Solar cell atau panel surya pada SI-2 terdapat lebih dari 17.000 sel surya yang mampu mengumpulkan hingga 340 kWh energi surya perhari yang dapat
mewakili oleh luas sekitar 269,5 m
2
dibagian atas sayap sepanjang 72 meter. Energi yang dikumpuklan oleh sel surya disimpan dalam baterai lithium polimer,
yang kepadatan energi dioptimalkan untuk 260 Whkg. Baterai tersebut terisolasi oleh busa high density dan dipasang diempat
nacelles
mesin, dengan sistem untuk mengontrol pengisisan ambang batas dan suhu. Berat baterai total adalah 633 kg
sekitar seperempat dari semua berat pesawat. Mukhlis,2015
2.7 Karakterisasi dan Pengujian
Pengkarakterisasian dilakukan pada serbuk material aktif dan baterai. Pada serbuk material aktif dilakukan pengujian
X-Ray Difraction
XRD dan
Scanning Electron Microscopy
SEM untuk melihat struktur dan morfologinya. Sedangkan pada baterai diuji kemampuan baterai dan reaksi reduksi-oksidasi yang terjadi
pada elektroda baterai dengan pengujian
Cyclic Voltamettry
CV dan
Charge- Discharge
CD untuk melihat kapasitas dari baterai tersebut.
2.7.1 Karakterisasi XRD
Difraksi sinar – X digunakan untuk mengidentifikasi struktur kristal suatu padatan
dengan membandingkan nilai jarak d bidang kristal dan intensitas puncak difraksi dengan data standar. Sinar- x merupakan radiasi elektromagnetik dengan
panjang gelombang sekitar 100 pm yang dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi. Melalui analisi XRD diketahui dimensi kisi d =
jarak antar kisi dalam struktur material. Sehingga dapat ditentukan apakah suatu material mempunyai kerapatan yang tinggi atau tidak, dan difraksi sinar-x suatu
kristal. Hal ini dapat diketahui dari persamaan Bragg yaitu nilai sudut difraksi yang berbanding terbalik dengan nilai jarak d jarak antar kisi dalam kristal.
Sesuai dengan persamaan Bragg : n = 2d sin ...
2.2 dengan :
d = jarak antar bidang = sudut pengukuran sudut difraksi
Universitas Sumatera Utara
= panjang gelombang sinar-X Prinsip dasar dari XRD adalah hamburan elektron yang mengenai
permukaan kristal. Bila sinar dilewatkan ke permukaan kristal, sebagian sinar tersebut akan terhamburkan dan sebagian lagi akan di teruskan ke lapisan
berikutnya. Sinar yang dihamburkan akan berinterferensi inilah yang digunakan
untuk menganalisis. Difraksi sinar-X hanya akan terjadi pada sudut tertentu sehingga suatu zat
akan mempunyai pola difraksi tertentu. Pengukuran kristalinitas relatif dapat dilakukan dengan membandingkan jumlah tinggi puncak pada sudut-sudut
tertentu dengan jumlah tinggi puncak pada sampel standar. Didalam kisi kristal, tempat kedudukan sederetan ion atau atom disebut
bidang kristal. Bidang kristal ini berfungsi sebagai cermin untuk merefleksikan sinar-X yang datang. Posisi dan arah dari bidang kristal ini disebut indeks miller.
Setiap kristal memiliki bidang kristal dengan posisi dan arah yang khas, sehingga jika disinari dengan sinar-X pada analisis XRD akan memberikan difraktogram
yang khas pula. Dari data XRD yang di peroleh, dilakukan identifikasi puncak-puncak
grafik XRD dengan cara mencocokkan puncak yang ada pada grafik tersebut dengan database ICDD
International Centre for Diffraction Data
. Setelah itu, dilakukan refinement pada data XRD dengan menggunakan metode Analisis
Rietveld yang terdapat pada program RIETAN. Melalui refinement tersebut, fase beserta struktur,
space group
,dan parameter kisi yang ada pada sampel yang diketahui.
2.7.2 Karakterisasi SEM
