2.9 Karakterisasi Sel Baterai
2.9.1. X-ray Diffraction XRD
Difraksi sinar-X XRD adalah suatu metode analisis dalam struktur kristalografi. Dalam pengujian sampel, XRD digunakan untuk menentukan struktur atom pada
kristal, an juga untuk menentukan banyak informasi lebih lanjut Cullity, 1972, seperti pada puncak tertinggi peak, fasa, struktur kristal dan kristalinitas. Bila
sinar- X dengan panjang gelombang diarahkan pada permukaan kristal dengan
sudut datang sebesar θ, maka sebagian besar sinar-X yang dihamburkan oleh bidang atom dalam kristal Cullity, 1972. Hal ini dapat diketahui dari persamaan
Bragg yaitu nilai sudut difraksi yang berbanding terbalik dengan nilai jarak d jarak antar kisi dalam kristal.
Berdasarkan pada persamaan Bragg : n = 2d sin θ
2.3 Dengan :
d = jarak antar kristal θ = sudut difraksi
= panjang gelombang sinar-X n = urutan sinar dalam bilangan bulat
Berdasarkan dari persamaan Bragg, apabila sinar-X dijatuhkan pada material yang bersifat kristal, maka pada bidang kristal akan membiaskan sinar-X
yang memiliki panjang gelombang yang sama dengan jarak antar kisi pada kristal tersebut, sinar-X yang dibiaskan akan ditangkap oleh detector lalu diterjemahkan
sebagai puncak difraksi, puncak yang dihasilkan ini merupakan nilai dari intensitas difraksi, semakin banyak bidang kristal semakin tinggi intensitas
pembiasan yang dihasilkan, tiap puncak yang muncul tersebut mewakili satu bidang kristal Cullity, 1972.
Didalam kisi kristal, tempat kedudukan sederetan ion atau atom disebut bidang kristal. Bidang kristal ini berfungsi sebagai cermin untuk
merefleksikan sinar-X yang datang. Posisi dan arah dari bidang kristal ini disebut indeks miller. Setiap kristal memiliki bidang kristal dengan posisi dan arah yang
khas, sehingga jika disinari dengan sinar-X pada analisis XRD akan memberikan difraktogram yang khas pula.
Universitas Sumatera Utara
Dari data XRD yang di peroleh, dilakukan identifikasi puncak-puncak grafik XRD dengan cara mencocokkan puncak yang ada pada grafik
tersebut dengan database ICDD International Centre for Diffraction Data. Setelah itu, dilakukan refinement pada data XRD dengan menggunakan
metode Analisis Rietveld yang terdapat pada program RIETAN. Melalui refinement tersebut, fase beserta struktur, space group,dan parameter kisi yang
ada pada sampel yang diketahui.
2.9.2. Electrochemical Impedance Spectroscopy EIS
Kategori