29
Fungsi latar kelima berdasarkan kontribusi dari hamburan diffuse termal di sekitar sampel untuk Q kecil.
∑
= −
− =
N j
j j
b
Q j
B I
1 1
2
1 ...................................................................... 2.22
Q merupakan kontribusi dari hamburan diffuse termal. I
b
merupakan nilai latar, nilai B dihitung oleh kuadrat terkecil selama penghalusan parameter dengan
metode Rietveld. Fungsi ini pada umumnya digunakan untuk sinar-X dan data neutron sampel serbuk. Von Dreele dan Larson, 2004.
II.10.3. Faktor Skala
Faktor skala untuk data difraksi serbuk ada 2 jenis yaitu skala histogram S
h
untuk refleksi dari semua fase – fase pada contoh dan skala fraksi fase S
ph
untuk refleksi hanya fase ke-p saja. Faktor koreksi intensitas K
ph
diberikan maka faktor skala S
ph
perbandingannya sesuai dengan komposisi sel satuan sampel Von Dreele dan Larson, 2004.
II.10.4. Intensitas Bragg
Intensitas yang diberikan dari puncak-puncak Bragg Y
ph
tergantung pada beberapa hal. Terutama faktor struktur dan jumlah fasa yang memberikan
kontribusi. Bentuk puncak dan lebar puncak berhubungan dengan posisinya juga mempunyai efek. Intensitas Bragg dapat dituliskan dalam persamaan sebagai
berikut:
ph ph
ph ph
K T
T H
F Y
− =
2
........................................................... 2.23
30
F
ph
adalah faktor struktur, HT - T
ph
adalah nilai fungsi puncak profil pada posisi T
yang berpindah dari T
ph
dan K
ph
adalah faktor koreksi intensitas von Dreele dan Larson, 2004.
II.10.5. Fungsi Profil Bentuk Puncak
Pada difraksi difraksi sinar-X, posisi hambur dengan panjang gelombang λ
konstan berdasarkan hukum Bragg. Sistem GSAS meminta dua nilai λ
h
; yaitu
LAM1 dan LAM2, dan nilai ZERO. LAM1 dan LAM2 merupakan panjang gelombang. ZERO merupakan karakteristik dari difraktometer. Jika diantara
LAM1 dan LAM2 tidak ditampilkan, dapat diketahui melalui referensi. Intensitas pada LAM2 diasumsikan normal jika ½ intensitas pada LAM1 sesuai dengan
teori untuk K pada radiasi emisi sinar-X berdasarkan penelitian laboratorium.
Ratio yang disebut KRATIO dapat juga dihaluskan dengan instrumen optik
dimodifikasi dengan ratio
1 2
α α
K K
von Dreele dan Larson, 2004.
II.10.6. Fungsi Profil
Difraksi sinar-X 2θ menggunakan fungsi profil CW constant wavelength
yaitu fungsi profil CW constant wavelength 1, fungsi profil CW constant wavelength 2, fungsi profil CW constant wavelength 3, fungsi profil
CW constant wavelength 4 dan fungsi profil CW constant wavelength 5.
31
Pada fungsi profil CW constant wavelength 2 menggunakan persamaan Simson yang dinyatakan C. J Howard. H merupakan fungsi profil. ΔT merupakan
selisih posisi hambur. g merupakan tensor resiprokal. T
F g
T H
n i
i
∆ =
∆
∑
= 1
.......................................................... 2.24 dengan persamaan Pseudo-Voight FΔT yang dinyatakan Thomson dkk.
Faktor campuran η merupakan fungsi Full Width Half Maksimum atau FWHM Γ dan koefisien Lorentzian γ.
Pada fungsi ini terdapat 18 koefisien yaitu U, V, W, X, Y, T
s
, A
s
, S
s,
P, Y
e
, X
e
, X
s
, γ
11
, γ
22
, γ
33
, γ
12
, γ
13
, dan γ
23
. Pada GSAS disebut GU, GV, GW, LX, LY, trns, asym, shft, GP, stec, ptec, sfec, L11, L22, L33, L12, L13, dan L23.
Fungsi profil ini memberikan penghalusan yang lebih bagus untuk profil yang tidak simetri dan menunjukkan korelasi yang lebih sedikit dengan parameter kisi.
Fungsi ini dilakukan pada refleksi tidak simetri untuk aksial divergen pada sudut 2θ10° Von Dreele dan Larson, 2004.
II.10.7. Asas Kuadrat Terkecil
