Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan
77
Pengujian yang akan dilakukan disini sebagian besar adalah pengujian saat
ada tegangan kerja pada suatu rang- kaian, sehingga jika ada kerusakan
pada suatu rangkaian, tidak tergesa- gesa melepas solderan suatu kompo-
nen tapi bisa dilakukan pengukuran terlebih dahulu untuk meyakinkannya.
● Tegangan maju dioda silicon, ger- manium, Schottky, tunel, dan ze-
ner harusnya tidak lebih dari 1,1V dalam rangkaian. Tetapi bila lebih
dari nilai tersebut menandai ada- nya dioda terbuka, yang harus di-
lepaskan, diuji, dan diganti.
● Jika suatu dioda mengalirkan arus tetapi drop tegangan dioda nol a-
tau hanya beberapa milivolt, berarti dioda hubung singkat. Pindahkan,
uji, dan ganti.
● Dioda penyearah yang hubung singkat dapat merusak dioda lain ,
kapasitor filter, dan trafo daya, ma- ka harus dicek sebelum memberi-
kan catu daya.
● Transistor yang menunjukkan te- gangan maju basis-emitter lebih
dari 1,1V basis positif untuk NPN, basis negatif untuk PNP mempu-
nyai junction base-emitter yang terbuka dan harus diganti.
● Transistor yang telah melewati ta- hap pengetesan dapat diputuskan
bahwa transistor tersebut dalam keadaaan baik. Cara pengetesan-
nya sbb:
2.6. Pengujian Komponen Aktif
2.6.1. Dioda.
2.6.2. Transistor
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Gambar 2.56a: Hubung singkat antara basis ke emiter
menyebabkan tegangan kolektor menjadi naik dan sama dengan
V
CC
dan V
RC
turun ke nol, kecuali jika transistor dibiaskan secara
normal pada cut off.
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Vrc drop
s Vce
Rises
Vcc
sho rt
short Rc
Vcc
Gambar 2.56b: Jika beban ko- lektor mempunyai resistansi
yang mendekati nol, arus turun pada resistor emiter. Hubung
singkat antara B-E menyebab- kan V
RE
turun, kecuali jika tran- sistor dibiaskan secara normal
pada cut off.
V
RE
drop
Di unduh dari : Bukupaket.com
Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan
78
Short Short
V
RC drops
Vcc
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Short 1
Vcc
Short 2
1. Rise 2.Drop
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Gambar 2.56c: Jika dua transistor diparalel, ke-
dua-duanya harus dioff- kan untuk mengamati tu-
runnya V
RC
.
Gambar 2.56d: Jika tran- sistor dihentikan pemberian
bias-nya dan V
C
= V
CC
, resis- tor ditambahkan dari V
CC
ke basis untuk mengonkan
transistor . Hitung R untuk memastikan bahwa I
B
1 mA untuk sinyal yang kecil dan
I
B
100 mA untuk transistor daya. Penambahan R
B
menyebabkan V
C
turun. Gambar 2.56e: Jika basis diatur
secara langsung oleh transistor, maka diperlukan meng-off-kan Q
1
sebelum Q
2
dapat diuji oleh meto- da a atau d.
Vcc
1 Vp-p
F P
1 .
: 100
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Gambar 2.56f: Pada rangkaian transistor aktif, sinyal kolektor
terbalik dari sinyal basis walau pun distorsi. Jika penurunan te-
gangan kolektor ketika tegangan basis naik, dan sebaliknya, pada
dasarnya transistor berfungsi. Vcc
V
CE
drops R
B
R
C
mA Vcc
1 mA
Vcc 100
Small Signal High power
R
B
R
B
Sedangkan pengetesan transistor tanpa bias dapat dilihat pada BAB 4
Di unduh dari : Bukupaket.com
Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan
79
● Kerusakan FET seringkali ditan- dai dengan adanya tegangan
gate yang tidak normal. Pentrigeran gate ditentukan dari
jaringan resistif yang sederhana dan tegangan yang diharapkan
dapat dihitung, karena untuk FET yang baik memiliki I
G
= 0 arus pada gate = 0, seperti yang di-
tunjukkan pada Gambar 2.57. Jangan lupa efek beban pada
meter. Deviasi yang besar dari V
G
yang diinginkan menunjukkan arus gate mengalir. Jika FET
tersebut merupakan FET insu- lated-gate, itu artinya FET terse-
but rusak. Hal itu terjadi jika sam- bungan pada FET rusak, atau
diberi trigger maju pada gate- source. Periksa tegangan V
GS
0.6V.
15 V dc
+20 V
0: 10
0: 10
0: 10
+18 V
R
in
=
V
G =
V V
6 15
5 18
0: 0:
VG 0f 15V-shorted gate
Daniel L. Metzger, 1981, 468
Gambar 2.57: Pengetesan FET
● Tes beda phase dapat digu- nakan Gambar 2.56 f .
● Junction FET dapat dites di- luar rangkaian dengan ohm
meter antara gate dan source R kecil pada satu polaritas
dan R besar jika sebaliknya. Dengan menghubung singkat
kan gate-source, resistansi beberapa ratus ohm antara
drain-source, polaritas mana- pun.
● FET insulated-gate dapat di- periksa untuk substratesource
dan untuk resistansi gate- source. Resistansi drain-
source gate dihubungkan ke source harus berkisar dari
beberapa ratus ohm untuk jenis depletion dan tak hingga
untuk jenis enhancement.
