Teknik Pemotongan Pengujian SEM dan EDS a.

3.10.1. Pengujian kokoh tekan beton

3.10.1.1 Alat dan bahan

a. Neraca Analitik b. Mesin Compressive Strength c. Sampel Silinder Benda Uji

3.10.1.2 Prosedur percobaan

Percobaaan dilakukan setelah Silinder di Rendam di dalam Bak perendaman sampai 28 hari a. Benda uji dikeluarkan dari bak perendaman, lalu dijemur selama + - 24 jam. b. Timbang berat benda uji lalu letakkan pada compressor machine sedemikian sehingga berada tepat ditengah-tengah alat penekannya. c. Secara perlahan-lahan beban tekan diberikan pada benda uji dengan cara mengoperasikan luas pompa sampai bedan uji runtuh. d. Pada saat jarum penunjuk skala beban tidak naik lagi bertambah, maka cetak skala yang ditujukan oleh jarum tersebut yang menunjukkan beban maksimum yang dapat dipikul oleh benda uji tersebut. e. Percobaan diulang untuk setiap benda uji. f. Perhitungan dikonversikan keumur 28 hari. Sampel yang sudah di Uji Kuat Tekan Di tinjau keretakannya selama 2 bulan, baru setelah itu di lanjutkan dengan teknik pemotongan benda uji Silinder

3.10.3. Pengujian Scanning Electron Microscope

3.10.3.1. Teknik Pemotongan

Pemotongan pada sampel silinder dilakukan di lakukan di Laboratorium Universitas Sumatera Utara dengan Gerinda, dengan terlebih dahulu memotong menjadi 2 bagian sampel silinder seperti pada ilustrasi berikut Universitas Sumatera Utara Gambar.3.20.Pengambilan Sampel Benda Uji Gambar.3.21.Pemotongan Sampel Benda Uji Setelah di potong menjadi 2 bagian , sampel tersebut di potong kembali menjadi bagian kecil, selanjutnya jika sudah sampai tidak bisa dipotong karena ukuran sangat tidak mencukupi, cukup di haluskan dengan mesin Gerinda melalui pinggiran gergajinya, sampai ukuran yang diinginkan.

3.10.3.2. Pengujian SEM dan EDS a.

Pengujian SEM Tabel.3.4.Penjelasan jenis sinyal, detector, dan resolusi lateral serta kedalaman sinyal untuk menggambar dan menganalisa material SEM Sinyal deteksi Informasi yang Didapat Resolusi Lateral Kedalaman dari Informasi Secondary electrons Topografi Permukaan, Kontras Komposisi 5-100 nm 5-50 nm Universitas Sumatera Utara Backscattered Electrons Kontras Komposisi, Topografi Permukaan, Orientasi Kristal, Dominan Magnet 50-100 nm 3-1000 nm Specimen Current Kontras yang lengkap ke backscattered dan sinyal Secondary Electron 50-100 nm 30-1000 nm Characteristic x-rays Primary fluorescence Komposisi elemen, distribusi elemen 0,5-2 μm 0,1- 1 μm Cathodolumine- Scence Deteksi Fasa nonmetal dan semikonduksi ... ...

b. Cara Kerja SEM

Cara kerja SEM, dimulai dengan suatu sinar elektron dipancarkan dari electron gun yang dilengkapi dengan katoda filamen tungsten, Tungsten biasanya digunakan pada electron gun karena memiliki titik lebur tertinggi dan tekanan uap sehingga memungkinkan dipanaskan untuk emisi elektron, serta harganya juga murah. Sinar elektron difokuskan oleh satu atau dua lensa kondensor ke titik yang dimaeternya sekitar 0,4 nm sampai 5 nm. Sinar kemudian melewati sepasang gulungan pemindai Scanning Coil atau sepasang pelat deflektor di kolom elektron, biasanya terdapat di lensa akhir, yang membelokkan sinar di sumbu x dan y sehingga dapat dipindai dalam mode raster diarea persegi permukaan spesimen. Ketika sinar elektron primer berinteraksi dengan spesimen, elektron kehilangan energi karena berhamburan acak yang berulang dari penyerapan dari spesimen atau disebut volume interaksi, yang membentang dari kurang dari 100 nm sampai sekitar 5 μm ke permukaan ukuran volume interaksi tergantung pada energi elektron yang mendarat, nomor atom dan kepadatan dari spesimen tersebut. Universitas Sumatera Utara