= Massa sampel setelah dikeringkan di oven g = Massa sampel setelah direndam 24 jamdirebus 1 jam g
M
g
= Massa sampel basah ditimbang dalam air g
2.4.2. Sifat Mikrostruktur
1. XRD Difraksi sinar-X merupakan suatu alat yang sangat berguna dalam analisis struktur kristal
suatu material. Keunggulan yang dimiliki dalam teknik ini adalah instrumennya modern dan secara otomatis dapat diperoleh data yang cepat dan tepat. B.D. Cullity, 1978
Sinar-X diproduksi dengan cara penembakan target logam anoda dengan elektron energi tinggi dari sebuah filamen yang dipanaskan dalam tabung Rontgen sinar-X seperti yang
terlihat pada gambar 4. Radiasi yang biasanya dihasilkan muncul dari jendela tipis yang terbuat dari material berilium dan terdiri dari sebuah radiasi kontinu dengan pita yang lebar atau radiasi
putih yang dihasilkan oleh elektron dari filamen yang mengkonversikan energi kinetiknya pada sinar-X pada saat menumbuk atom target anoda dan sejumlah garis-garis diskrit dengan
intensitas bervariasi yang disebut karakteristik radiasi yang merepretasikan pelepasan energi dengan penyusun kembali orbit elektron dari atom target anoda yang diikuti penolakan satu atau
lebih elektron pada saat eksitasi.
Gambar 2.3 . Penampang tabung Rongen sinar-X B.D. Cullity, 1978
Universitas Sumatera Utara
Gambar 2.4. Spektrum dari atom target anoda Cu tabung sinar-X B.D. Cullity, 1978
Gambar 5. menunjukkan skema geometri salah satu jenis difraktometer. Pertama sinar-X dilewatkan pada kolimator untuk menghasilkan berkas paralel, jumlah divergensinya dikontrol
oleh ukuran celah divergensi yaitu celah divergensi besar 4 untuk sudut kerja tinggi sampai
celah divergensi kecil 112 untuk sudut kerja rendah. Berkas divergen kemudian diarahkan
pada sampel bergerak secara rotasi dengan kelajuatn tetap dalam derajat per menit. Bila bidang- bidang mineral dalam sampel mencapai sudut yang sesuai, maka sinar-X akan didifraksikan
berdasarkan pada hukum Bragg berikut: 2-4
Dimana n adalah bilangan integer, adalah panjang gelombang sinar-X, d adalah spasi kisi dalam angstrom, dan adalah sudut difraksi. Berkas terdifraksi kemudian melewati celah
penerima dan kolimator dan kemudian celah penghambur untuk mengurangi sinar-X terhambur sebelum akhirnya masukj ke detektor. Sinyal yang dihasilkan oleh foton sinar-X pada detektor,
pertama-tama diperkuat dan kemudian direkam oleh peralatan elektronik untuk kemudian ditampilkan di layar.
Universitas Sumatera Utara
Gambar 2.5. Skema geometri difraktometer B.D. Cullity, 1978
2.4.3. Sifat Absorbsi terhadap Gelombang Mikro
