Scanning Electron Microscope S E M

lebih sedikit bila dibandingkan dengan bahan pengikat hidrokarbon. Kerugian dari penggunaan bahan pengikat jenis ini adalah briket yang dihasilkan kurang tahan terhadap kelembaban dan daya tahan terhadap kelembaban ini dapat diperbaiki dengan menambahkan sedikit coaltar. 3. Bahan pengikat hidrokarbon dengan berat molekul besar Bahan pengikat yang termasuk dalam jenis ini adalah coaltar, pitch, asphalat dan lain sebagainya, bahan pengikat jenis ini sering kali dipergunakan sebagai bahan pengikat untuk pembuatan briket arang atau pun briket batubara yang digunakan untuk bahan bakar untuk tungku tungku pembakaran dan keuntungan dari jenis ini antara lain adalah: a. Naiknya nilai kalor calorific value dari briket arang dan briket batubara. b. Briket arang dan briket batubara yang dihasilkan dapat mengeras dalam waktu yang singkat. Karena sifatnya yang terlalu kental viaucrus maka diperlukan carier bagi bahan pengikat ini agar dapat membasahi seluruh permukaan partikel-partikel arang atau batubara pada waktu pencampuran dan untuk maksud ini sering dipergunakan air atau pun uap basah wet steam sebagai carier.

2.4 Scanning Electron Microscope S E M

Struktur permukaan suatu benda uji dapat dipelajari dengan menggunakan Scanning Electron Microscope, karena jauh lebih mudah untuk mempelajari struktur permukaan itu secara langsung. Dengan berkas sinar elektron yang difokuskan ke suatu titik dengan diameter sekitar 100 Angstrom dan digunakan untuk melihat permukaan dalam suatu layar, elektron-elektron dari benda uji difokuskan dengan suatu elektroda elektrostatik pada suatu alat pemantul yang dimiringkan. Sinar yang dihasilkan diteruskan melalui suatu pipa sinar pantulan ke suatu alat pembesar foto dan sinyal yang dapat digunakan untuk memodulasi terangnya suatu titik osiloskop yang melalui suatu layar dengan adanya persesuaian dengan berkas sinar elektron pada permukaan benda uji gambar 2-3. Universitas Sumatera Utara Gambar yang diperoleh pada layar osiloskop sama dengan gambaran optik dan biasanya benda uji digeser ke arah kolektor pada sudut kecil 30 terhadap horizontal untuk alat yang umum dipakai. Sebagai pengertian awal, Scanning Electron Microscope menggunakan hamburan balik elektron-elektron dengan E = 30 kV yang merupakan energi datang dan elektron-elektron sekunder dengan E = 100 eV yang dipantulkan dari benda uji, dapat dilihat pada Gambar 2-3. Gambar 2-3 ; Pemencaran elektron yang datang oleh lempengan tipis dengan spesimen yang bulk ditransmisikan, berkas yang dipencarkan secara elastik dan inelastik diserap R.E.Smallman, 1999 Karena elektron-elektron sekunder mempunyai energi yang rendah, maka elektron- elektron tersebut dapat dibelokkan membentuk sudut dan menimbulkan bayangan topografi. Intensitas dari hamburan balik elektron-elektron sebanding dengan jumlah atom tetapi berbeda dari elektron-elektron yang cenderung tertimbun karena dengan energinya yang lebih tinggi maka tidak mudah untuk dikumpulkan oleh sistem kolektor normal seperti yang digunakan pada elektron mikroskop payaran American Society for Testing and Material,1981. Universitas Sumatera Utara

2.5. Kalorimeter Bomb