2.7 Kuat Tarik Kertas Tensile Strength
Kekuatan tarik didefenisikan sebagai ketahanan suatu bahan terhadap deformasi plastis atau ketahanan suatu bahan sampai terjadi deformasi plastis. Ini
berbeda dengan keuletan, dimana keuletan merupakan ketahanan suatu bahan terhadap menahan deformasi plastis sampai terjadi patahan.
Untuk pengujian tarik, pengukuran dilaksanakan berdasarkan tegangan yang diperlukan untuk menarik benda uji standar dengan penambahan tegangan konstan.
Regangan dari benda uji diukur dengan ekstensometer. Hasil pengukuran dari pengujian kekuatan tarik berasal dari tegangan yang mengakibatkan regangan. Kuat
tarik maksimum dapat dihitung dengan menggunakan rumus dibawah ini:
A F
= j
m
2.1 Dimana :
j = kuat tarik maksimum B Nm
2
F
m
= gaya maksimum N A
= luas penampang bahan mula-mula m
2
Ukuran bahan sampel yang diuji adalah ukuran bahan yang sesuai dengan standar pengujian, dalam hal ini yang dipakai adalah standar pengujian SNI 14 –
4737 – 1998.
Dormian Saragi: Pembuatan Dan Karakterisasi Kertas Pembungkus Yang Dibuat Dari Kantong Semen Bekas Dengan Pulp Jerami, 2008.
USU e-Repository © 2008
2.8 Kuat Sobek Tearing Strength
Ketahanan sobek adalah gaya dalam gram gr atau mil yang diperlukan untuk menyobekkan kertas pada keadaan standar. Faktor sobek adalah jumlah desimeter
persegi lembaran kertas yang beratnya dapat menyobekkan kertas tersebut. Faktor sobek dapat dihitung dari ketahanan sobek dalam gram gaya dibagi dalam gramatur
dikalikan seratus. Indeks sobek adalah ketahanan sobek kertas dalam milli Newton dibagi dengan gramatur kertas.
2.9 Scanning Electron Microscope SEM
SEM merupakan peralatan standar untuk menentukan struktur mikro dan analisis kimia. SEM memberikan resolusi serta kedalaman medan depth of field
yang lebih baik dibandingkan dengan mikropkop optik Energi eksitasi pada SEM melibatkan emisi sinar-X maka dimungkinkan proses analisa komposisi unsur serta
analisis distribusi unsur pemetaan. SEM mempunyai perbesaran 200.000 kali untuk mengamati ketebalan dari 200
sampai 0,5 µm. Prinsip pemeriksaan sampel dengan SEM diperlihatkan pada Gambar 2.2 .
o
A
Dormian Saragi: Pembuatan Dan Karakterisasi Kertas Pembungkus Yang Dibuat Dari Kantong Semen Bekas Dengan Pulp Jerami, 2008.
USU e-Repository © 2008
Gambar 2.2 Peralatan Scanning Electron Microscope SEM Berkas elektron yang dihasilkan dari pemanasan filament pada Wehnelt bagian
atas SEM, yang kemudian dipercepat dengan tegangan tinggi. Selanjutnya berkas elektron difokuskan serta diarahkan secara elektromagnetis menuju sampel.
Saat berkas elektron mengenai sampel, maka akan dipancarkan kembali elektron jenis yang terhambur balik back scaterred electron, BSE ataupun jenis
elektron sekunder Secondary Elektron, SE. Secondary elektron memberikan informasi tentang fotografisampel sedangkan back scaterred elektron
memperlihatkan variasi nomor atom. Detektor mengumpulkan elektron, mengubah menjadi sinyal serta mengirim ke layar sebagai suatu citra tiga dimensi. Besar
kecilnya efek tiga dimensi tergantung pada besar kecilnya perbesaran magnifikasi. Makin kecil magnifikasi makin besar efek tiga dimensinya.
Dormian Saragi: Pembuatan Dan Karakterisasi Kertas Pembungkus Yang Dibuat Dari Kantong Semen Bekas Dengan Pulp Jerami, 2008.
USU e-Repository © 2008
2.10 Spektrofotometri Serapan Atom SSA
Kategori