2.9 Scanning Electron Microscope SEM
Scanning Electron Microscope SEM adalah mikroskop yang menggunakan berkas elektron sebagai sumber pencahayaannya, mempunyai daya
pisah yang tinggi = 200 – 0.1 , sehingga dapat difokuskan kedalam titik spot yang sangat kecil. Dengan alat ini dapat dilakukan analisa struktur dan
morfologi .
Gambar 2.11 Skematik Scanning Electron Microscope SEMThong,1998
SEM memiliki pembesaran bervariasi mulai dari 500 kali sampai 10.000 kali pembesaran sehingga dapat menunjukkan bagian-bagian yang tidak terlihat
ketika diuji dengan mikroskop optik. Elektron ditembakkan ke lintasan yang memiliki kevakuman yang tinggi. Molekul gas dalam hal ini gas nitrogen akan
menangkap elektron sehingga elektron yang terhambur akan mengenai benda uji.
S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007.
USU e-Repository © 2008
BAB III
METODOLOGI PENELITIAN
3.1 Diagram Alir Penelitian
Gambar 3.1 Diagram Alir Penelitian
ANALISIS KOMPOSISI
XRF,Spektrometer
SAMPEL Fe Mn
Tanpa Perlakuan Perlakuan panas
1050 C WQ
Perlakuan panas kembali
500 C
30 menit 60 menit
550 C
30 menit 60 menit
600 C
30 menit 60 menit
500 C
30 menit 60 menit
550 C
30 menit 60 menit
600 C
30 menit 60 menit
Pendinginan udara
Pendinginan udara
Pendinginan udara
Pendinginan air
g Pendinginan
air Pendinginan
air
Observasi Metallographi , XRD ,SEM
Ob i
KESIMPULAN
Data hasil Eksperimen, Diskusi
S.K. Kurniawan Siregar: Perubahan Fasa Baja Mangan FeMn Hadfield 3401 Pada Proses Pemanasan Dan Perlakuan Pendinginan Cepat Water Quenching Dan Lambat Air Cooling, 2007.
USU e-Repository © 2008
3.2 Bahan-Bahan
1. Baja Mangan Hadfield AISI 3401 2 Larutan Alumina
3. Larutan Etsa HNO
3
+ Ethanol 4. Alkohol 96
5. Kertas Pasir 100, 350, 600, 800, 1000, 1500, 2000 mesh 6. Kain Beludru
7. Air Aquades
3.3 Peralatan
1. Mesin potong sampel
2. Tungku pemanas Furnace Vectar VHT – 3
3. Optical Microscopy Epiplan Hdlenz, Carl Zeiss, 220 V – 60 Hz, 80 VA
4. Mesin Poles Polisher
5. Scanning Electron Microscopy
6. Penjepit sampel
7. Pengering Specimen dryer
8. XRD apparaturs
3.4 Prosedur Penelitian