Gambar 2.8 Pengaruh deformasi pada temperatur awal
rekristalisasi Wahid,1987.
2.7 Mikroskop Optik
Sebelum dilakukan pengamatan mikroskop optik, benda uji dilakukan pemolesan kemudian dietsa dengan bantuan larutan kimia yang sesuai dan dapat
emberikan gambaran ukuran butir, distribusi fasa, keteraturan dan
ketidakteraturan butir.
Mikroskop optik atau mikroskop cahaya terdiri dari tiga bagian pokok, yaitu :
a. Lensa pemantul illuminator, untuk memantulkan permukaan logam
b. Lensa objektif yang mempunyai daya pisah.
c. Lensa mata eyepiece, lensa okuler untuk memperbesar bayangan
yang terletak terbentuk oleh lensa objektif. Sebagaimana pada Gambar 2.9, berkas horizontal cahaya dari sumber
cahaya dipantulkan dengan memakai reflektor kemudian melalui lensa objektif
S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007.
USU e-Repository © 2008
dan diteruskan keatas permukaan benda uji. Beberapa cahaya dipantulkan dari permukaan benda uji akan diperbesar melalui lensa objektif, akan berlanjut ke atas
melalui bidang reflektor kembali dan akan diperbesar lagi oleh lensa okuler eyepiece.
Gambar 2.9 Skema mikroskop optik Vander,1984
Kekuatan pembesaran awal dari lensa objektif dan okuler biasanya digambarkan pada puncak lensa, dimana pada pucak lensa diletakkan kamera untuk
menggambarkan hasil pembesaran tersebut.
S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007.
USU e-Repository © 2008
2.8 X- Ray Difraction XRD
Sinar x merupakan gelombang elektromagnetik yang dapat digunakan untuk mengetahui struktur kristal dan fasa suatu material. Bila sinar x dengan
panjang gelombang λ diarahkan kesuatu permukaan kristal dengan sudut datang
sebesar θ, maka sebagian sinar akan dihamburkan oleh bidang atom dalam kristal.
Berkas sinar – x yang dihamburkan dalam arah-arah tertentu akan menghasilkan puncak-puncak difraksi yang dapat diamati dengan peralatan X-Ray Diffraction
Cullity 1978
Gambar 2.10 Peristiwa difraksi sinar –x Cullity 1978
Pada Gambar 2.10 diatas terlihat bahwa suatu sinar – x yang panjang gelombangnya
λ jatuh pada suatu permukaan material dengan sudut θ terhadap permukaan bidang Bragg yang jarak antaranya d. seberkas sinar mengenai atom A
pada bidang pertama dan atom B pada bidang berikutnya, dengan masing-masing atom menghambur sebagian berkas tersebut dalam arah rambang, interferensi
konstruktif hanya terjadi antara sinar yang terhambur sejajar dan beda jarak jalannya tepat
λ 2λ, 3λ dan seterusnya. Jadi beda jarak jalan harus nλ dengan n menyatakan bilangan bulat.
S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007.
USU e-Repository © 2008
Berkas sinar yang dihambur oleh A dan B yang memenuhi ialah yang bertanda I dan II. Dari Gambar 2.10 di atas diperoleh :
CB = BD = d sin θ
DB = d Sudut ACB = sudut ADB
Beda lintasan antara 1 dan 2 adalah : CB + BD = d sin
θ + d sin θ = 2d sin θ = nλ Menurut syarat terjadinya difraksi, beda lintasan merupakan kelipatan bilangan
bulat dari panjang, sehingga hal tersebut dirumuskan W. L. Brag Edgar,1939.
n λ = 2d sin θ
.........................……………………………………2-1
dengan n = orde difraksi n = bilangan bulat 1, 2,3… λ
= panjang gelombang sinar – X d = jarak antar bidang
Stuktur kristal dapat dilihat dengan analisa difraksi sinar – X. Setiap material yang diidentifikasikasi mempunyai nilai d yang berbeda dan harganya
tergantung pada posisi bidang kristal tersebut. Struktur kristal dan fasa dapat diketahui dengan cara membandingkan nilai d terukur dengan nilai d pada data
standar yang diperoleh melalui JCPDS Joint Of Committe Powder Difraction Standard atau Hanawalt Methode.
S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007.
USU e-Repository © 2008
2.9 Scanning Electron Microscope SEM