17 Dimana :
2M
C -1
= densitas sambung silang V
dan χ = volume molar dan parameter interaksi dari pelarut
untuk toluene, V = 108,5 mol.cm
-3
and χ = 0,39 ρ
NRL
= densitas karet = 0,932 [31] V
r
adalah fraksi volume karet dalam gel yang membengkak, dihitung dari persamaan 2.3 [30] :
sol sol
d d
d d
r
W W
W V
Dimana : W
d
= massa dari karet kering ρ
d
= densitas karet untuk karet vulkanisasi, ρ
d
= 0,9203 g.cm
-3
[31] W
sol
= massa cairan ρsol
= densitas cairan untuk toluene, ρ
sol
= 0,87 g.cm
-3
2.4.3 Karakterisasi Fourier Transform Infra Red FT-IR
Pada tahun 1965, Cooley dan Turky mendemonstrasikan teknik spektroskopi FT-IR. Pada dasarnya teknik ini sama dengan spektroskopi infra merah biasa, kecuali
dilengkapi dengan cara perhitungan Fourier Transform dan pengolahan data untuk mendapatkan resolusi dan kepekaan yang lebih tinggi. Teknik ini dilakukan dengan
penambahan peralatan interferometer yang telah lama ditemukan oleh Michelson pada akhir abad 19 [32].
Penggunaan spektrofotometer FT-IR untuk analisa banyak diajukan untuk identifikasi suatu senyawa. Hal ini disebabkan spektrum FT-IR suatu senyawa
misalnya organik bersifat khas, artinya senyawa yang berbeda akan mempunyai spektrum berbeda pula. Vibrasi ikatan kimia pada suatu molekul menyebabkan pita
serapan hampir seluruh di daerah spektrum IR 4000-450 cm
-1
[32]. Formulasi bahan polimer dengan kandungan aditif bervariasi seperti
pemlastis, pengisi, pemantap dan antioksidan memberikan kekhasan pada spektrum inframerahnya. Analisis infra merah memberikan informasi tentang kandungan
Universitas Sumatera Utara
18 aditif, panjang rantai, dan struktur rantai polimer. Di samping itu, analisis IR dapat
digunakan untuk karakterisasi bahan polimer yang terdegradasi oksidatif dengan munculnya gugus karbonil dan pembentukan ikatan rangkap pada rantai polimer
[32]. 2.4.4
Karakterisasi Scanning Electron Microscope SEM
Scanning Electron Microscope SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara mikroskopik. Berkas elektron dengan diameter
5-10 nm diarahkan pada spesimen. Interaksi berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, Sinar X,
elektron sekunder dan absorbsi electron [17]. Teknik SEM pada hakikatnya merupakan pemeriksaan dan analisa
permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan yang tebalnya sekitar 20 μm dari permukaan. Gambar permukaan yang
diperoleh merupakan tofografi segala tonjolan, lekukan dan lubang pada permukaan [17].
Gambar topografi diperoleh dari penangkapan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen. Sinyal elektron sekunder yang dihasilkan ditangkap oleh
detektor dan diteruskan ke monitor. Pada monitor akan diperoleh gambar yang khas yang menggambarkan struktur permukaan spesimen. Selanjutnya gambar dimonitor
dapat dipotret dengan menggunakan film hitam putih atau dapat pula direkam ke dalam suatu disket [17].
Sampel yang dianalisa dengan teknik ini harus mempunyai permukaan dengan konduktifitas tinggi, karena polimer mempunyai konduktifitas rendah, maka
bahan perlu dilapisi dengan bahan konduktor bahan penghantar yang tipis. Yang biasa digunakan adalah perak, tetapi jika dianalisa dalam waktu yang lama, lebih
baisk digunakan emas atau campuran emas dan palladium [17].
2.5 ANALISIS BIAYA
