sekitar 160 mm di dalam tabung mikroskop sehingga menciptakan perbesaran sebuah gambar dari subjek. Gambar yang dihasilkan terbalik dan dapat dilihat
dengan menghapus lensa okuler dan menempatkan secarik kertas kalkir di ujung tabung.
Di kebanyakan mikroskop, lensa okuler merupakan lensa majemuk, dengan satu lensa komponen di dekat bagian depan dan satu di dekat bagian belakang
tabung lensa okuler. Dalam beberapa desain, gambar virtual menuju ke sebuah fokus antara dua lensa okuler. Lensa pertama membawa gambar nyata dan lensa
kedua memungkinkan matauntuk fokus pada gambar virtual.Untuk pengujian mikroskop optik ini diperlukan permukaan spesimen yang rata dan halus Kahn,
2002.
2.9.3 Uji Scanning Electron Microscope SEM
Mikroskop adalah alat optik yang dapat digunakan untuk mengamati benda ukuran kecil mikro. Secara garis besar mikroskop elektron dapat dibagi menjadi dua
bagian yaitu Tranmision Electron Microscope TEM dan Scanning Electron Microscope SEM.Scanning Electron Microscope SEM adalah sebuah
mikroskop elektron yang didesain untuk mengamati permukaan objek solid secara langsung. SEM memiliki perbesaran 10 – 3.000.000 kali, depth of field 4 – 0.4 mm
dan resolusi sebesar 1 – 10 nm. Kombinasi dari perbesaran yang tinggi, depth of field yang besar, resolusi yang baik, kemampuan untuk mengetahui komposisi dan
informasi kristalografi membuat SEM banyak digunakan untuk keperluan penelitian dan industri Prasetyo, 2011.
SEM mempunyai prinsip kerja bahwa suatu berkas insiden elektron yang sangat halus di-scan menyilangi permukaan sampel dalam sinkronisasi dengan
berkas tersebut dalam tabunng sinar katoda. Elektron-elektron yang terhambur digunakan untuk memperoduksi suatu citra dengan kedalaman medan yang besar
dan penampakan yang hampir tiga dimensi. Dalam penelitian morfologi permukaan SEM terbatas pemakainnya, tetapi memberikan informasi yang bermanfaat
mengenai topologi permukaan dengan resolusi skitar 100 Å.
Universitas Sumatera Utara
SEM memiliki tiga komponen pokok yaitu kolom elektron, ruang sampel, sistem pompa vakum, kontrol elektron dan sistem lensa magnetik.Di dalam kolom
elektron terdapat penembak elektron yang terdiri dari katoda dan anoda.Elektron yang terlepas dari katoda bergerak ke arah anoda yang dalam perjalananya berkas
elektron ini dipengaruhi oleh lensa magnetik hingga didapatkan berkas elektron yang terfokus ke arah sampel. Saat elektron menumbuk sampel, akan terjadi
beberapa fenomena yaitu terbentuknya dua jenis hamburan scattering, sinar X dan foton.
Pada SEM digunakan berkas elektron yang dibangkitkan dari filamen, lalu diarahkan pada sampel.Untuk elektron yang energinya dibawah 50kV berinteraksi
langsung dengan elektron pada atom sampel dipermukaan.Akibatnya elektron – elektron yang ada di kulit terluar atom permukaan sampel terlempar keluar dan oleh
detektor dikumpulkan dan dihasilkan gambar topografi permukaan sampel.
2.9.4 Uji ChargeDischarge
