32
1. Sumber Cahaya
Berupa batang yang dipanaskan oleh listrik sebagai sumber infra merah dikenal ada berbagai jenis, yaitu:
a. Nerst glower b. Globar
c. Berbagai bahan keramik
2. Monokromator
Berupa prisma atau grating. Prisma yang digunakan berupa NaCl, hal ini disebabkan karena NaCl hanya transparan dibawah 625 cm
-1
, sedangkan halida logam lain harus digunakan pada pekerjaan dengan
frekuensi yang rendah misal CSI, atau campuran ThBr dan ThI yang dikenal sebagai KRS-5. Prisma NaCl memiliki kelemahan yaitu sifatnya
yang higroskopis membuat cermin-cermin harus dilindungi dari kondensasi uap. Grating berperan dalam meresolusi spektra dan dapat
dibuat dari bermacam-macam bahan. Grating memberikan hasil yang lebih baik dari pada prisma pada frekuensi yang lebih tinggi.
3. Detektor
Detektor yang digunakan dalam Spektrofotometer FTIR adalah TGS Tetra Glycerine Sulphate atau MCT Mercury Cadmium
Telluride. Detektor MCT lebih banyak digunakan karena memiliki beberapa kelebihan dibandingkan detektor TGS, yaitu memberikan
respon yang lebih baik pada frekuensi modulasi tinggi, lebih sensitif,
33
lebih cepat, tidak dipengaruhi oleh temperatur, sangat selektif terhadap energi vibrasi yang diterima dari radiasi infra merah Nathasya Pamata,
2008. Prinsip kerja dari detektor ini adalah jika dua kawat berbeda
dihubungkan antara ujung kepala dengan ekor menyebabkan adanya arus yang mengalir dalam kawat. Arus ini sebanding dengan intensitas
radiasi yang jatuh pada “thermopile”.
12. X-Ray Diffraction
X-Ray Diffraction XRD atau difraksi sinar-X adalah suatu metode analisa yang digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material
dengan cara menentukan parameter struktur kisi dan untuk mendapatkan ukuran partikel. Serta untuk menganalisis sifat-sifat struktur seperti stress,
ukuran butir, fasa komposisi orientasi kristal, dan cacat kristal dari tiap fasa. Menurut Zakaria 2003, metode XRD menggunakan sinar-X yang
terdifraksi seperti sinar yang direfleksikan dari setiap bidang, berturut-turut dibentuk oleh atom-atom kristal dari material. Pola difraksi yang terbentuk
dari berbagai sudut timbul menyatakan karakteristik dari sampel. Susunan ini diidentifikasi dengan membandingkannya dengan sebuah data base
internasional. Pada prinsipnya, XRD digunakan untuk menganalisa efek difraksi akibat interaksi antara radiasi elektromagnetik dengan suatu materi.
Jarak antar atom pada kristal dan molekul berkisar 0,15-0,4 nm sesuai
34
spektrum elektromagnetik berdasarkan panjang gelombang sinar-X dengan energi foton antara 3-8 kV Birkholz, 2006.
XRD terdiri dari tiga bagian utama yaitu tabung sinar-X, tempat objek yang diteliti, dan detektor sinar-X. Prinsip kerja XRD secara umum adalah
tabung sinar-X yang berisi katoda memanaskan filament dan memancarkan sinar-X sehingga menghasilkan elektron. Adanya perbedaan tegangan
menyebabkan percepatan elektron dan menembaki objek. Jika elektron yang mempunyai tingkat energi tinggi menabrak elektron dalam objek maka
menghasilkan pancaran sinar-X. Objek menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar-X. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar-X lalu
mengolahnya dalam bentuk grafik. Gambar alat instrument XRD dapat dilihat pada Gambar 7.
Gambar 7
. Instrumen XRD
35
B. Penelitian Yang Relevan