18
Tabel 2.4. Tabel perbedaan serbuk paduan dan berlapis
2.7. XRD
XRD merupakan suatu teknik karakterisasi nonkontak dan non desktruktif yang sangat presisi untuk mengidentifikasi fasa kristalin yang terdapat dalam
suatu material. XRD juga dapat digunakan untuk menginvestigasi structural dari suatu material seperti strain state, ukuran kristal, komposisi fasa, orientasi dan
struktur defek. XRD memberikan akurasi yang tidak tertandingi untuk mengukur spasi atom dan puncak hasil XRD dapat digunakan untuk analisa kuantitatif yang
akurat akan susunan atom suatu material.
2.7.1. Prinsip XRD
Siar X adalah bentuk radiasi dari radiasi gelombang electromagnet, dihasilkan dari benda yang ditumbuk oleh electron. Panjang gelombang sinar X
dari 10
10
sampai 10
-8
m,dan hanya 0,3 Å – 2,5 Å yang digunakan untuk difraksi sinar X. sinar X memiliki daya penetrasi yang besar sehingga sinar X dapat
dipakai untuk mengetahui periodisitas kristal.
Serbuk Paduan Serbuk Berlapis
Lebih mudah dibuuat Dapat dilapisi unsur tertentu
Tekanan lebih rendah Setiap partikel tersalut dengan rata
Sifat yang dihasilkan sama dengan paduannya
Mengadopsi karakteristik tertentu dari bahan pelapisnya
Komposisi paduan tinggi Lapisan serbuknya jauh lebih homogen
Menghasilkan karakteristik
yang diinginkan
19
Apabila sebuah gelombang sinar X ditembakkan pada material kristalin , maka fenomena yang dapat teramati adalah difraksi dari sinar X dengan sudut
bervariasi tergantung pada gelombang pertama. Hukum yang digunakan pada sinar X adalah hukum bragg, yaitu:
n λ = 2 d sin θ
pada gambar diatas terlihat fenomena dari difraksi sinar X. secara eksperimen hukum bragg dapat diamati melalui dua cara yaitu dengan metode
analisa struktur dan metode X ray spectroscopy. Pada metode analisa struktur kita menggunakan panjang gelombang λ tertentu dan mengukur θ sehingga kita
dapat meghitung nilai panjang kisi d, sedangkan pada metode X ray spectroscopy panjang kisi d sudah diketahui dan kemudain mengukur θ lalu
kita akan mengetahui nilai panjang gelombang λ.
2.7.2. Difraktometer
Alat yang digunakan untuk menganalisa struktur kristal material dinamakan difraktometer yang terjadi pada tabung Coolidge.
Gambar 2.3. Diagram refleksi sinar-x pada bidang kisi
20
Gambar 2.4. proses pembentukan sinar x pada tabung Coolidge.
Sebuah tabung sinar X memiliki dua elektroda, sebuah anoda material target yang dipertahankan pada potensial netral ground, dan sebuah katoda
dipertahankan pada tegangan potensial negative yang tinggi, biasanya pada rentan 30.000 sampai 50.000 volt agar dapat mendifraksi. Tabung sinar X terbagi atas
dua tipe berdasarkan pada jenis suplai electron pada tabung tersebut., yaitu: a. Tabung gas gas tube, electron pada tabung ini dihasilkan dari ionisasi
sejumlah kecil gas udara residu dari tabung yang terevakuasi.Tabung ini merupakan tabung sinar X yang pertama yang diguakan oleh Roentgen. Tipe
tabung jenis ini sudah tidak terpakai lagi. b. Tabung Filamen filament tube, tabung ini ditemukan oleh Coolidge pada
tahun 1913. tabung ini terdiri dari tabung gelas yang divakum, pada satu bagian terdapat anoda dan bagian lain terdapat katoda. Untuk katoda terdapat
tungsten, dan untuk anoda sebagai material target digunakan blok tembaga yang didinginkan oleh air.
21
Pada dasarnya sebuah alat difraktometer dirancang dengan penggunaan detector penghitung counter yang dapat digerakkan. Pada istrumen tersebut
yang terpenting adalah digunakan radiasi sinar monokromatik dan menggunakan detektor sinar X film atau counter yang diletakkan
disekeliling lingkaran dan serbuk specimen sebagai pusat lingkaran tersebut.
2.8. Mechanical Activation Aktivasi Mekanis
Kategori