Konduktivitas Listrik Annealing TINJAUAN PUSTAKA
4
ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu
ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan
puncak puncak
yang spesifik. Sehingga kelemahan alat ini tidak
dapat untuk mengkarakterisasi bahan yang bersifat amorf.
Metode difraksi umumnya digunakan untuk mengidentifikasi senyawa yang belum
diketahui yang terkandung dalam suatu padatan
dengan cara
membandingkan dengan data difraksi dengan database yang
dikeluarkan oleh International Centre for Diffraction Data berupa Powder Diffraction
File PDF.
Difraktometer menggunakan prinsip difraksi. Ada 3 jenis difraktometer yang
dikenal. Penamaan
difraktometer ini
ditentukan oleh sumber radiasi yang
digunakan yaitu difraktometer neutron, sinar x dan elektron.
XRD yang tepat dirancang untuk aplikasi dalam microstructure pengukuran,
pengujian dan penelitian mendalam dalam penyelidikan. Berbagai aksesori yang sesuai
dan pengendalian perangkat lunak dan perhitungan dapat dipilih untuk bersurat
difraksi sistem sesuai dengan kebutuhan praktis.
XRD menyediakan
satu analisis
struktur kristal,
polycrystalline dan
amorphous sampel. termasuk tahap analisis kualitatif dan analisis kuantitatif RIR,
internal standar kalibrasi, standar kalibrasi eksternal,
kriteria tambahan,
pola pengindeksan, kesatuan tekad dan perbaikan
sel, crystallite ukuran dan penetapan strain, profil dan struktur pas perbaikan, penetapan
sisa stres, analisis tekstur ODF menyatakan tiga dimensi tiang angka, crystallinity
memperkirakan puncak dari daerah, analisis film.
X ray diffractometer utama yang digunakan untuk identifikasi tahapan dalam
bentuk serbuk. An x ray beam yang dikenal panjang gelombang adalah difokuskan pada
bubuk sampel dan x ray difraksi puncak dihitung menggunakan detektor germanium;
the d spacing dari pengamatan difraksi puncak
dihitung menggunakan
hukum Bragg.