commit to user 11
Gambar 2.4 Pembagian Empat Belas Kisi Bravais Struktur Kristal Omar, 1993
C. Difraksi Sinar-X pada kristal
Teknik difraksi digunakan dalam mempelajari struktur kristal bermula dari percobaan W.L Bragg pada tahun 1913. Hasil dari penelitian tersebut Bragg
mampu menentukan jarak bidang antar kristal dengan memanfaatkan panjang gelombang sinar-X. Berkas sinar-X monokromatis yang jatuh pada suatu kristal
akan dihamburkan kesegala arah , tetapi karena keteraturan letak atom-atom, maka pada arah tertentu gelombang hambur tersebut akan berinterferensi
konstruktif dan lainnya akan berdestruktif Ginting, Ilias dan Hermawan Stefanus, 2005.
commit to user 12
Gambar 2.5 Difraksi Sinar-X Menurut Hukum Bragg Beiser, 1995
Suatu berkas sinar-X dengan panjang gelombang l jatuh pada kristal
dengan sudut q terhadap permukaan bidang kristal yang jaraknya adalah
d
. Seberkas sinar pertama
I
yang mengenai atom
A
pada bidang pertama dan sinar kedua
II
yang mengenai atom
B
pada bidang berikutnya mengakibatkan masing- masing atom menghambur dalam arah rambang. Interferensi konstruktif hanya
terjadi antara sinar terhambur sejajar dan beda jarak jalannya tepat l , 2 l , 3 l
dan seterusnya. Jadi beda jarak harus
n
l , dengan
n
adalah bilangan bulat. Kondisi ini dirumuskan oleh Bragg dalam bentuk persamaan yang dikenal sebagai
hukum Bragg.
n
l
= 2 d sin
q 2.1
dengan :
d
= beda lintasan hamburan antara atom pertama dan kedua m q
=
Sudut hamburan
o
n =
Orde bilangan bulat
n
= 1,2,3,... l
=
Panjang gelombang Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X dijatuhkan pada
sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar
yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel,
makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.
commit to user 13
Analisis kimia dengan teknik difraksi sinar-X tergantung pada fakta bahwa suatu fase akan menghasilkan sebuah karakteristik pola difraksi sinar-X yang
merupakan suatu sidik jari. Artinya setiap unsur atau senyawa memiliki pola difraksi yang berbeda-beda. Jika material yang dilakukan pengujian adalah suatu
logam murni maka parameter kisinya dapat diukur dari pola difraksi sinar-X dan identitasnya dapat dievaluasi dengan berpedoman pada buku referensi
Handayani, M dan Iwan, S, 2005.
D. Intensitas Total Sinar-X Terdifraksi
Kategori