adalah tabung x-ray sebagai sumber biasanya menggunakan sumber CuK
atau CoK , direct beam slit, wadah sampel, dan detektor.
Gambar 5 Perangkat difraktrometer.
23
2.6
Scanning Electron Microscopy SEM
Scanning electron
microscopy SEM adalah salah satu jenis mikroskop
elektron yang menggunakan berkas elektron untuk menggambar profil
permukaan benda. Prinsip kerja SEM adalah menembakkan permukaan benda
dengan berkas elektron berenergi tinggi. Elektron ini dihasikan oleh sebuah
sumber yang disebut electron gun, disejajarkan oleh anoda dan magnetic lens
dan difokuskan scanning coil dan detektor. Perangkat mikroskop dapat
dilihat pada Gambar 6. Permukaan benda yang dikenai berkas akan memantulkan
kembali
berkas tersebut
atau menghasilkan elektron sekunder ke segala
arah. Dari hasil pantulan tersebut ada satu arah dengan intensitas paling tinggi. Pada
saat dilakukan pengamatan, lokasi permukaan benda yang ditembak dengan
berkas elektron di-scan ke seluruh area daerah pengamatan.
24
Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya akan
diperkuat sinyalnya. Besarnya amplitudo akan ditampilkan dalam gradasi gelap-
terang pada layar monitor cathode ray tube
CRT. Layar CRT ini juga berperan dalam menampilkan gambar struktur
sampel yang sudah diperbesar sehingga bisa dilihat. Hasil karakterisasi SEM
menunjukkan morfologi dari sampel uji seperti pada Gambar 3.
Gambar 6 Skema Prinsip Kerja SEM.
25
BAB III METODE PENELITIAN
3.1 Tempat dan Waktu Penelitian
Penelitian dilakukan di Laboratorium Biofisika Departemen Fisika, Fakultas
Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam, Institut
Pertanian Bogor
dan Laboratorium Fakultas Kedokteran Gigi
FKG Universitas Indonesia sejak bulan Juli 2010 sampai dengan bulan Mei 2011.
3.2 Bahan dan Alat 3.2.1
Bahan
Bahan yang
digunakan dikelompokan menjadi dua. Pertama
bahan untuk sintesis BCP dan ACP yaitu kalsium oksida CaO dari cangkang telur
ayam, pro-analis diamonium hidrofosfat NH
4 2
HPO
4
, dan aquabides. Kedua bahan yang digunakan dalam uji
sitotoksisitas dan preparasi SEM adalah cell line NHDF fibroblas, medium kultur:
adalah tabung x-ray sebagai sumber biasanya menggunakan sumber CuK
atau CoK , direct beam slit, wadah sampel, dan detektor.
Gambar 5 Perangkat difraktrometer.
23
2.6
Scanning Electron Microscopy SEM
Scanning electron
microscopy SEM adalah salah satu jenis mikroskop
elektron yang menggunakan berkas elektron untuk menggambar profil
permukaan benda. Prinsip kerja SEM adalah menembakkan permukaan benda
dengan berkas elektron berenergi tinggi. Elektron ini dihasikan oleh sebuah
sumber yang disebut electron gun, disejajarkan oleh anoda dan magnetic lens
dan difokuskan scanning coil dan detektor. Perangkat mikroskop dapat
dilihat pada Gambar 6. Permukaan benda yang dikenai berkas akan memantulkan
kembali
berkas tersebut
atau menghasilkan elektron sekunder ke segala
arah. Dari hasil pantulan tersebut ada satu arah dengan intensitas paling tinggi. Pada
saat dilakukan pengamatan, lokasi permukaan benda yang ditembak dengan
berkas elektron di-scan ke seluruh area daerah pengamatan.
24
Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya akan
diperkuat sinyalnya. Besarnya amplitudo akan ditampilkan dalam gradasi gelap-
terang pada layar monitor cathode ray tube
CRT. Layar CRT ini juga berperan dalam menampilkan gambar struktur
sampel yang sudah diperbesar sehingga bisa dilihat. Hasil karakterisasi SEM
menunjukkan morfologi dari sampel uji seperti pada Gambar 3.
Gambar 6 Skema Prinsip Kerja SEM.
25
BAB III METODE PENELITIAN
