Metode XRD bedasarkan sifat difraksi sinar-X, yaitu hamburan cahaya dengan panjang gelombang λ saat melewati kisi kristal dengan sudut θ dan jarak
antara kristal sebesar d Callister, 2003. Berkas sinar pantul akan saling berinterferensi pada detektor dan terjadi
interferensi konstruktif hanya jika perbedaan lintasan antara sinar 1 dan sinar 2 sama dengan bulat dari panjang gelombang.
n λ = 2 d sin θ 2.3
Dengan: n = orde difraksi n = 1, 2,3,…
λ = panjang gelombang sinar-X λ = 1,54056 d = jarak antar bidang kristal
θ = sudut difraksi
Persamaan ini disebut sebagi hukum Bragg. Pantulan Bragg hanya terjadi untuk gelombang dengan λ 2d, dan itulah sebabnya cahaya tampak tidak dapat
digunakan dalam hal ini. Sudut θ yang ditentukan berdasarkan persamaan 2.3, untuk jarak antar bidang d dan λ tertentu merupakan sudut unik terjadinya
pantulan. Pada sudut yang lain, berkas sinar pantulan akan saling berinterferensi dekstruktif satu sama lain, sehingga pantulan efektifnya nol. Istilah difraksi lebih
banyak dipakai dalam hal ini dari pada pantulan, sehingga sebutan lainnya ”difraksi sinar-X”Cullity, 1978.
2.9 Metode Hanawalt JCPDS
Pola difraksi dari suatu bahan kristal adalah khas dan unik sehingga tak ada dua fase kristal yang mempunyai pola difraksi yang sama. Sifat inilah dimanfaatkan
untuk kegunaan analisis kualitatif. Analisis kuantitatif dengan metode sinar-X, pada prinsipnya adalah bahwa pola difraksi suatu bahn merupakan “sidik jari”.
Setiap pola serbuk, dicirikan dengan sekumpu lan posisi sudut difraksi 2θ dan
intensitas relatif I .
Dari hukum Bragg kita ketahui bahwa posisi sudut difraksi tergantung pada gelombang sinar-X yang digunakan, sehingga jarak antar bidang atom d
Universitas Sumatera Utara
merupakan suatu besaran yang penting. Karena Hanawalt menyatakan setiap pola suatu bahan terdiri dari besaran d dan I
. Pada tabel 2.2 ditunjukkan model bentuk kartu Hanawalt JCPDS beserta
keterangan data bahan.
Tabel 2.2 Salah satu contoh kartu Hanawalt JCPDS dari bahan Ta
2
O
5
Pada Tabel 2.2 Nomor-nomor yang terdapat pada kartu Hanawalt tersebut berisikan data seperti yang ditujukan berikut ini:
1. Nomor kode kartu 2. Data fisik bahan
3. Data kristalografi seperti jenis sistem kristal, struktur kristal, dan harga parameternya
4. Kondisi percobaan seperti radiasi yang digunakan, filter yang dipakai dan lain-lainnya
5. Rumus kimia, nama kimia, dan nama sebutan 6. Daftar harga d atau 2θ, intensitas relatifnya dan indeks Miller
Pada sudut atas data kartu data, dituliskan symbol yang mengandung arti: = Untuk data yang mempunyai nilai kepercayaan yang besar
o = Untuk data kurang dapat dipercaya
Universitas Sumatera Utara
2.10 LCR meter
LCR meter adalah impedansi meter dimana digunakan panel sentuh sebagai bahan penghubung. LCR meter digunakan untuk mengukur besar induktansi,
kapasitansi, dan resistansi. Panel interakif sangat mudah untuk di operasikan. Pengujian frekuensi bisa di set DC dan dari MHz sampai 100 kHz pada resolusi
tinggi. Nilai maksimum 4 buah dari 14 tes parameter termasuk didalamnya, tidak hanya impedansi Z, sudut fase
θ, tetapi juga L, C, R, dan sebagainya. Keempat parameter dapat serentak tampil pada layar monitor.
2.11 BET Brunauer-Emmet-Teller
