XRD X-Ray Diffraction Prosedur Analisis Sampel

11. XRD X-Ray Diffraction Alat ini digunakan untuk mengetahui struktur kristal debu vulkanik komposisi kimia debu vulkanik 12. SEM Scanning Electron Microscope Alat ini digunakan untuk mengetahui mikrostruktur debu vulkanik

3.1.2 Bahan Yang Digunakan Dalam Penelitian

Bahan yang digunakan pada penelitian ini adalah Debu vulkanik Gunung Sinabung yang meletus pada tanggal 29 April 2010.

3.2 Lokasi Penelitian

Penelitian ini dilakukan di Laboratorium Pusat Penelitian Kelapa Sawit PPKS Medan, Laboratorium Material Tes Pendidikan Teknologi Kimia Industri PTKI Medan, Laboratorium Scanning Electron Microscope SEM Institut Teknologi Bandung ITB dan Laboratorium XRD X-Ray Diffraction Fisika UIN Syarif Hidayahtullah Jakarta.

3.3. Prosedur Analisis Sampel

3.3.1 XRD X-Ray Diffraction

Karakterisasi struktur kristal dilakuan dengan menggunakan metode difraksi sinar-x. Tujuan dilakukannya pengujian analisis struktur adalah untuk mengetahui perubahan fasa struktur bahan XRD adalah suatu peralatan yang dapat memberikan data – data difraksi dan besar kuantitas intensitas difraksi pada sudut-sudut difraks i 2θ. Salah satu teknik Universitas Sumatera Utara yang digunakan untuk menentukan struktur suatu padatan kristalin adalah metode difraksi sinar-X serbuk X- ray powder diffraction seperti terlihat pada Gambar 3.1. Pengukuran sudut difraksi untuk sampel di lakukan pada kondisi optimum. Sudut pengamatan 2θ dibatasi dari 0 o – 180 o . Pertama kali dilakukan untuk sampel debu vulkanik Gunung Sinabung tanpa tekanan lalu 5 ton, , 10 ton, 15 ton, dan 17,5 ton. Penekanan masing – masing sampel akan diamati struktur dan perubahan konstanta kisi a, b dan c dengan difraktometer sinar-X. Dari pola difraksi masing – masing sampel akan diperoleh indeks miller hkl-nya dan dari hkl tersebut akan berhubungan dengan sudut difraksi. Didapatnya data hkl dan sudut difraksi maka akan diperoleh konstanta kisi. Dengan menggunakan hukum Bragg akan diperoleh pengaruh tekanan terhadap konstanta kisi. Jamaluddin K, 2010 Gambar 3.1 Skema Prinsip Kerja XRD Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki ukuran kecil dengan diameter butiran kristalnya sekitar 10 -7 – 10 -4 m ditempatkan pada suatu plat kaca. Sinar-X diperoleh dari electron yang keluar dari filamen panas dalam keadaan vakum pada tegangan tinggi, dengan kecepatan tinggi menumbuk permukaan logam, biasanya tembaga Cu. Jamaluddin K, 2010 Universitas Sumatera Utara

3.3.2 SEM Scanning Electron Microscope