Suatu kekeuatan tekuk akan berubah sesuai dengan ukuran batang uji Ld, karena itu untuk pengukuran besarnya kekuatan tekuk selalu dibetasi penentuan
pada Ld = 15 – 17. Nilai dari pada kekuatan tekuk lebih besar dari pada kekuatan tarik tetapi lebih kecil dari pada kekuaatan tekan atau diantara kedua kekuatan itu.
Tujuan pengujian kekuatan tekuk ini untuk mengetahui ketahanan suatu bahan terhadap pembebanan pada titik lentur dan juga untuk mengetahui
keelastisan suatu bahan Surdia,S,1995.
2.6.3. Analisis Termal Deferensial
Analisa termal deferensial atau lebih dikenal dengan istilah DTA merupakan salah satu metoda yang dilakukan untuk mengetahui kekuatan dan sifat termal
suatu bahan polimer. Metode analisis ini merupakan salah satu cara untuk mengetahuiperbedaan temperatur lebur antara sampel dan senyawa
pembending,baik perbandingan itu dilakukan terhada weaktu ataupun terhadap temperatur. Perubahan dari pada temperatur
∆T dihitung dengan menggunakan persamaan sebagai berikuit :
rabek 1975
Jumlah skala ∆T x Total range DTA
∆T = Jumlah seluruh skala
2.6.4. Scanning Electron Mikroscopy SEM
Scanning electron mikroscopy merupakan suatu alat yang dapat menggambarkan bentuk suatu bayangan pada permukaan suatu benda, struktur permukaan dari pada
benda yang diuji dengan menggunakan mikroskop elelktron payaran karena lebih mudah untuk mempelajari struktur permukaan itu secara langsung.
Pada dasarnya alat ini berkerja dengan menggunakan sinyal yang dihasilkan dari elektron yang untuk dipantulkan atau dengan kata lain berkas sinar
elektron sekunder. SEM menggunakan prinsip scanning dengan prinsip utamanya adalah suatu berkas elektron diarahkan pada titik-titik permukaan spesimen.
Universitas Sumatera Utara
Gerakan elelktron diarahkan dari satu titik ke titik yang lain pada permukaan suatu spesimen.
Jika seberkas elektron di tembakkan pada suatu permukaan spesimen maka sebahagian dari pada elektron itu akan dipantulkan kembali dan sebahagian yang
lainnya akan diteruskan. Jika permukaan spesimen yang ditembakkan tidak rata,banyak lekukan, lipatan ataupun lubang-lubang maka tiap-tiap bagian
permukaan itu akan memantulkan elektron dengan jumlah dan arah yang berbeda dan jika ditangkap oleh detektor akan diteruskan kelayar dan akan diperoleh
gambaran yang jelas dari permukaan spesimen dalam bentuk tiga dimensi. Mikroskop elektron payaran menggunakan hamburan balik elektron-
elektron dengan E = 30 KV yang merupakan energi datang dan elektron-elektron sekunder dengan E = 100cV yang dipantulkan dari benda uji karena elektron
sekunder mempunyai energi yang rendah, maka elektron-elektron tersebut dapat dibelokkan membentuk sudut dan menimbulkan bayangana topografi.Intensitas
dari hamburan balik elektron-elektron sebanding dengan jumlah atom tetapi berbeda dari elektron-elektron yang cenderung tertimbun karena energi yang lebih
tinggi sehingga tidak dapat dikumpulkan oleh sistem kolektor normal seperti yang digunakan oleh mikroskop elektron payaran. Jika elektron-elektron terkumpul
maka kisi depan detektor akan mengalami kemiringan positif sekitar 200 V Nur,C.,1997.
Universitas Sumatera Utara
BAB 3 BAHAN DAN METODE PENELITIAN
3.1. Peralatan
