Analisa Sifat Mekanik dengan Uji Kekuatan Tarik dan Kemuluran Analisa Sifat Permukaan dengan Pengujian Scanning Electron Microscopy

dalam penelitian ini adalah menggunakan analisa Sifat mekanik meliputi kekuatan tarik dan kemuluran, SEM Scanning Electron Microscopy, Uji biodegradable.

2.7.1. Analisa Sifat Mekanik dengan Uji Kekuatan Tarik dan Kemuluran

Sifat mekanis biasanya biasanya dipelajari dengan mengamati sifat kekuatan t arik σ t menggunakan alat pengukuran tensometer atau dinamometer, bila terhadap bahan diberikan tegangan. Secara praktis kekuatan tarik diartikan sebagai besarnya beban maksimum F maks yang dibutuhkan untuk memutuskan spesimen bahan, dibagi dengan luas penampang bahan. Karena selama dibawah pengaruh tegangan, spesimen mengalami perubahan bentuk deformasi maka definisi kekuatan tarik dinyatakan dengan luas penampang semula A σ t = F maks A o …………………………………..………….. 2.2 selama deformasi, dapat diasumsikan bahwa volum spesimen tidak berubah, sehingga perbandingan luas penampang semula dengan penampang setiap saat, A o A = ll o , dengan l dan l o masing-masing adalah panjang spesimen setiap saat dan semula. Bila didefenis ikan besaran kemuluran ε sebagai nisbah pertambahan panjang terhadap panjang spesimen semula ε = Δll o maka diperoleh hubungan: A = A o l + ε ……………………...… 2.3 Hasil pengamatan sifat kekuatan tarik ini dinyatakan dalam bentuk kurva tegangan, yakni nisbah beban dengan luas penampang, terhadap perpanjangan bahan regangan, yang disebut dengan kurva tegangan-regangan. Bentuk kurva tegangan- regangan ini merupakan karakteristik yang menunjukkan indikasi sifat mekanis bahan yang lunak, keras, kuat, lemah, rapuh atau liat Basuki wirjosentono, 1995. Film hasil spesimen dengan ketebalan 0,2 mm dipotong membentuk spesimen untuk pengujian kemuluran uji tarik. Universitas Sumatera Utara Gambar 2.8 Spesimen Uji Kekuatan Tarik Berdasarkan ASTM D – 638 – 72 – Type IV Kedua ujung spesimen dijepit pada alat kemuluran kemudian dicatat perubahan panjang mm berdasarkan besar kecepatan 50 mmmenit Yazdani, 2000.

2.7.2. Analisa Sifat Permukaan dengan Pengujian Scanning Electron Microscopy

SEM SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara makroskopik. Berkas elektron dengan diameter 5-10 nm diarahkan pada spesimen. Interaksi berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, sinar X, elektron sekunder dan absorpsi elektron. Teknik SEM pada hakekatnya merupakan pemeriksaan dan analisa permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan yang tebalnya sekitar 20 μm dari permukaan. Gambar permukaan yang diperoleh merupakan tofografi dengan segala tonjolan, lekukan dan lubang pada permukaan. Gambar tofografi diperoleh dari penangkapan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen. Sinyal elektron sekunder yang dihasilkan ditangkap oleh detektor yang diteruskan ke monitor. Pada monitor akan diperoleh gambar yang khas menggambarkan struktur permukaan spesimen. Selanjutnya gambar di monitor dapat dipotret dengan menggunakan film hitam putih atau dapat pula direkam ke dalam suatu disket. Sampel yang dianalisa dengan teknik ini harus mempunyai permukaan dengan konduktivitas tinggi. Karena polimer mempunyai kondiktivitas rendah maka bahan perlu dilapisi dengan bahan konduktor bahan pengantar yang tipis. Bahan yang biasa Universitas Sumatera Utara digunakan adalah perak, tetapi juga dianalisa dalam waktu yang lama, lebih baik digunakan emas atas campuran emas dan palladium Rusdi, 2008.

2.7.3. Analisa Spektrofotometer FTIR