karena pada SWNT hanya memiliki satu lapis dinding sehingga bila terdapat ikatan C=C yang rusak maka akan menghasilkan lubang di SWNT dan hal ini
akan mengubah sifat mekanik dan elektrik dari ikatan SWNT tersebut. Struktur MWNT dapat ditunjukkan dalam Gambar 2.8.
Gambar 2.8 Struktur Multi Walled Nanotube Paul et al., 2003
Aplikasi nanotube banyak mempertimbangkan MWNT untuk digunakan karena dapat di produksi dalam jumlah yang besar dengan harga yang terjangkau dan
tersedia dalam jumlah yang banyak dalam waktu yang lama dibandingkan dengan SWNT Paul et al., 2003.
2.7 X-ray Diffraction XRD
Sinar-X merupakan gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,5- 2,5 Å, didalam spektrum elektromagnetik terletak diantara sinar tampak dan sinar
ultraviolet. Oleh karena memiliki panjang gelombang yang hampir sama dengan jarak antar atom pada padatan kristalin, maka sinar-X dapat digunakan untuk
menentukan parameter kisi dan struktur kristal Cullity, 1978; Smallman,1985.
Difraktometer Sinar-X adalah alat yang dapat memberikan data-data difraksi dan kuantitas intensitas difraksi pada sudut-sudut difraksi dari suatu
bahan. Tujuan dilakukannya pengujian analisis struktur kristal adalah untuk mengetahui perubahan fasa struktur bahan dan mengetahui fasa-fasa apa saja yang
terbentuk selama proses pembuatan sampel uji. Tahap pertama yang dilakukan dalam analisa sinar-X adalah melakukan analisa pemeriksaan terhadap sampel x
yang belum diketahui strukturnya. Sampel ditempatkan pada titik fokus hamburan sinar- X yaitu tepat ditengah-tengah plate yang digunakan sebagai tempat
Universitas Sumatera Utara
yaitu sebuah plat tipis yang berlubang ditengah berukuran sesuai dengan sampel dengan perekat pada sisi baliknya Sholihah Zainuri, 2012.
Gambar 2.9 Komponen XRD Batan
Bila sinar-X jatuh pada kisi kristal, maka sinar akan dihamburkan. Pada sinar yang dihamburkan ini adayang saling menguatkan karena fasanya sama dan ada
yang saling meniadakan karena fasanya berbeda. Berkas sinar yang saling menguatkan ini disebut sebagai berkas difraksi. Suatu berkas sinar dikatakan
sebagai berkas difraksi maka harus memenuhi hukum Bragg: ……...…….…………………………...……………2.4
dengan: = jarak antar bidang meter
n = orde pembiasan 1,2,3,..
= panjang gelombang sinar-X Å θ
= sudut difraksi Prinsip dasar dari XRD adalah bila seberkas sinar dijatuhkan pada sampel
kristal maka bidang kristal akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang dengan jarak antar kisi didalam kristal selanjutnya sinar yang
dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai puncak difraksi. Metode serbuk adalah metode yang paling banyak digunakan, bila
dilakukan dengan benar akan memberikan informasi yang tepat mengenai material yang diuji. Metode serbuk dapat dilakukan dengan menggunakan difraktometer
dan hasil difraksi akan direkam pada kertas grafik. Didalam difraktometer benda uji dipasang pada meja yang berputar lalu sinar-X ditembakkan pada bahan uji
yang akan didifaksikan. Berkas difraksi setelah difokuskan pada suatu kisi akan masuk kedalam detektor Triaminingsih, 1998.
Universitas Sumatera Utara
2.8 Scanning Electron Microscope SEM
