Kampas rem Keausan TINJAUAN PUSTAKA

keausan pada mekanisme ini ditentukan oleh derajat kebebasan partikel keras tersebut Sularso, 1997 Gambar 2. Proses terjadinya keausan abrasive Sularso, 1997 3. Keausan lelah Keausan lelah pada permukaan pada hakikatnya bisa terjadi baik secara abrasif atau adhesif. Tetapi keausan jenis ini terjadi akibat interaksi permukaan dimana permukaan yang mengalami beban berulang akan mengarah pada pembentukan retak-retak mikro. Retak- retak mikro tersebut pada akhirnya menyatu dan menghasilkan pengelupasan material. Hal ini akan berakibat pada meningkatnya tegangan gesek Sularso, 1997 4. Keausan Oksidasi Korosif Keausan kimiawi merupakan kombinasi antara proses mekanis dan proses termal yang terjadi pada permukaan benda serta lingkungan sekitarnya Sularso, 1997 5. Keausan Erosi Proses erosi disebabkan oleh gas dan cairan yang membawa partikel padatan yang membentur permukaan material. Jika sudut benturannya kecil, keausan yang dihasilkan analog dengan abrasive. Namun, jika sudut benturannya membentuk sudut gaya normal 90 derajat , maka keausan yang terjadi akan mengakibatkan pengikisan pada permukaannya Sularso, 1997.

2.6. Pengujian Keausan

Pengujian keausan dapat dilakukan dengan berbagai macam metode dan teknik, yang semuanya bertujuan untuk mensimulasikan kondisi keausan aktual. Salah satunya adalah dengan metode Ogoshi dimana benda uji memperoleh beban gesek dari cincin yang berputar revolving disc. Pembebanan gesek ini akan menghasilkan kontak antar permukaan yang berulang-ulang yang pada akhirnya akan mengambil sebagian material pada permukaan benda uji. Besarnya jejak permukaan dari material tergesek itulah yang dijadikan dasar penentuan tingkat keausan pada material. Semakin besar dan dalam jejak keausan maka semakin tinggi volume material yang terlepas dari benda uji. Ilustrasi skematis dari kontak permukaan antara revolving disc dan benda uji diberikan oleh Gambar 3. Gambar 3. Ilustrasi uji keausan metode Ogoshi Callister,2003 Keterangan : P : Beban h : Kedalaman bekas injakan r : jari- jari revolving disk b : Lebar bekas injakan B : Tebal revolving disk ω : Kecepatan putar Rumus uji keausan yaitu sebagai berikut : = . …………………………………………………………….… .1 = ………………………………….……………………………… .2 Dimana: Ws = Abrasi mm 3 B = Tebal revolving disc mm r = Jari-jari revolving disc mm b = Lebar celah material yang terabrasi mm x = Jarak luncur [setting pada mesin uji mm] V = Spesifik Abrasi mm 3 mm Laju keausan dinyatakan dengan jumlah kehilangan atau pengurangan material massa, volume atau ketebalan tiap satuan panjang luncuran atau satuan waktu Callister,2003

2.7. Foto SEM

Scanning Electron Microscope SEM adalah sebuah mikroskop elektron yang di desain khusus untuk mengamati permukaan objek solid. Secara langsung SEM memiliki perbesaran 10-3000000 kali, depth of field 4-0,4 mm dan resolusi sebesar 1-10 nm. Kombinasi dari perbesaran yang tinggi, depth of field yang besar, resolusi yang baik, kemampuan untuk mengetahui komposisi dan informasi kristalografi membuat SEM banyak digunakan untuk keperluan industri. SEM memfokuskan sinar elektron di permukaan objek dan mengambil gambarnya dengan mendeteksi elektron yang muncul dari permukaan objek Prasetyo Y, 2011 Prinsip kerja SEM sebagai berikut: 1. Electron gun menghasilkan electron beam dari filamen. Pada umumnya electron gun yang digunakan adalah tungsten hairpin gun dengan filamen berupa lilitan tungsten yang berfungsi sebagai katoda. Tegangan yang diberikan pada lilitan mengakibatkan terjadinya pemanasan. Anoda kemudian membentuk gaya yang dapat menarik elektron melaju menuju ke anoda 2. Lensa magnetik memfokuskan elektron menuju suatu titik pada permukaan sampel 3. Sinar elektron yang berfokus memindai scan keseluruhan sampel dengan diarahkan oleh koil pemindai 4. ketika elektron mengenai sampel, maka akan terjadi hamburan elektron, baik secondary electron SE atau Back Scattered Electron BSE dari permukaan sampel dan akan di deteksi oleh detektor dan dimunculkan dalam bentuk gambar pada monitor CRT Prasetyo Y, 2011