Pengujian Komponen Aktif smk10 TeknikPemeliharaanPerbaikanElektronika PeniTrisno

Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan 77 Pengujian yang akan dilakukan disini sebagian besar adalah pengujian saat ada tegangan kerja pada suatu rang- kaian, sehingga jika ada kerusakan pada suatu rangkaian, tidak tergesa- gesa melepas solderan suatu kompo- nen tapi bisa dilakukan pengukuran terlebih dahulu untuk meyakinkannya. ● Tegangan maju dioda silicon, ger- manium, Schottky, tunel, dan ze- ner harusnya tidak lebih dari 1,1V dalam rangkaian. Tetapi bila lebih dari nilai tersebut menandai ada- nya dioda terbuka, yang harus di- lepaskan, diuji, dan diganti. ● Jika suatu dioda mengalirkan arus tetapi drop tegangan dioda nol a- tau hanya beberapa milivolt, berarti dioda hubung singkat. Pindahkan, uji, dan ganti. ● Dioda penyearah yang hubung singkat dapat merusak dioda lain , kapasitor filter, dan trafo daya, ma- ka harus dicek sebelum memberi- kan catu daya. ● Transistor yang menunjukkan te- gangan maju basis-emitter lebih dari 1,1V basis positif untuk NPN, basis negatif untuk PNP mempu- nyai junction base-emitter yang terbuka dan harus diganti. ● Transistor yang telah melewati ta- hap pengetesan dapat diputuskan bahwa transistor tersebut dalam keadaaan baik. Cara pengetesan- nya sbb:

2.6. Pengujian Komponen Aktif

2.6.1. Dioda.

2.6.2. Transistor

Daniel L. Metzger, 1981, 465 Gambar 2.56a: Hubung singkat antara basis ke emiter menyebabkan tegangan kolektor menjadi naik dan sama dengan V CC dan V RC turun ke nol, kecuali jika transistor dibiaskan secara normal pada cut off. Daniel L. Metzger, 1981, 465 Vrc drop s Vce Rises Vcc sho rt short Rc Vcc Gambar 2.56b: Jika beban ko- lektor mempunyai resistansi yang mendekati nol, arus turun pada resistor emiter. Hubung singkat antara B-E menyebab- kan V RE turun, kecuali jika tran- sistor dibiaskan secara normal pada cut off. V RE drop Di unduh dari : Bukupaket.com Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan 78 Short Short V RC drops Vcc Daniel L. Metzger, 1981, 465 Daniel L. Metzger, 1981, 465 Short 1 Vcc Short 2 1. Rise 2.Drop Daniel L. Metzger, 1981, 465 Gambar 2.56c: Jika dua transistor diparalel, ke- dua-duanya harus dioff- kan untuk mengamati tu- runnya V RC . Gambar 2.56d: Jika tran- sistor dihentikan pemberian bias-nya dan V C = V CC , resis- tor ditambahkan dari V CC ke basis untuk mengonkan transistor . Hitung R untuk memastikan bahwa I B 1 mA untuk sinyal yang kecil dan I B 100 mA untuk transistor daya. Penambahan R B menyebabkan V C turun. Gambar 2.56e: Jika basis diatur secara langsung oleh transistor, maka diperlukan meng-off-kan Q 1 sebelum Q 2 dapat diuji oleh meto- da a atau d. Vcc 1 Vp-p F P 1 . : 100 Daniel L. Metzger, 1981, 465 Gambar 2.56f: Pada rangkaian transistor aktif, sinyal kolektor terbalik dari sinyal basis walau pun distorsi. Jika penurunan te- gangan kolektor ketika tegangan basis naik, dan sebaliknya, pada dasarnya transistor berfungsi. Vcc V CE drops R B R C mA Vcc 1 mA Vcc 100 Small Signal High power R B R B Sedangkan pengetesan transistor tanpa bias dapat dilihat pada BAB 4 Di unduh dari : Bukupaket.com Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan 79 ● Kerusakan FET seringkali ditan- dai dengan adanya tegangan gate yang tidak normal. Pentrigeran gate ditentukan dari jaringan resistif yang sederhana dan tegangan yang diharapkan dapat dihitung, karena untuk FET yang baik memiliki I G = 0 arus pada gate = 0, seperti yang di- tunjukkan pada Gambar 2.57. Jangan lupa efek beban pada meter. Deviasi yang besar dari V G yang diinginkan menunjukkan arus gate mengalir. Jika FET tersebut merupakan FET insu- lated-gate, itu artinya FET terse- but rusak. Hal itu terjadi jika sam- bungan pada FET rusak, atau diberi trigger maju pada gate- source. Periksa tegangan V GS 0.6V. 15 V dc +20 V 0: 10 0: 10 0: 10 +18 V R in = V G = V V 6 15 5 18 0: 0: VG 0f 15V-shorted gate Daniel L. Metzger, 1981, 468 Gambar 2.57: Pengetesan FET ● Tes beda phase dapat digu- nakan Gambar 2.56 f . ● Junction FET dapat dites di- luar rangkaian dengan ohm meter antara gate dan source R kecil pada satu polaritas dan R besar jika sebaliknya. Dengan menghubung singkat kan gate-source, resistansi beberapa ratus ohm antara drain-source, polaritas mana- pun. ● FET insulated-gate dapat di- periksa untuk substratesource dan untuk resistansi gate- source. Resistansi drain- source gate dihubungkan ke source harus berkisar dari beberapa ratus ohm untuk jenis depletion dan tak hingga untuk jenis enhancement. ● SCR yang ON harus menun- jukkan tegangan 0,1V hingga 1,5V antara anoda dan kato- danya atau ketika konduksi anoda-katoda positif. SCR rusak hubung singkat bila te- gangannya mendekati nol. ● V GK seharusnya tidak pernah di atas +1,2V saat ada tega- ngan kerja. Jika terjadi, ber- arti gate rusak terbuka. ● Terjadinya hubung singkat antara gate-katoda menye- babkan SCR tetap ditrigger, melewatkan tegangan positif dari anoda-katoda seperti pa- da gambar 2.58. Jika tega- ngan positif tidak muncul saat diberi sinyal sinus antara ano- da dan katodanya, berarti be- ban terbuka atau SCR yang hubung singkat.

