pembentukan gel dalam rongga cetakan yang biasanya terbuat dari gips atau light alloy. Cetakan berupa pasangan atas dan bawah yang dapat ditutup rapat.
2.9 Uji Karakteristik 2.9.1 Transmission Electron Microscopy
Transmission Electron Microscopy TEM merupakan alat karakteristik yang digunakan untuk mendapatkan gambar nanomaterial, dimana dapat diperoleh ukuran
kuantatif partikel atau ukuran butiran, distribusi ukuran dan morfologi. Pada analisa TEM elektron lebih digunakan daripada cahaya yang menyinari sampel karena
analisa memiliki resolusi yang lebih tinggi secara signifikan dibandingkan teknik uang berbasis cahaya. Amplitudo dan variasi fase pada berkas transmisi memberikan
kontras pencitraan yang merupakan fungsi ketebalan dan material sampel.
Ketika elektron ditransmisikan pada spesimen tipis tanpa adanya interaksi dalam spesimen , maka berkas elektron ini dikatakan mengalami transmisi. Bidang
spesimen yang lebih tebal akan mengalami transmisi elektron lebih sedikit sehingga akan terlihat gelap, sebaliknya daerah tipis akan mengalami lebih banyak transmisi
elektron, sehingga akan terlihat lebih terang. Semua electron memiliki energy yang sama dan memasuki specimen secara normal ke permukaannya selebaran elektron ini
dapat disusun menggunakan lensa magnetic untuk membentuk pola bintik-bintik, masing-masing bintik sesuai dengan jarak atom tertentu. Pola kemudian dapat
menghasilkan informasi mengenai orientasi, susunan atom, dan fase pada bidang yang diperiksa Vountou, 2008.
Pencitraan nanopartikel yang bagus menggunakan TEM bergantung kepada kontras sampel relatif terhadap latar. Sampel disisipkan untuk pencitraan dengan
pengeringan nanopartikel pada kisi tembaga yang dilapisi dengan lapisan tipis karbon. Material dengan kerapatan elektron yang secara signifikan lebih tinggi
daripada amorfmudah dicitrakan. Material ini termasuk sebagian besar logam misalnya perak, emas, tembaga, aluminium, sebagian oksida misalnya silika,
Universitas Sumatera Utara
oksida aluminium, titanium oksida dan partikel lainnya seperti polimer nanopartikel
dan nanopartikel magnetik. 2.9.2 Spektroskopi Fourier transform Infrared
Fourier transform Infrared FTIR merupakan suatu metode pengujian yang menggunakan sinar inframerah. Pada analisa ini, sinar inframerah ditembakkan pada
sampel. Sebagian radiasi inframerah diabsorbsi oleh sampel dan sebagian lainnya ditransmisikan. Hasil spectrum memperlihatkan absorbs dan transmisi molekuler,
membentuk sidik jari molekul sampel. Seperti halnya sidik jari, tidak ada dua struktur molekul berbeda yang memiliki spectrum inframerah yang sama Lowson, 2001.
Penggunaan spektroskopi inframerah digunakan untuk mengindentifikasi suatu senyawa. Hal ini dikarenakan spectrum FTIR suatu senyawa yang khas, artinya
senyawa yang berbeda akan mempunyai spectrum yang berbeda juga. Vibrasi kimia pada suatu molekul menyebabkan pita serapan hampir seluruh di daerah inframerah
4000-450 cm
-1
Silverstein, 1981.
2.9.3 Uji Kekuatan Tarik
Kekuatan tarik diartikan sebagai besarnya beban maksimum F
maks
yang dibutuhkan untuk memutuskan specimen bahan, dibagi dengan luas penampang
bahan. Karena selalu di bawah pengaruh tegangan, specimen mengalami perubahan bentuk deformasi maka definisi kekuatan tarik dinyatakan dengan luas penampang
semula A . Uji tarik mengikuti standart ASTM D 638 tipe IV dilakukan dengan
memotong sampel dalam bentuk dumbbell menggunakan pemotong khas yangmengikuti dimensi yang telah ditetapkan, seperti yang ditunjukkan pada Gambar
2.5.
Universitas Sumatera Utara
Gambar 2.5. Uji tarik berdasarkan ASTM D 638 tipe IV
σ
t =
F
maks
A
2.1
Selama perubahan bentuk, dapat diasumsikan bahwa volume specimen tidak berubah. Perpanjangan tegangan pada saat bahan terputus disebut kemuluran. Besaran
kemuluran ε dapat didefinisikan sebagai: ε =
l −lo
lo
x 100 2.2
keterangan : I
I = panjang specimen saat putus mm = panjang specimen mula-mula mm
ε = Kemuluran Wirjosentono, 1995
Dim ana ι
adalah panjang mula- mula sebelum diberi beban dan ι
i
adalah panjang setelah diberi beban. Hubungan antara stress dan strain adalah
σ = Eε 2.3
Universitas Sumatera Utara
2.9.4 Scanning Electron Microscopy
SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara makroskopik. Berkas elektron dengan diameter 5-10 nm diarahkan pada spesimen
interaksi berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, sinar x, elektron sekunder, absorbsi elektron. Adanya
material lain dalam suatu matriks seperti dispersi material tersebut menyebabkan terjadinya perubahan pada permukaan spesimen. Untuk melihat perubahan spesimen.
Untuk melihat perubahan dalam bahan tersebut dapat dilakukan suatu analisa permukaan, dan alat yang biasa digunakan adalah SEM.
Teknik SEM pada hakikatnya merupakan pemeriksaan dan analisa permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari
lapisan yang tebalnya sekitar 20 µm dari permukaan yang diperoleh merupakan gambar tofografi dengan segala tonjolan, lekukan, dan lubang permukaan. Gambar
tofografi diperoleh dari penangkapan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen. Sinyal elektron sekunder yang dihasilkan ditangkap oleh detektor dan
diteruskan ke monitor. Pada monitor akan diperoleh gambar yang khas yang menggambarkan struktur permukaan spesimen. Selanjutnya gambar di monitor dapat
dipotret dengan menggunakan film hitam putih atau dapat pula direkam kedalam suatu disket Wirjosentono, 1996.
Dalam penelitian morfologi permukaan SEM terbatas pemakaiannya, tetapi memberikan informasi yang bermanfaat mengenai topologi permukaan. Aplikasi-
aplikasi yang khas mencakup penelitian disperse-dispersi pigemn dalam sel, pelepuhan atau perekatan koting, batas-batas fase dalam polipaduan yang tak dapat
campur, struktur sel busa-busa polimer dan kerusakan pada bahan perekat. SEM teristimewa berharga dalam mengevaluasi betapa penanaman implant pada
polimerik bereaksi baik dengan lingkungan bagian tubuhnya Stevens, 2001
Universitas Sumatera Utara
2.8.5 Uji Swelling Index
Uji Swelling ASTM 3615 dilakukan dengan memotong film lateks sampel karet yang dibentuk secara bulat dengan diameter 38 mm dan ketebalan 0,2 mm dengan
metode perendaman dalam khlorofom pada suhu kamar selama 25 menit untuk memungkinkan pengembangan guna mencapai kesetimbangan difusi. Kemudian
permukaan sampel yang mengembang dihitung dengan menggunakan kertas grafik dan rasio pengembangan di definisikan sebagai :
�������� ������ =
�������� ��ℎ�� ������� � ����
2.4
Rasio ini tentu merupakan ukuran langsung dari tingkat hubungan silang. Diameter sampel benda uji sebelum mengembang 38 mm Maged, 2003.
Universitas Sumatera Utara
BAB I
PENDAHULUAN
1.1 Latar Belakang
