dicrete potongan seperti transistor, diode, dll, atau dapat juga ditemukan sebagai bentuk terintegrasi dalam jumlah yang sangat besar jutaan dalam satu keping Silikon yang dinamakan Sirkuit terpadu IC. Gambar Rangkaian tertutup Semikonduktor

IV. Langkah Kerja

Eksperimen r-Lab ini dilakukan dengan cara masuk ke http:sitrampil.ui.ac.idelaboratory dengan memilih LR03 –karakteristik VI Semikonduktor dan melakukan langkah berikut: 1. Memerhatikan halaman web percobaan karakteristik VI semi konduktor 2. Memberikan beda potensial dengan memberi tegangan V1. 3. Mengaktifkan power supplybaterai dengan mengklik radio button di sebelahnya. 4. Mengukur beda potensial dan arus yang terukur pada hambatan 5. Mengulangi langkah 3 hingga 5 untuk beda potensial V2 hingga V8

V. Data Pengamatan

Data yang diperoleh adalah sebagai berikut: V1 V2 V3 V4 V I 0.40 3.26 0.40 2.93 0.40 2.93 0.40 2.93 0.40 2.93 V I 0.91 7.17 0.91 7.17 0.91 7.17 0.91 7.17 0.91 7.17 V I 1.36 10.75 1.36 10.75 1.36 11.08 1.36 10.75 1.36 11.08 V I 1.87 14.99 V5 V6 V7 V8

VI. Pengolahan Data

1.87 14.99 1.87 15.31 1.87 15.31 1.87 15.31 V I 2.25 18.90 2.25 18.90 2.25 18.90 2.24 19.22 2.24 19.22 V I 2.83 24.44 2.83 25.09 2.83 24.76 2.82 25.09 2.82 25.74 V I 3.16 28.35 3.16 28.02 3.15 28.67 3.14 29.00 3.14 29.00 V I 3.63 33.89 3.62 34.54 3.61 35.19 3.60 35.19 3.59 35.84 Dengan menggunakan rumus V rata-rata = dan I rata-rata = maka, Percobaan V rata-rata V I rata-rata A V1 0.400 2.996 V2 0.910 7.170 V3 1.360 10.882 V4 1.870 15.182 V5 2.246 19.028 V6 2.826 25.512 V7 3.150 28.608 V8 3.610 34.930 Selanjutnya, menghitung rata-rata V dan I dari setiap percobaan V p = dan I p = V p = 2.046 V dan I p = 18.038 A Dengan menggunakan metode least square, kita dapat menentukan persamaan garis hubungan antara V dan I. Rumus yang digunakan adalah V = I x R Nilai R merupakan perbandingan antara V p dan I p, Dengan menggunakan metode least square, kita dapat menentukan persamaan garis hubungan antara V dan I. Hubungan ini disebut juga dngan hambatan semikonduktor i X i Y i X i 2 Y i 2 X i Y i 1 0.440 2.9960 0.1600 8.9760 1.1984 2 0.910 7.1700 0.8281 51.408 6.5247 3 1.360 10.882 1.8496 118.41 14.799 4 1.870 15.182 3.4969 230.49 28.390 5 2.246 19.028 5.0445 362.06 42.736 6 2.826 25.512 7.9862 650.86 72.096 7 3.150 28.608 9.9225 818.41 90.115 8 3.619 34.930 13.097 1220.1 126.41 ∑ 16.381 144.308 42.3850 3460.7454 382.2736 V = R I Dimana y merupakan fungsi dari V, b merupakan fungsi dari R, x merupakan fungsi dari I, dan a merupakan Konstanta. Persamaan hambatan semikonduktor diperoleh y = Menghitung kesalahan relatif TK = √ √ TK = = Grafik Hubungan antara V dan I

VII. Analisis