dari bahan dasar. Hal ini menunjukkan kandungan kontaminan pada PbO sangat rendah. Kesesuaian dengan bahan dasar yang digunakan dengan kemurnian yang
cukup tinggi, sebesar 99. Tinggi puncak pada pola difraksi eksperimen dengan pola difraksi COD berbeda, karena perlakuan yang diberikan pada sampel pun
berbeda.
4.1.2. Pola Difraksi Sinar-X pada Bahan Dasar ZrO
2
Gambar 4.2 .Hubungan antara 2θ dengan Intensitas pada ZrO
2
Berdasarkan pola difraksi yang didapat dari hasil XRD, pengidentifikasian bahan ZrO
2
antara intensitas I dengan 2 kali sudut difraksi 2θ diwakili oleh tiga puncak tertinggi pada Gambar 4.2, yaitu 28,24
o
, 31,56
o
, dan 50,18
o
. Ketiga puncak tertinggi dari eksperimen dicocokkan dengan tabel COD Lampiran 3,
yaitu nomor 230-0297. Perbedaan persentase pergeseran puncak difraksi ZrO
2
dari hasil eksperimen dengan puncak difraksi pada COD adalah 0,24 Lampiran 4. Pergeseran puncak ini menunjukkan bahwa bahan dasar yang telah
diidentifikasi memiliki sistem kristal yang sama. Puncak-
puncak eksperimen 2θ = 10
o
– 80
o
pada Gambar 4.2 menunjukkan hampir seluruh puncak teridentifikasi dengan puncak difraksi dari COD
2θ = 17,44
o
– 75,09
o
. Adapun parameter kisi dari bahan ZrO
2
adalah a = 5,1477 Å, b = 5,2096 Å, c = 5,
3164 Å dengan struktur kristal monoklinik α = = 90
o
, = 99,215
o
. Bentuk struktur kristal monoklinik dari ZrO
2
ini sangat berpengaruh terhadap proses sintesa PZT lainnya.
-10 90
190 290
390
10 30
50 70
In te
n sitas [C
ou n
ts]
2θ [
o
] Exp
COD Monoklinik
Universitas Sumatera Utara
Puncak-puncak asing pada bahan ZrO
2
tidak ada, sehingga dipastikan tidak terdapat pengotor dalam bahan dasar tersebut. Pada Gambar 4.2 terlihat perbedaan
antara tinggi puncak-puncak intensitas dari hasil eksperimen dengan puncak- puncak COD. Hal ini menunjukkan perlakuan pada sampel berbeda, misalnya
tinggi puncak intensitas bahan berbentuk serbuk berbeda dengan bahan berbentuk pelet. Kesesuaian dengan bahan dasar yang digunakan dengan kemurnian yang
cukup tinggi, sebesar 99,9 .
4.1.3. Pola Difraksi Sinar-X pada Bahan Dasar TiO
2
Gambar 4.3 .Hubungan antara 2θ dengan Intensitas pada TiO
2
Hasil eksperimen yang diperoleh dari data XRD, antara intensitas I dengan 2 kali sudut difraksinya 2θ. Pengidentifikasian bahan TiO
2
diwakili oleh tiga puncak tertinggi, sebagaimana yang dipersyaratkan oleh metode Hanawalt,
terlihatpada Gambar 4.3, yaitu 25,4
o
, 48,1
o
, dan 37,86
o
. Ketiga puncak tertinggi dari eksperimen dicocokkan dengan tabel COD Lampiran 3, yaitu nomor 900-
9087. Perbedaan persentase pergeseran puncak difraksi TiO
2
hasil eksperimen dengan puncak difraksi pada COD adalah 0,23 Lampiran 4. Hal ini
menunjukkan bahwa bahan dasar yang telah diidentifikasi memiliki sistem kristal yang sama.
Pada Gambar 4.3 menunjukkan hampir seluruh puncak-puncak eksperimen 2θ = 10
o
–80
o
teridentifikasi dengan puncak dari COD 2θ = 25,30
o
– 75,05
o
. Adapun parameter kisi dari bahan TiO
2
adalah a = 3,7850 Å, c = 9,5140 Å dengan
-20 180
380 580
10 20
30 40
50 60
70 80
In te
n sitas [C
ou n
ts]
2θ [
o
] Exp
COD
X X
Tetragonal
Universitas Sumatera Utara
struktur kristal tetragonal α = = = 90
o
. Bentuk struktur kristal tetragonal dari TiO
2
ini sangat berpengaruh terhadap proses sintesa PZT lainnya. Beberapa puncak-puncak asing yang terdeteksi ditandai dengan tanda X
dimungkinkan adanya kontaminan pengotor saat preparasi sampel atau kesalahan pada saat karakterisasi menggunakan XRD. Puncak asing tersebut
terdapat pada sudut 27,48
o
dan 50,9
o
. Kedua puncak tersebut tidak dimiliki sebagai puncak dominan dari bahan dasar lainnya, sehingga dipastikan tidak
terdapat pengotor. Intensitas tertinggi dari puncak kontaminan rendah sekali. Hal ini menunjukkan kandungan pengotorkontaminan sangat rendah. Kesesuaian
dengan bahan dasar yang digunakan dengan kemurnian yang cukuptinggi, sebesar 99.
4.2. Sintesa PZT 4.2.1. Pola Difraksi Hasil Sintesa PZT
