commit to user
BAB I PENDAHULUAN
A. Latar belakang Masalah
Ilmu pengetahuan alam terus berkembang, salah satunya adalah
pengetahuan tentang struktur kristal. Untuk mempelajari struktur kristal suatu material perlu dilakukan percobaan difraksi pada kristal padat yaitu dengan
mengukur pola difraksi yang dihasilkan. Untuk mengetahui kandungan material atau kemurnian dalam barang
tambang tersebut diperlukan suatu metode. Ada 2 metode analisa yaitu destruktif dan non destruktif. Metode destruktif adalah metode yang merusak bahan atau
cuplikan. Sedangkan metode non destruktif yaitu metode yang tidak merusak bahan yang dianalisa, contohnya metode difraksi sinar-X XRD. Metode difraksi
sinar-X dapat digunakan dengan cuplikan seperti logam, paduan logam alloy, bahan-bahan mineral anorganik, polimer dan material organik Suryanarayana dan
Norton, 1998. Spektroskopi difraksi sinar-X XRD merupakan salah satu metode
karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
Keuntungan utama penggunaan difraksi sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi yang
sangat tinggi akibat panjang gelombangnya pendek. Selain itu metode difraksi sinar-X hanya memerlukan sedikit sampel 1 gram di dalam analisa. Metode
difraksi sinar-X ini didasarkan pada kenyataan bahwa setiap unsur atau senyawa menghasilkan pola difraksi sinar-X yang khas, artinya setiap unsur atau senyawa
memiliki pola difraksi yang berbeda-beda. Di Sub Lab Fisika UPT Laboratorium Pusat MIPA UNS terdapat fasilitas
difraksi sinar-X model Shimadzu 6000. Akan tetapi pemanfaatannya baru sebatas
commit to user 2
pada analisa kualitatif dengan memanfaatkan data base Powder Diffraction File PDF. Padahal metode XRD juga dapat digunakan untuk analisa kuantitatif. Hal
ini berdasarkan intensitas puncak difraksi suatu campuran unsur adalah sebanding dengan fraksi volume dari unsur-unsur tersebut di dalam campuran
Suryanarayana dan Norton, 1998. Pada penelitian sebelumnya telah dibuat simulasi intensitas total sinar-X
terdifraksi menggunakan program komputer berbahasa Delphi oleh Siska Desy Fatmaryanti 2003. Program digunakan untuk menentukan fraksi volume dalam
campuran. Namun untuk memperoleh hasil yang lebih baik, maka penulis menambahkan variasi dalam tampilan program dan merubah beberapa variabel.
Untuk variasi tampilan program, penulis menambahkan grafik ternormalisasi. Grafik ternormalisasi adalah grafik dimana intensitas maksimumnya adalah 100.
Sedangkan untuk variabelnya penulis merubah range dalam penentuan batas atas dan batas bawah agar diperoleh hasil yang lebih baik.
Pada penelitian ini sampel yang digunakan adalah campuran serbuk Si dan Ni. Alasan menggunakan unsur Si dan Ni adalah karena unsur-unsur tersebut
menghasilkan puncak-puncak difraksi yang tajam dan tidak overlap, serta diketahui struktur kristal dan konstanta kisinya. Dengan menggunakan simulasi
intensitas total sinar-X terdifraksi akan dihitung persentase fasa gan fraksi volume dari unsur Si dan Ni.
B. Perumusan Masalah
Kategori