21
2.7. Scanning Electron Microscopy SEM
Scanning Electron Microscope SEM digunakan untuk mengetahui morfologi dari senyawa hasil sintesis, distribusi pertumbuhan kristal, perubahan
fisika yang terjadi pada kondisi preparasi. Hasil karakterisasi SEM berupa pencitraan material dengan menggunakan prinsip mikroskopi, namun
menggunakan elektron sebagai sumber pencitraan dan medan elektromagnetik. SEM adalah salah satu jenis mikroskop elektron yang menggunakan berkas
elektron untuk menggambar profil permukaan benda. Prinsip kerja SEM adalah menembakkan permukaan benda dengan berkas elektron berenergi tinggi.
Permukaan benda yang dikenai berkas elektron akan memantulkan kembali berkas tersebut atau menghasilkan elektron sekunder ke segala arah. Detektor didalam
SEM mendeteksi elektron yang dipantulkan dan menentukan lokasi berkas yang dipantulkan dengan intensitas tertinggi. Arah tersebut memberi informasi profil
permukaan benda seperti seberapa landai dan kemana arah kemiringan. Pada saat dilakukan pengematan, lokasi permukaan benda yang ditembak
dengan berkas elektron di-scan ke seluruh area pengamatan. Kita dapat membatasi lokasi pengamatan dengan melakukan zoom-in atau zoom-out. Berdasarkan arah
pantulan berkas pada berbagai titik pengamatan maka profil permukaan benda dapat dibangun menggunakan program pengolahan citra yang ada dalam
komputer. Syarat agar SEM dapat menghasilkan citra permukaan yang tajam adalah
permukaan benda harus bersifat sebagai pemantul elektron atau dapat melepaskan elaktron sekunder ketika ditembak dengan berkas elektron. Material yang
22
memiliki sifat demikian adalah logam. Jika permukaan logam diamati di bawah SEM maka profil permukaan akan tampak dengan jelas. Jika permukaan bukan
logam dapat diamati dengan jelas menggunakan SEM tetapi permukaan material tersebut harus dilapisi dengan logam. Filim tipis logam dibuat pada permukaan
material tersebut sehingga dapat memantulkan berkas elektron, seperti lapis tipis emas-paladium Au: 80 dan Pd:20. Teknik pelapisan dilakukan dengan
metode evaporasi dan seputtering Abdullah,2010.
2.8. Spektrofotometer UV-Vis Dalam bidang material, sepektrometer UV-Vis sering digunakan
Kategori