Kiki Angreini Siagian : Pemanfaatan Limbah Plastik Polietilena PE Sebagai Matriks Komposit Dengan Bahan Penguat Serat Kaca, 2010.
Analisis infra merah memberikan informasi tentang kandungan aditif, panjang rantai, struktur polimer. Di samping itu analisis mengenai bahan polimer yang
terdegradasi oksidatif dengan munculnya gugus karbonil dan pembentukan ikatan rangkap rantai polimer. Gugus lain yang menunjukkan terjadinya degradasi oksidatif
adalah gugus karbonil dan karboksilat. Umumnya pita serapan polimer pada spektrum infra merah adalah adanya ikatan C-H regangan pada daerah 2880 cm
-1
sd 2900 cm
-1
dan regangan dari gugus lain yang mendukung suatu analisa mineral Hummel, D.O.,
1985.
2.6. Analisis Termal Differansial DTA
Analisis termal deferensial atau lebih dikenal dengan istilah DTA merupakan salah satu metode yang dilakukan untuk mengetahui kekuatan dan sifat termal suatu bahan
polimer. Metode analisis ini merupakan salah satu cara untuk mengetahui perbedaan temperatur lebur antara sampel dan senyawa pembanding, baik perbandingan itu
dilakukan terhadap waktu ataupun terhadap temperatur. Perubahan daripada temperatur
∆T dihitung dengan menggunakan persamaan sebagai berikut Rabek,
J.F., and B. Ranlay, 1975.
ruhskala Jumlahselu
geDTA TxTotalran
a jumlahskal
T ∆
= ∆
Analisis termal deferensial adalah metode yang digunakan untuk memeriksa pengaruh termal meliputi perubahan sifat fisika dan kimia dalam suatu sampel dimana
temperaturnya divariasikan sampai terjadi transisi atau reaksi. Hal ini dilengkapi batasan-batasan proses pemanasan ataupun pendinginan
Cheremisinoff, N.P.,1990.
Dengan analisis termal diferensial, sampel dan referensi keduanya dipanaskan oleh sumber pemanasan yang sama, dan dicatat perbedaan temperatur
∆T antara keduanya. Ketika terjadi suatu transisi dalam suatu sampel tersebut, misalnya, transisi
Kiki Angreini Siagian : Pemanfaatan Limbah Plastik Polietilena PE Sebagai Matriks Komposit Dengan Bahan Penguat Serat Kaca, 2010.
gelas atau ikat silang, temperatur sampel akan tertinggal di belakang temperatur referensi jika transisi tersebut endotermik, dan akan mendahului jika transisi tersebut
eksotermik Stevens, M.P., 2001.
2.7. Skanning Elektron Mikroskopi SEM
Skanning Elektron Mikroskopi SEM merupakan alat yang dapat membentuk bayangan permukaan. Struktur permukaan suatu benda uji dapat dipelajari dengan
mikroskop elektron pancaran karena jauh lebih mudah untuk mempelajari struktur permukaan itu secara langsung.
Pada dasarnya SEM menggunakan sinyal yang dihasilkan elektron untuk dipantulkan atau berkas sinar elektron sekunder. SEM menggunakan prinsip scanning
dengan prinsip utamanya adalah berkas elektron diarahkan pada titik-titik permukaan spesimen. Gerakan elektron diarahkan dari satu titik ke titik lain pada permukaan
spesimen.
Jika seberkas sinar elektron ditembakkan pada permukaan spsimen maka sebagian dari elektron itu akan dipantulkan kembali dan sebagian lagi diteruskan. Jika
permukaan spesimen tidak rata, banyak lekukan, lipatan atau lubang-lubang maka tiap bagian permukaan itu akan memantulkan elektron dengan jumlah dan arah yang
berbeda dan jika ditangkap detektor akan diteruskan ke sistem layer dan akan diperoleh gambaran yang jelas dari permukaan spesimen dalam bentuk tiga dimensi
Nur, 1997.
Kiki Angreini Siagian : Pemanfaatan Limbah Plastik Polietilena PE Sebagai Matriks Komposit Dengan Bahan Penguat Serat Kaca, 2010.
BAB III
BAHAN DAN METODE PENELITIAN
3.1. Bahan-bahan penelitian
