16 akurasi dan reproduksibilitas berada dalam ± 1, mengukur berkisar dari 0,02
nm sampai 2000 nm dan dapat digunakan untuk pengukuran distribusi ukuran partikel emulsi, suspensi, dan bubuk kering Hossaen, 2000.
5. Analisis Zeta Potensial
Analisis zeta potensial adalah teknik untuk menentukan muatan permukaan dari nanopartikel dalam bentuk larutan atau koloid. Nanopartikel
memiliki muatan permukaan yang menarik ion-ion dengan muatan berlawanan ke permukaan nanopartikel dan membentuk lapisan tipis. Dua lapisan ion-ion
bergerak dengan nanopartikel yang tersebar di seluruh larutan. Potensial elektrik pada batas kedua lapisan disebut zeta potensial partikel dan memiliki
nilai khas antara +100 mV sampai -100 mV. Besarnya nilai zeta potensial menunjukkan tingkat kestabilan koloid. Nanopartikel dengan nilai zeta
potensial lebih besar dari +25 mV atau kurang dari -25 mV mempunyai derajat kesetabilan yang tinggi. Dispersi dengan nilai zeta potensial rendah akan cepat
mengalami penggumpalan dari seharusnya untuk gaya tarik inter partikel Van Der Waals Ronson, 2012.
6. SEM Scanning Electron Microscopy
Elektron memiliki resolusi lebih tinggi daripada cahaya. Tingkat resolusi elektron dapat mencapai 0,1-0,2 nm sedangkan cahaya hanya mampu
mencapai resolusi 200 nm. Selain itu elektron dapat menghasilkan beberapa jenis pantulan yang berguna untuk keperluan karakterisasi. Beberapa metode
karakterisasi memanfaatkan sifat pantulan elektron tersebut.
17 SEM Scanning Electron Microscopy memberikan penjelasan yang
detail dari permukaan, memberikan informasi mengenai ukuran dan bentuk yang homogen atau tidak dari bahan nanopartikel.
SEM bekerja berdasarkan
prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel, yang selanjutnya informasi yang didapatkan diubah menjadi gambar. Menurut Balaz, I. dalam Rindy
Wulandary 2014, SEM memiliki jangkauan pandang yang luas terhadap objek yang diamati sehingga menghasilkan gambar detail permukaan objek
yang jelas. Sumber cahaya pada SEM berupa elektron yang memiliki energi sangat besar, yaitu 1000 kali lebih kuat dibandingkan dengan energi dari
cahaya tampak 23Ev. SEM mampu memperbesar bayangan hingga 400.000 kali dan mampu mencitrakan objek dengan kontras yang lebih baik.
Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru elektron sekunder atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika
permukaan sampel tersebut discan dengan sinar elektron. Elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya
ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT cathode ray tube. Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa
dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang
ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi. SEM menggunakan prinsip refleksi, dalam arti permukaan spesimen
memantulkan berkas media. Teknik SEM merupakan pemeriksaan dan analisis permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh merupakan data dari permukaan
18 atau dari lapisan yang tebalnya sekitar 20 µm dari permukaan. Gambar
permukaan yang diperoleh merupakan gambar topografi dengan segala tonjolan dan lekukan permukaan. Gambar topogorafi diperoleh dari
penangkapan pengolahan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen Aptika Oktaviana T.D., 2009.
Ada beberapa sinyal yang penting yang dihasilkan oleh SEM, yaitu pantulan inelastis didapatkan sinyal elektron sekunder dan karakteristik sinar
X, sedangkan dari pantulan elastis didapatkan sinyal backscattered electron. Perbedaan gambar dari sinyal elektron sekunder dengan backscattered adalah
elektron sekunder menghasilkan topografi dari benda yang dianalisa, permukaan yang tinggi berwarna lebih cerah dari permukaan rendah,
sedangkan backscattered elektron memberikan perbedaan berat molekul dari atom
– atom yang menyusun permukaan, atom dengan berat molekul tinggi akan berwarna lebih cerah daripada atom dengan berat molekul rendah Rindy
Wulandary, 2014.
7. Kromatografi Lapis Tipis
