Scanning Electron Microscope SEM Diagram Alir Penelitian Bahan-Bahan Peralatan

2.9 Scanning Electron Microscope SEM

Scanning Electron Microscope SEM adalah mikroskop yang menggunakan berkas elektron sebagai sumber pencahayaannya, mempunyai daya pisah yang tinggi = 200 – 0.1 , sehingga dapat difokuskan kedalam titik spot yang sangat kecil. Dengan alat ini dapat dilakukan analisa struktur dan morfologi . Gambar 2.11 Skematik Scanning Electron Microscope SEMThong,1998 SEM memiliki pembesaran bervariasi mulai dari 500 kali sampai 10.000 kali pembesaran sehingga dapat menunjukkan bagian-bagian yang tidak terlihat ketika diuji dengan mikroskop optik. Elektron ditembakkan ke lintasan yang memiliki kevakuman yang tinggi. Molekul gas dalam hal ini gas nitrogen akan menangkap elektron sehingga elektron yang terhambur akan mengenai benda uji. S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007. USU e-Repository © 2008 BAB III METODOLOGI PENELITIAN

3.1 Diagram Alir Penelitian

Gambar 3.1 Diagram Alir Penelitian ANALISIS KOMPOSISI XRF,Spektrometer SAMPEL Fe Mn Tanpa Perlakuan Perlakuan panas 1050 C WQ Perlakuan panas kembali 500 C 30 menit 60 menit 550 C 30 menit 60 menit 600 C 30 menit 60 menit 500 C 30 menit 60 menit 550 C 30 menit 60 menit 600 C 30 menit 60 menit Pendinginan udara Pendinginan udara Pendinginan udara Pendinginan air g Pendinginan air Pendinginan air Observasi Metallographi , XRD ,SEM Ob i KESIMPULAN Data hasil Eksperimen, Diskusi S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007. USU e-Repository © 2008

3.2 Bahan-Bahan

1. Baja Mangan Hadfield AISI 3401 2 Larutan Alumina 3. Larutan Etsa HNO 3 + Ethanol 4. Alkohol 96 5. Kertas Pasir 100, 350, 600, 800, 1000, 1500, 2000 mesh 6. Kain Beludru 7. Air Aquades

3.3 Peralatan

1. Mesin potong sampel 2. Tungku pemanas Furnace Vectar VHT – 3 3. Optical Microscopy Epiplan Hdlenz, Carl Zeiss, 220 V – 60 Hz, 80 VA 4. Mesin Poles Polisher 5. Scanning Electron Microscopy 6. Penjepit sampel 7. Pengering Specimen dryer 8. XRD apparaturs

3.4 Prosedur Penelitian