7.6. Analisa Fasa Pada Material Keramik.

II. 7.6. Analisa Fasa Pada Material Keramik.

Sifat-sifat dari suatu material keramik merupakan fungsi intrinsik dari fasa-fasa yang terkandungnya. Berarti keberadaan fasa yang dominan maupun yang minor akan mempengaruhi sifat keseluruhan dari bahan. Ada beberapa teknik untuk menganalisa fasa pada suatu material keramik, diantaranya dengan menggunakan difraksi sinar-X bentuk serbuk powder X-ray diffraction – XRD. Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,5 sampai 2,5 Angstrom yang mendekati jarak antar atom kristal Chan 1992. Jika sinar- ditembakkan pada suatu permukaan material, maka atom- atom akan menghamburkan sinar- X ke segala arah dan dalam arah tertentu berkas sinar yang dihamburkan akan sefasa dan saling menguatkan. Jika atom-atom tersusun secara periodik pada sebuah kisi maka sinar yang dihamburkan oleh atom-atom tersebut memiliki hubungan fasa tertentu. Hubungan fasa menghasilkan interferensi konstruktif dalam arah tertentu membentuk berkas difraksi seperti pada Gambar II.18 Gambar II.18. Difraksi dari bidang kristal Chan 1992 Ahamad Faisal : Pengaruh Penambahan Al2TiO5 Pada Pembuatan Keramik Al2O3 Terhadap Sifat Fisis Dan Mikrostrukturnya, 2007 USU e-Repository © 2008 Berkas sinar-X dengan panjang gelombang jatuh dengan sudut pada sekumpulan bidang ristal yang berjarak d. Sinar yang dipantulkan dengan sudut hanya dapat dampak jika berkas-berkas dari tiap bidang yang berdekatan dari bidang difraksi sesuai dengan jarak antar kisi. Persamaan dari pantulan sinar yang saling menguatkan dinyatakan dengan hukum Bragg yaitu Chan 1992: 2 d sin θ = n λ .................................. II.12 Dengan menggunakan sinar-X yang telah diketahui panjang gelombangnya = 1,541838 Angstrom, maka harga d dari berbagai bidang pada kristal dapat ditentukan. Tiap bahan mempunyai nilai d tertentu, dan untuk mengidentifikasi jenis fasa dalam suatu bahan dilakukan dengan membandingkan nilai d pengukuran dengan nilai d yang ada pada data standar hanawalt Method.

II.7.7. Analisis Mikrostruktur Dengan Scanning Electron Microscope SEM