Data Hasil Pengujian Metalography Baja AISI 4140

4.2. Data Hasil Pengujian Metalography Baja AISI 4140

4.2.1. Data Hasil Metalurgi Sub-Permukaan Hasil dari pengujian mikrostruktur untuk melihat lapisan putih white layer dari beberapa kondisi permesinan dengan menggunakan peralatan Scanning Electron Microscopy SEM dapat dilihat pada Gambar 4.1 sampai 4.7. Pada Gambar 4.1 sampai 4.7 yang diperoleh dengan menggunakan peralatan Scanning Electron Microscopy SEM diatur dengan pembesaran 3000 kali dengan skala 1 µm. Tebal sampel yang digunakan untuk melihat lapisan putih white layer adalah setebal 5 mm. Posisi pengambilan gambar dari peralatan Scanning Electron Microscopy SEM disesuaikan dengan arah pemakanan yang telah mengalami proses pemesinan. Gambar 4.1. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 200 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,31 mm Vf Universitas Sumatera Utara Gambar 4.2. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 200 mmin, f = 0,15 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,16 mm Gambar 4.3. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 225 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,7 mm, VB = 0,14 mm Vf Vf 61 Universitas Sumatera Utara Gambar 4.4. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 225 mmin, f = 0,16 mmput, a = 0,7 mm, VB = 0,20 mm Gambar 4.5. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 250 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,30 mm Vf Vf 62 Universitas Sumatera Utara Gambar 4.6. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi i v = 250 mmin, f = 0,16 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,10 mm Gambar 4.7. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Menggunakan Peralatan SEM untuk Kondisi Tanpa Permesinan Vf Vf 63 Universitas Sumatera Utara Hasil dari pengujian mikrostruktur untuk melihat perubahan arah mikrostruktur dari beberapa kondisi permesinan dengan menggunakan peralatan Mikroskop Optik dapat dilihat pada Gambar 4.8 sampai 4.14. Pada Gambar 4.8 sampai 4.14 hanya menunjukkan bentuk dan jumlah sebaran dari struktur mikro yang dihasilkan pada baja AISI 4140. Struktur mikro yang dihasilkan dari pemesinan laju tinggi, kering dan keras hanya struktur mikro perlit dan ferit. Tebal sampel untuk melihat struktur mikro dengan menggunakan Mikrskop Optik setebal 5 mm. Struktur mikro yang tampak dilakukan dengan menggunakan Mikroskop Optik dengan pembesaran 20 kali dengan skala gambar 0,050 mm. Gambar 4.8. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 200 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,31 mm Vf Martensit Ferit Perlit Universitas Sumatera Utara Gambar 4.9. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 200 mmin, f = 0,15 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,16 mm Gambar 4.10. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 225 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,7 mm, VB = 0,14 mm Vf Vf Ferit Ferit Perlit Perlit 65 Universitas Sumatera Utara Gambar 4.11. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 225 mmin, f = 0,16 mmput, a = 0,7 mm, VB = 0,20 mm Gambar 4.12. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 250 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,30 mm Vf Vf Perlit Ferit Ferit Perlit 66 Universitas Sumatera Utara Gambar 4.13. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Kondisi v = 250 mmin, f = 0,15 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,10 mm Gambar 4.14. Hasil Pengujian Mikrostruktur dengan Menggunakan Mikroskop Optik untuk Kondisi Tanpa Permesinan Vf Perlit Ferit Vf Perlit Ferit Universitas Sumatera Utara 4.2.2 Data Hasil Kekerasan Mikro Microhardness Hasil dari pengujian kekerasan mikro untuk melihat perubahan struktu dari beberapa kondisi permesinan dengan menggunakan peralatan SEM dapat dilihat pada Gambar 4.1 sampai 4.7. Tabel 4.3. Data kekerasan mikro dengan kondisi v = 200 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,31 mm Jarak µm 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 HV 440 0,2 454 548 595 687 655 582 540 540 548 Tabel 4.4. Data kekerasan mikro dengan kondisi v = 200 mmin, f = 0,1 mmput, a = 0,3 mm, VB = 0,16 mm Jarak µm 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 HV 442 0,2 494 548 585 689 594 544 542 544 548 Tabel 4.5. Data kekerasan mikro dengan kondisi v = 225 mmin, f = 0,1 mmput a = 0,7 mm, VB = 0,14 mm Jarak µm 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 HV 440 0,2 454 474 555 667 635 534 540 542 548 Tabel 4.6. Data kekerasan mikro dengan kondisi v = 225 mmin, f = 0,16 mmput , a = 0,7 mm, VB = 0,20 mm Jarak µm 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 HV 442 0,2 454 478 598 687 653 556 542 538 548 Tabel 4.7. Data kekerasan mikro dengan kondisi v = 250 mmin, f = 0,1 mmput a = 0,3 mm, VB = 0,30 mm Jarak µm 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 HV 440 0,2 459 472 598 683 675 578 558 540 548 Universitas Sumatera Utara Tabel 4.8. Data kekerasan mikro dengan kondisi v = 250 mmin, f = 0,16 mmput a = 0,3 mm, VB = 0,10 mm Jarak µm 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 HV 422 0,2 443 485 578 683 648 598 543 535 548

4.3. Analisa Gangguan Pada Sub Permukaan