● SCR yang ON harus menun- jukkan tegangan 0,1V hingga
1,5V antara anoda dan kato- danya atau ketika konduksi
anoda-katoda positif. SCR rusak hubung singkat bila te-
gangannya mendekati nol.
● V
GK
seharusnya tidak pernah di atas +1,2V saat ada tega-
ngan kerja. Jika terjadi, ber- arti gate rusak terbuka.
● Terjadinya hubung singkat antara gate-katoda menye-
babkan SCR tetap ditrigger, melewatkan tegangan positif
dari anoda-katoda seperti pa- da gambar 2.58. Jika tega-
ngan positif tidak muncul saat diberi sinyal sinus antara ano-
da dan katodanya, berarti be- ban terbuka atau SCR yang
hubung singkat.
2.6.3. FET
2.6.4. S C R
I
G
Di unduh dari : Bukupaket.com
Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan
80
C R O m e nunjukkan
½ gel. +
Short
Daniel L. Metzger, 1981, 468
Gambar 2.58: Pengetesan SCR
● Dengan Ohmmeter seharusnya SCR menunjukkan hubungan se-
perti sebuah dioda antara gate- katoda satu polaritas hambatan-
nya kecil dan sebaliknya, dan hambatan amat besar terbuka
untuk kedua polaritas anoda-ka- toda. Lihat gambar 2.59.
Selalu besar untuk s e mua p ol ar i t a s
Ohmmeter
Hubungan dioda
Gambar 2.59: Pengetesan SCR dengan Ohmmeter
Dengan Ohmmeter dapat juga di- lakukan sebagai berikut: polaritas
+ Ohmmeter ke anoda SCR dan satunya lagi ke katoda menunjuk-
kan harga besar sekali, kemudian dalam kondisi demikian hubung-
Kan sebentar colok pada a- noda tanpa terlepas dari
anodanya ke gate, maka penunjukan Ohmmeter akan
kecil beberapa puluh Ohm.
2.6.5. U J T
● Biasanya rusak karena te- gangan emiter tidak dapat
mencapai tingkat penembak- an atau karena rangkaian
pengisian memberi terlalu banyak arus sehingga UJT
menahannya.
● Sebaiknya kaki emiter tidak disolder dan ukur V
C
seperti yang ditunjukkan pada gam-
bar 2.60. Jika tegangan ter- sebut tidak lebih dari 0,85V
B2
periksa rangkaian pengisian dan C. Selanjutnya, hubung-
kan milliameter dari C ke B1. Jika arus melebihi spesifikasi
arus lembah UJT, maka rangkaian pengisian membe-
ri banyak arus, sehingga UJT on.
I v
Vcc
Daniel L. Metzger, 1981, 468
Gambar 2.60: Rangkaian osilator sebagai pengetes UJT.
Di unduh dari : Bukupaket.com
Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan
81
● Sejumlah masalah dapat diketahui dengan pemeriksaan jalur PCB me-
miliki resistansi mendekati nol. Ohmmeter dengan skala Rx1 dapat
digunakan untuk ini.
● Dengan alat penguji yang dapat di- dengar seperti gambar 2.61 mata
dapat terus mengawasi rangkaian. Gunakan penunjuk jarum untuk me-
nembus lapisan oksida yang mem- bentuk isolator, dan pastikan bahwa
instrumen yang diuji sedang mati.
Berikut adalah beberapa kemungkinan tempat-tempat untuk kerusakkan ke-
sinambungan : 9 Dua ujung kabel konduktor atau ko-
nektor yang patah. 9 Kaki IC dan jalur rangkaian pada
PCB menjadikan koneksi yang tidak baik, terutama jika IC menggunakan
soket. 9 Dua ujung jalur yang panjang dan ti-
pis pada PCB. 9 Kontak saklar atau relay yang di am
atau bergerak kontak saklar yang bengkok, patah atau berkarat.
Gambar 2.61a sampai c menunjuk- kan distribusi tegangan pada rangkai-
an seri di bawah keadaan normal, kondisi hubung singkat, dan terbuka.
● Untuk mengetrace rangkaian seri yang hubung singkat atau terbuka,
dengan osiloskop atau voltmeter dari ground ke A, gerakkan ke B, C, D,
E, dan F. Tegangan yang menge- drop hingga menuju tegangan nol
diamati pada titik F.
: 470
.: 100
.: 47
F P
01 .
F P
01 .
G
Daniel L. Metzger, 1981, 469
Gambar 2.61: Alat Tester Kesinambungan Dengan Audio
.: 1
.: 8
. 1
.: 1
.: 1
A B
C
D E
F 5 V
+ -
+5 V
0 V +1 V
+2 V +4 V
+2.2 V :
200
a. Rangkaian seri normal dan tegangan ke ground
.: 1
.: 8
. 1
.: 1
.: 1
A B
C
D E
F 5 V
+ -
+5 V
0 V
: 200
+2.5 V +2.5 V
+2.5 V +2.5 V
b. Rangkaian di hubung singkat menunjukkan tidak ada tegangan
yang melewati elemen yang dihubung singkat
A B
C
D E
F 5 V
+ -
+5 V
0 V +5 V
+5 V
0 V +5 V
Break
c. Rangkaian terbuka mendrop semua tegangan yang melewati rangkaian
yang diputus
2.7. Pengecekan dan Pengujian Rangkaian