2.9. Analisa Sifat Permukaan dengan Pengujian Scanning Electron Microscopy `` SEM
SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara makroskopik. Berkas elektron dengan diameter 5-10 nm diarahkan pada spesimen.
Interaksi berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, sinar X, elektron sekunder dan absorpsi elektron Rusdi,
2008. SEM merupakan pencitraan material dengan menggunakan prinsip mikroskopi,
mirip dengan kikroskop optik, namun alih – alih menggunakan cahaya, SEM menggunakan elektron sebagai sumber pencitraan dan medan elektromagnetik sebagai
lensanya Smith, 2004. Elektron diemisikan dari katoda electron gun melalui efek foto listrik dan
dipercepat menuju anoda. Filamen yang digunakan biasanya adalah tungsten atau lanthanum hexaboride LaB. Scanning coil, akan mendefleksikan berkas elektron
menjadi sekumpulan array berkas yang lebih kecil, disebut scanning beam dan lensa obyektif magnetik akan memfokuskannya pada permukan sampel Simth, 2004.
Sampel yang dianalisa dengan teknik ini harus mempunyai permukaan dengan konduktivitas tinggi. Karena polimer mempunyai kondiktivitas rendah maka bahan perlu
dilapisi dengan bahan konduktor bahan pengantar yang tipis. Bahan yang biasa digunakan adalah perak, tetapi juga dianalisa dalam waktu yang lama, lebih baik
digunakan emas atas campuran emas dan palladium Rusdi, 2008. Pada SEM, sinyal yang diolah merupakan hasil deteksi dari secondary electron
yang merupakan elektron yang berpindah dari permukaan sampel. SEM dipakai untuk mengetahui struktuur mikro suatu material meliputi tekstur, morfologi, komposisi dan
informasi kristalografi permukaan partikel. Morfologi yang diamati oleh SEM berupa: bentuk, ukuran dan susunan partikel Smith, 2004.
Teknik SEM pada hakekatnya merupakan pemeriksaan dan analisa permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan yang
tebalnya sekitar 20 μm dari permukaan. Gambar permukaan yang diperoleh merupakan
tofografi dengan segala tonjolan, lekukan dan lubang pada permukaan. Gambar tofografi
Universitas Sumatera Utara
diperoleh dari penangkapan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen Smith, 2004.
Sinyal elektron sekunder yang dihasilkan ditangkap oleh detektor yang diteruskan ke monitor. Pada monitor akan diperoleh gambar yang khas menggambarkan struktur
permukaan spesimen. Selanjutnya gambar di monitor dapat dipotret dengan menggunakan film hitam putih atau dapat pula direkam ke dalam suatu disket
Rusdi, 2008. SEM berbeda dengan mikroskopi elektron transmisi TEM dalam hal bahwa
suatu berkas insiden elektron yang sangat halus di-scan menyilang permukaan sampel dalam sinkronisasi dengan berkas tersebut dalam tabung sinar katoda. Elektron – elektron
yang terhambur digunakan untuk memproduksi sinyak yang memodulasi berkas dalam tabung sinar katoda, yang memprodukasi suatu citra dengan kedalamaan medan yang
besar dan penampakan yang hampir tiga dimensi. Dalam penelitian morfologi permukaan SEM terbatas pemakainnya, tetapi memberikan informasi yang bermanfaat mengenai
topologi permukaan dengan resolusi sekitar 100 �̇ Stevens, 2001.
2.10. Differensial Thermal AnalysisDTA
Kategori