Pengukuran Koefisien Ekspansi Termal X-Ray Diffraction XRD

3.5.7 Pengukuran Koefisien Ekspansi Termal

Pengukuran koefisien ekspansi termal dilakukan dengan alat Dilatometer Harrop Model TD-712 dengan rentang suhu pengukuran ditentukan mulai suhu ruang sampai suhu 700 C. Prosedur pengukuran koefisie ekspansi thermal adalah sebagai berikut : 1. Ukur panjang sampel L dengan menggunakan jangka sorong, sampel diletakkan pada tempat yang telah ditentukan sample holder 2. Menentukan nilai A, menghitung nilai koreksi C dengan rumus C = A.L 2.54, dengan L panjang awal sampel cm 3. Menekan tombol power dan tombol hold hingga lampu hold menyala. 4. Tekan upper temperature dengan mengatur tombol upper dan tetapkan rate kenaikan suhu dengan menggunakan tombol rate. 5. Atur suhu pembacaan awal mencapai 30 C dengan menekan tombol slow dan down, ditandai lampu slow dan down menyala. 6. Tentukan skala range yang diinginkan, letakkan pen recorder dan kertas keposisinya. 7. Atur posisi pen ke posisi up atas dan down bawah dengan mengatur skala mikrometer atau mengatur tombol X dan Y, tekan tombol instrument power ke posisi ON dan dapatkan posisi pen yang stabil. 8. Apabila posisi pen sudah tepat dan stabil, arahkan tuas pen recorder keposisi ON dan tekan tombol run dan up. 9. Tekan tombol power pada furnace ke posisi ON, artinya furnace sudah mulai bekerja dan cacat suhu yang ditunjukkan pada paparan untuk interval kenaikan suhu tertentu. Awan Maghrifah : Pembuatan Keramik Paduan Zirkonia ZrO2 dengan Alumina Al2O3 dan Karakterisasinya. USU e-Repository © 2008. Hasil yang diperoleh berupa grafik hubungan antara suhu T dan perubahan panjang. Dari data yang diperoleh kemudian dihitung kemiringan slop grafik terhadap suhu sehingga koefisien ekspansi termal dapat dihitung dengan menggunakan persamaan 2.9.

3.5.8. X-Ray Diffraction XRD

Sinar – X adalah suatu bentuk radiasi elektromagnetik, dipancarkan dari tabung sinar-X dengan panjang gelombang yang ditembakkan mengenai sampel dan dihamburkan sesuai ketentuan hukum Bragg. Sudut difraksi 2 dan intensitas yang diperoleh disesuaikan dengan kartu hanawalt, kartu ini disebut Joint Committee of Powder Diffraction Standard JCPDS. Prosedur penggunaan Difraksi sinar-X adalah sebagai berikut : 1. A adalah generator tegangan tinggi yang berfungsi sebagai catu daya sumber sinar-X. 2. sampel C diletakkan di atas tatakan D yang dapat diputar. 3. Sinar-X dari sumber B dipantulkan oleh sampel menjadi berkas sinar konvergen yang terfokus dicelah E, kemudian masukkan alat pencacah F. 4. D dan F dihubungkan secara mekanis. Jika F berputar sebesar 2 maka D akan berputar sebesar . 5. Intensitas difraksi sinar-X yang masuk dalam alat pencacah F dikonversikan dengan alat kalibrasi G dalam signal tegangan yang sesuai dan direkam oleh alat rekam H dalam bentuk kurva. Awan Maghrifah : Pembuatan Keramik Paduan Zirkonia ZrO2 dengan Alumina Al2O3 dan Karakterisasinya. USU e-Repository © 2008.

3.5.9 Pengamatan Mikrostruktur Dengan Scanning Electron Microscope SEM