2.6.3. FET

2.6.4. S C R

I G Di unduh dari : Bukupaket.com Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan 80 C R O m e nunjukkan ½ gel. + Short Daniel L. Metzger, 1981, 468 Gambar 2.58: Pengetesan SCR ● Dengan Ohmmeter seharusnya SCR menunjukkan hubungan se- perti sebuah dioda antara gate- katoda satu polaritas hambatan- nya kecil dan sebaliknya, dan hambatan amat besar terbuka untuk kedua polaritas anoda-ka- toda. Lihat gambar 2.59. Selalu besar untuk s e mua p ol ar i t a s Ohmmeter Hubungan dioda Gambar 2.59: Pengetesan SCR dengan Ohmmeter Dengan Ohmmeter dapat juga di- lakukan sebagai berikut: polaritas + Ohmmeter ke anoda SCR dan satunya lagi ke katoda menunjuk- kan harga besar sekali, kemudian dalam kondisi demikian hubung- Kan sebentar colok pada a- noda tanpa terlepas dari anodanya ke gate, maka penunjukan Ohmmeter akan kecil beberapa puluh Ohm.

2.6.5. U J T

● Biasanya rusak karena te- gangan emiter tidak dapat mencapai tingkat penembak- an atau karena rangkaian pengisian memberi terlalu banyak arus sehingga UJT menahannya. ● Sebaiknya kaki emiter tidak disolder dan ukur V C seperti yang ditunjukkan pada gam- bar 2.60. Jika tegangan ter- sebut tidak lebih dari 0,85V B2 periksa rangkaian pengisian dan C. Selanjutnya, hubung- kan milliameter dari C ke B1. Jika arus melebihi spesifikasi arus lembah UJT, maka rangkaian pengisian membe- ri banyak arus, sehingga UJT on. I v Vcc Daniel L. Metzger, 1981, 468 Gambar 2.60: Rangkaian osilator sebagai pengetes UJT. Di unduh dari : Bukupaket.com Prinsip Pelacakan Kerusakan Kegagalan 81 ● Sejumlah masalah dapat diketahui dengan pemeriksaan jalur PCB me- miliki resistansi mendekati nol. Ohmmeter dengan skala Rx1 dapat digunakan untuk ini. ● Dengan alat penguji yang dapat di- dengar seperti gambar 2.61 mata dapat terus mengawasi rangkaian. Gunakan penunjuk jarum untuk me- nembus lapisan oksida yang mem- bentuk isolator, dan pastikan bahwa instrumen yang diuji sedang mati. Berikut adalah beberapa kemungkinan tempat-tempat untuk kerusakkan ke- sinambungan : 9 Dua ujung kabel konduktor atau ko- nektor yang patah. 9 Kaki IC dan jalur rangkaian pada PCB menjadikan koneksi yang tidak baik, terutama jika IC menggunakan soket. 9 Dua ujung jalur yang panjang dan ti- pis pada PCB. 9 Kontak saklar atau relay yang di am atau bergerak kontak saklar yang bengkok, patah atau berkarat. Gambar 2.61a sampai c menunjuk- kan distribusi tegangan pada rangkai- an seri di bawah keadaan normal, kondisi hubung singkat, dan terbuka. ● Untuk mengetrace rangkaian seri yang hubung singkat atau terbuka, dengan osiloskop atau voltmeter dari ground ke A, gerakkan ke B, C, D, E, dan F. Tegangan yang menge- drop hingga menuju tegangan nol diamati pada titik F. : 470 .: 100 .: 47 F P 01 . F P 01 . G Daniel L. Metzger, 1981, 469 Gambar 2.61: Alat Tester Kesinambungan Dengan Audio .: 1 .: 8 . 1 .: 1 .: 1 A B C D E F 5 V + - +5 V 0 V +1 V +2 V +4 V +2.2 V : 200 a. Rangkaian seri normal dan tegangan ke ground .: 1 .: 8 . 1 .: 1 .: 1 A B C D E F 5 V + - +5 V 0 V : 200 +2.5 V +2.5 V +2.5 V +2.5 V b. Rangkaian di hubung singkat menunjukkan tidak ada tegangan yang melewati elemen yang dihubung singkat A B C D E F 5 V + - +5 V 0 V +5 V +5 V 0 V +5 V Break c. Rangkaian terbuka mendrop semua tegangan yang melewati rangkaian yang diputus

2.7. Pengecekan dan Pengujian Rangkaian