METODOLOGI PENELITIAN PEMBUATAN SIMULASI INTENSITAS TOTAL SINAR X TERDIFRAKSI UNTUK MENGHITUNG PERSENTASE FASA DAN FRAKSI VOLUME DALAM CAMPURAN UNSUR Si DAN Ni

commit to user

BAB III METODOLOGI PENELITIAN

Dari percobaan difraksi sinar-X diperoleh pola difraksi yang khas dari material. Data yang diperoleh berupa data intensitas dan posisi sudut 2 θ puncak difraksi. Dalam tugas akhir ini telah dibuat program untuk menganalisa pola difraksi sinar-X sehingga dapat diketahui persentasa fasa suatu material. Data yang digunakan penulis merupakan data sekunder. Unsur-unsur yang digunakan adalah Silikon Si dan Nikel Ni. Telah diketahui massa jenis ρ Si dan Ni, masing-masing adalah 2,33 gramcm 3 dan Ni 8,91 gramcm 3 . Massa Si dan Ni yang digunakan adalah 0,082 gram dan 0,255 gram. Data XRD difraktometer di set pada range sudut 2q mulai dari 20 sampai dengan 80 dengan penambahan sudut 0,02. Pertambahan sudut yang diambil kecil untuk mengurangi kesalahan di dalam simulasi. Bahasa pemrograman yang digunakan untuk menentukan persentase fasa dan fraksi volume adalah Delphi versi 7.0. Sebelumnya program telah dibuat pada tahun 2003 oleh Siska Desy Fatmaryanti. Namun untuk memperoleh hasil yang lebih baik, maka penulis menambahkan variasi dalam tampilan program dan merubah beberapa variabel. Untuk variasi tampilan program, penulis menambahkan grafik ternormalisasi. Grafik ternormalisasi adalah grafik dimana intensitas maksimumnya adalah 100. Sedangkan untuk variabelnya penulis merubah range dalam penentuan batas atas dan batas bawah agar diperoleh hasil yang lebih baik. Pada tahap baca program akan meminta masukan file data hasil XRD. Data yang dibaca menghasilkan keluaran berupa tabel pasangan antara sudut 2q dengan intensitas. Hubungan antara sudut 2q dengan intensitas divisualisasikan dalam bentuk grafik. Sehingga pengguna program dapat menentukan batas atas dan batas bawah untuk menghitung luasan di bawah kurva. Berikut ini adalah flowchart untuk menghitung nilai fraksi volume unsur dalam campuran Si dan Ni : commit to user 20 ya tidak tidak ya tidak tidak ya ya Start Ambil data XRD, unsur, hkl , sudut Gambar grafik Intensitas Vs 2 theta Masukkan nilai l , Konstanta kisi Si Ni Hitung nilai sinq l Baca tabel faktor hamburan atom ff 0=sinq l =1 F2= 0 F2= 16ffff ff =0 Unsur=Si Si=0 Unsur=Ni h+ k+ l =genap F2= 64ffff F2= 32ffff h+ k+ l =genap Mencampurkan serbuk Si dan Ni commit to user 21 A Baca tabel faktor pengali p Hitung nilai R Hitung nilai fraksi volume unsur Procedure splin kubik Procedure Simpson 38 Hitung nilai intensitas total Masukkan nilai batas bawah dan atas kurva STOP Membandingkan hasil pemrogaman dengan perhitungan commit to user 22 Gambar 3.1 Flowchart penentuan nilai fraksi volume Si dan Ni Untuk menentukan nilai intensitas total program akan meminta masukan nilai batas atas dan batas bawah. Nilai batas atas dan batas bawah dapat ditentukan sendiri dengan meng-klik grafik. Dengan metode splin kubik dan Simpson 38 program akan mengolah data sehingga dihasilkan keluaran berupa nilai luasan di bawah kurva puncak difraksi. Untuk menentukan nilai R kita harus memasukkan data-data mengenai unsur yang digunakan, yaitu konstanta kisi, faktor hamburan atom, faktor struktur, faktor pengali dan sudut puncak yang paling tinggi. Dengan rumus R yang dituliskan pada Persamaan 2.6 program dapat menghitung nilai R . Intensitas total dan nilai R akan menjadi masukkan untuk menghitung nilai c Si dan c Ni. Program akan mengolah berdasarkan persamaan-persamaan pada metode perbandungan langsung. Untuk menentukan persentase fasa Si dan Ni dengan menggunakan luasan dibawah kurva yang diperoleh dari program. Yaitu dengan memasukkan batas atas dan batas bawah. Untuk persentase Si dapat dihitung dengan perbandingan antara luasan kurva Si dengan total luasan kurva atau intensitas total. Demikian juga untuk persentase Ni, dihitung dengan perbandingan antara luasan kurva Ni dengan total luasan kurva atau intensitas total. commit to user

BAB IV HASIL PENGOPERASIAN PROGRAM DAN PEMBAHASAN