Kerapatan 0,945 mgcm
1,156 g mL pada 25 ° C
3
Densitas uap 3.02 udara = 1
Tekanan uap 1.7 mbar 25
o
C Viskositas
1,02 MPa s 20 deg C Titik leleh
40 ° F Suhu penyimpanan
0-6 ° C Sumber:
N-N-Dimethylacetamide, MSDS No. 96035 [online], ACROS ORGANICS, Canada.TDG.
2.15 XRD X-Ray Diffraction
XRD merupakan alat yang diguanakan untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu
ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak-puncak yang spesifik. Sehingga kelemahan alat ini tidak dapat untuk mengkarakterisasi bahan yang
bersifat amorf. Metode difraksi umumnya digunakan untuk mengidentifikasi senyawaa yang
belum diketahui yang terkandung dalam suatu padatan dengan cara membandingkan dengan data difraksi dengan database yang dikeluarkan oleh International Centre for
Diffraction Data berupa PDF Powder Diffraction File. Pengamatan struktur kristal dengan XRD dilakukan sebagai tahap awal karakterisasi untuk mengidentifikasi
sejauh mana fasa yang terbentuk seperti yang diinginkan dan fasa lainnya yang tidak diharapkan .
Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik yang medan listriknya berubah secara sinusoidal pada setiap waktu dan setiap titik berkas beam nya. Medan listrik
ini akan memberikan gaya listrik pada partikel bermuatan, seperti elektron, yang akan menyebabkan elektron bergerak berosilasi di sekitar titik setimbangnya. Suatu
elektron yang telah mengalami osilasi akibat berkas sinar-x akan mengalami percepatan dan perlambantan selama geraknya dan akan memancarkan gelombang
EM. Dikatakan elektron telah menghamburkan sinar-x yang mempunyai panjang
Universitas Sumatera Utara
gelombang dan frekuensi yang sama dengan sinar datang, yang disebut koheren satu sama lain. Gejala penghamburan atau difraksi ini yang akan direkam Fabrikasi dan
karakterisasi sebagai identifikasi yang terkait dengan struktur kristal. Gambar 3.3 menunjukkan prinsip dasar XRD.
Gambar 2.13 Pola difraksi sinar-X yang terhambur oleh kisi dalam bidang kristal Penghamburan sinar ini mengikuti hukum bragg yang memenuhi persamaan berikut :
n λ = 2d sinθ
2.1 Struktur kristal dalam material berfasa tunggal atau lebih akan memiliki pola XRD
yang unik. Pola-pola XRD ini tersimpan dalam kumpulan data JCPDSICDD yang dapat digunakan sebagai data pencocokan puncak-
puncak 2θ dan intensitas dari data XRD sampel yang diuji Subhan, 2011.
2.16 SEM Scanning Electron Microscope–EDS
