42 dapat disebabkan karena berkurangnya kandungan lemak. Hal ini akan
menurunkan kualitas susu apabila memang terbukti setelah uji berat jenis BJ terdapat penurunan BJ di bawah yang telah ditetapkan yaitu 1.028.
Perlakuan dengan menggunakan kombinasi jarak antar elektroda dan suhu produk dilakukan untuk melihat laju inaktivasi mikroorganisme pada produk susu
sapi segar. Berdasarkan hasil penelitian alat HPEF dapat bekerja secara efektif pada suhu ruang dengan jarak eletroda 3 mm selama 5 jam. Waktu yang
diperlukan oleh alat HPEF untuk inaktivasi mikroorganisme selama 5 jam tidak efisien. Alat ini juga belum mampu menghasilkan produk seperti yang diinginkan
konsumen karena sifat dan warna susu yang dihasilkan dari proses ini tidak seperti susu sapi segar. Hal ini karena waktu perlakuan kuat medan listrik yang terlalu
lama sehingga dapat mengubah kualitas fisik susu, untuk mengatasinya maka sebaiknya waktu perlakuan harus lebih cepat dengan kuat medan listrik yang lebih
besar.
3. Metode HTST High Temperature Short Time,
LTLT LowTemperature Long Time dan HPEF High Pulsed Electric Field
Perbandingan dengan inaktivasi mikroorganisme dengan metode thermal dilakukan dengan menggunakan data sekunder. Dapat dilihat pada Gambar 20,
HPEF dapat secara efektif menurunkan jumlah mikroorganisme selama 5 jam dibandingkan dengan metode thermal HTST dan LTLT. Inaktivasi
mikroorganisme menggunakan metode HPEF dapat menurunkan rata-rata mikroorganisme sampai 1.7 log cfumL, sedangkan dengan metode HTST rata-
rata mencapai 1.2 log cfumL dan LTLT hanya mencapai 0.9 log cfumL dari jumlah mikroorganisme awal. Akan tetapi dari segi waktu dan kapasitas produksi
HTST dan LTLT lebih unggul dibandingkan dengan alat HPEF yang digunakan dalam penelitian ini.
Metode HTST sangat menguntungkan dari segi waktu dan kapasitas produksinya dapat lebih besar karena waktu proses hanya 15 detik. Sedangkan
untuk LTLT penggunaannya sudah jarang karena waktu proses yang cukup lama. Pada beberapa perusahaan metode LTLT dilakukan dengan 2 tahap pasteurisasi,
43 yaitu 52.5-79.5
C selama 38-55 menit kemudian dilanjutkan dengan pemanasan suhu 76-85
C selama 30-48 menit. Dengan berlakunya proses pasteurisasi sebanyak dua tahap, maka
kebutuhan energi juga akan meningkat. Kebutuhan energi bagi berlangsungnya proses pasteurisasi membutuhkan energi sangat besar, untuk itu seiring
perkembangan teknologi dikembangkan metode HTST menggunakan suhu tinggi berkisar 75-80
C selama 15 detik. Dalam HTST produk dialirkan ke dalam holding tube
dengan kecepatan tinggi sehingga terjadi aliran turbulen. Efek aliran turbulen yang dilakukan pada produk akan membantu mempercepat pemerataan
panas ke seluruh partikel-partikel sehingga memungkinkan mikroorganisme dapat terinaktivasi secara merata.
Sama halnya dengan LTLT, HTST juga membutuhkan energi yang besar untuk menghasilkan uap panas dengan tekanan tinggi. Untuk itulah banyak
perusahaan-perusahaan makanan di luar negeri mencoba mengaplikasikan metode HPEF untuk mengawetkan makanan secara nonthermal. Menurut EPRI 1988
dalam Gustavo et al. 1999
proses HPEF dari beberapa produk tidak membutuhkan energi untuk menurunkan suhu perlakuan. Inilah yang menyebabkan kebutuhan
energi dan biaya produksi pada metode nonthermal lebih rendah dari metode thermal
yang ada. Dengan menggunakan jarak antar elektroda yang semakin kecil akan dapat meningkatkan kekuatan medan listrik. Selain itu pengurangan lebar
pulsa juga dapat mengurangi kebutuhan daya. Menurut Gustavo et al. 2000 pada saat penggunaan HPEF, energi yang diberikan pada produk ditentukan oleh sifat
produk seperti konduktivitas dan suhu serta karakteristik dari pulsa seperti bentuk gelombang, lebar, tegangan puncak dan arus.
44 a
b Gambar 20. Grafik Inaktivasi Mikroorganisme Pada Pasteurisasi Menggunakan
LTLT , HTST, dan HPEF : a sample 1 dan b sample 2 pada suhu ruang
Dalam uji fungsional alat HPEF terdapat banyak faktor yang menjadi kendala, antara lain bentuk chamber yang bersiku, lubang pemasukan juga sangat
kecil sehingga susah untuk dibersihkan. Selain itu kapasitas chamber yang terbatas, kekuatan chamber yang mudah lepas dan sambungan solder yang kendor
menyebabkan pengujian tidak dapat dilakukan secara maksimal.
1 10
100 1000
10000 100000
1000000
jum la
h m
ikr o
o rg
an is
m e
c fu
m L
sebelum sesudah
HPEF HTST
LTLT HPEF
HTST LTLT
1 10
100 1000
10000 100000
1000000
jum la
h m
ikr o
o rg
an is
m e
c fu
m L
sebelum sesudah
HPEF HTST
LTLT HPEF
HTST LTLT
45
4. Suhu
