2.8.2 Porositas
Porositas dapat didefenisikan sebagai perbandingan antara jumlah volume lubang-lubang kosong yang dimiliki oleh zat padat volume kosong dengan
jumlah dari volume zat padat yang ditempati oleh zat padat. Porositas pada suatu material dinyatakan dalam persen rongga fraksi volume dari suatu rongga
yang ada di dalam material tersebut. Besarnya porositas pada suatu material bervariasi mulai dari 0 sampai dengan 90 tergantung dari jenis dan aplikasi
material tersebut. Ada dua jenis porositas yaitu porositas terbuka dan porositas tertutup. Porositas yang tertutup pada umumnya sulit untuk ditentukan karena
pori tersebut merupakan rongga yang terjebak di dalam padatan dan serta tidak ada akses ke permukaan luar, sedangkan pori terbuka masih ada akses ke
permukaan luar, walaupun rongga tersebut ada di tengah-tengah padatan [Lisjak, 2006].
Untuk pengukuran porositas suatu bahan mengacu pada standar khususnya untuk material berpori. Porositas dapat dinyatakan dengan persamaan sebagai
berikut: Porositas =
2.10 Dimana,
Mk = Massa kering g Mb = Massa basah g
2.8.3 X-Ray Diffraction XRD
Struktur kristal dapat dianalisa dengan menggunakan difraksi sinar X atau disebut X-Ray Dfraction XRD. Bila ada berkas gelombang elektromagnetik
yang mengenai kristal akan mengalami difraksi sesuai dengan hukum fisika. Bila sinar X jatuh pada kisi kristal maka sinar akan didifraksikan, dimana sinar sefasa
akan diperkuat, sedangkan sinar yang tidak sefasa akan ditiadakan. Gambaran sinar X yang mengenai bidang kristal diperlihatkan pada gambar 2.6
Sesuai dengan hukum Bragg maka hubungan d dengan ϴ dinyatakan dalam
rumus sebagai berikut: n λ = 2 d sin ϴ 2.11 [Haryadi, J., 2006].
Universitas Sumatera Utara
X-ray diffractometer adalah alat yang dapat memberikan data-data difraksi dan kuantitas intensitas difraksi pada sudut-sudut difraksi 2
dari suatu bahan. Tujuan dilakukannya pengujian analisis struktur kristal adalah untuk mengetahui
perubahan fasa struktur bahan dan mengetahui fasa apa saja yang terbentuk selama proses pembuatan sampel uji.
Gambar 2.6 Pola Difraksi sinar X Difraksi sinar-x digunakan untuk mengidentifikasi struktur kristal suatu
padatan dengan membandingkan nilai jarak d bidang kristal dan intensitas puncak difraksi dengan data standar. Melalui analisis XRD diketahui dimensi
kisi d = jarak antar bidang dalam struktur mineral. Sehingga dapat ditentukan apakah suatu material mempunyai kerapatan yang tinggi atau tidak [ Sholihah
Zainuri, 2012].
2.8.4 Vibrating Sample Magnetometer VSM
Semua bahan mempunyai momen magnetik jika ditempatkan dalam medan magnetik. Momen magnetik per satuan volume dikenal sebagai magnetisasi.
VSM merupakan salah satu jenis peralatan yang digunakan untuk mempelajari sifat magnetik bahan. Dengan alat ini akan dapat diperoleh informasi mengenai
besaran-besaran sifat magnetik sebagai akibat perubahan medan magnet luar yang digambarkan dalam kurva histerisis, sifat magnetik bahan sebagai akibat
perubahan susu, dan sifat-sifat magnetik sebagai fungsi sudut pengukuran atau kondisi anisotropik bahan.
Secara umum ketelitian hasil pengukuran dipengaruhi oleh bentuk dan ukuran cuplikan, serta parameter pengukuran. Koreksi data berkaitan dengan
bentuk dan ukuran cuplikan sekecil mungkin, dibandingkan dengan dimensi
Universitas Sumatera Utara
kumparan untuk memenuhi pendekatan dipol yang digunakan pada asumsi prinsip kerja alat ini. Selain itu bentuknya juga seidentik mungkin dengan
cuplikan standar yang digunakan, untuk pengukuran histerisis M terhadap H, data yang terukur adalah data magnetisasi sebagai fungsi medan magnet luar
yang diberikan. Pada proses pengukuran bahan magnet permanen, akan timbul medan internal yang berlawanan dengan arah magnetisasi. Medan ini dikenal
sebagai medan demagnetisasi. Besar medan ini akan bergantung pada bentukdimensi cuplikan serta medan luar yang diberikan. Untuk itu data yang
diperoleh harus dikoreksi dengan medan demagnetisasi ini sehingga diperoleh medan efektif yang sebenarnya [Mujamilah dkk, 2012].
2.8.5 X-ray Fluoresence XRF
Kategori