Karakterisasi Bahan Semikonduktor SnSe

79

B. Pembahasan

1. Pengaruh Alur Suhu terhadap Kualitas Kristal SnSe

0,8 Te 0,2 . Berdasarkan data hasil karakterisasi menggunakan XRD yang telah dianalisis, diketahui bahwa untuk keempat sampel kristal SnSe 0,8 Te 0,2 memiliki bentuk struktur kristal yang sama, yaitu polikristal berstruktur orthorombik. Selanjutnya, membandingkan data hasil karakteristik XRD dengan data standar JCPDS. Terlihat bahwa kristal SnSe 0,8 Te 0,2 lebih condong ke arah data JCPDS NO.48-1224 yang lebih mengarah ke SnSe. Paduan semikonduktor kristal SnSe 0,8 Te 0,2 termasuk dalam kelompok golongan IV-VI yang merupakan bahan semikonduktor chalcogenide yang memiliki celah pita energi bervariasi, sehingga memungkinkan bahan semikonduktor chalcogenide untuk memanfaatkan berbagai daerah pada spektrum matahari. Selain kristal SnSe 0,8 Te 0,2 , rupanya terdapat kristal lain yang tergolong dalam semikonduktor chalcogenide , yaitu SnSe S, SnSe Te, dan SnS Te. Berdasarkan penelitian yang telah dilakukan oleh Anshori 2016 dan Nuril 2016 mengenai kristal SnS 0,8 Te 0,2 dan kristal SnS 0,6 Te 0,4 , dimana kedua kristal tersebut merupakan semikonduktor paduan golongan IV-VI. Pada bahan semikonduktor kristal SnS 0,8 Te 0,2 diberi perlakuan dalam bentuk variasi alur pemanasan, sedangkan untuk bahan semikonduktor kristal SnS 0,6 Te 0,4 diberi perlakuan variasi massa. 80 Hasil karakterisasi XRD menunjukkan bahwa kristal SnS 0,8 Te 0,2 maupun kristal SnS 0,6 Te 0,4 lebih mirip dengan SnS. Hal ini ditunjukkan dari data sudut difraksi dan puncak intensitas SnS 0,8 Te 0,2 dan SnS 0,6 Te 0,4 yang diperoleh. Selain itu juga dari data XRD kedua kristal tersebut yang dibandingkan dengan data standar JCPDS NO.39-0354, hasilnya menunjukkan bahawa data standar JCPDS NO.39-0354 mengarah kepada bahan SnS dan terlihat adanya pergeseran sudut difraksi. Pergeseran sudut difraksi dapat mempengaruhi nilai parameter kisi. Adapun besar nilai parameter kisi kristal SnS pada data standar JCPDS NO.39-0354 adalah a = 4,329 Å, b = 11,19 Å, dan c = 3,983 Å. Nilai parameter kisi kristal SnS 0,8 Te 0,2 pada sampel III yang merupakan sampel terbaik dari sampel lainnya, yaitu a = 4,3154 Å, b = 11,2509 Å, dan c = 3,9637 Å. Ini menunjukkan bahwa nilai parameter kisi kristal SnS 0,8 Te 0,2 lebih kecil dari harga parameter kisi SnS data standar JCPDS NO.39-0354. Pada sampel I kristal SnS 0,6 Te 0,4 yang merupakan sampel terbaiknya, nilai parameter kisi yaitu a = 4,426 Å, b = 11,151 Å, dan c = 3,959 Å. Nilai parameter kisi kristal SnS 0,6 Te 0,4 menunjukkan lebih besar dari nilai parameter kisi SnS data standar tersebut. Perbedaan nilai parameter kisi ini dapat disebabkan karena adanya bahan Te pada SnS 0,8 Te 0,2 dan SnS 0,6 Te 0,4 , sehingga dapat mempengaruhi kuantitas nilai parameter kisi kedua kristal tersebut.