Fourier Transform Infrared FTIR Scanning Elektron Microscopy SEM

2.4.1 Fourier Transform Infrared FTIR

Spektrofotometer inframerah pada umumnya digunakan untuk menentukan gugus fungsi suatu senyawa organik dan mengetahui informasi struktur suatu senyawa organik dengan membandingkan daerah sidik jarinya. Cahaya tampak terdiri dari beberapa range frekuensi elektromagnetik yang berbeda. Radiasi inframerah juga mengandung beberapa range frekuensi tetapi tidak dapat dilihat oleh mata. Pengukuran pada spektrum inframerah dilakukan pada daerah cahaya inframerah tengah mid-infrared yaitu pada panjang gelombang 2.5- 50 µm atau bilangan gelombang 4000-200 cm -1 . Energi yang dihasilkan oleh radiasi ini akan menyebabkan vibrasi atau getaran pada molekul. Pita absorpsi inframerah sangat khas dan spesifik untuk setiap tipe ikatan kimia atau gugus fungsi. Metoda ini sangat berguna untuk mengidentifikasi senyawa organik dan organometalikSagala,2013. FTIR telah membawa tingkat keserbagunaan yang lebih besar ke penelitian- penelitian struktur polimer. Karena spektrum-spektrum bisa di-scan, disimpan, dan ditransformasikan dalam hitungan detik, teknik ini memudahkan penelitian reaksi- reaksi polimer seperti degradasi atau ikat silang. Persyaratan-persyaratan ukuran sampel yang sangat kecil mempermudah kopling instrument FTIR dengan suatu mikroskop untuk analisis bagian-bagian sampel polimer yang sangat terlokalisasi. Dan kemampuan untuk substraksi digital memungkinkan seseorang untuk melahirkan spektrum-spektrum lainnya yang tersembunyiSteven, 2001.

2.4.2 Scanning Elektron Microscopy SEM

Mikroskop electron adalah sebuah mikroskop yang dapat melakukan pembesaran objek sampai 2 juta kali. Mikroskop ini menggunakan elektrostatik dan elektromagnetik untuk pembesaran objek serta resolusi yang jauh lebih bagus daripada mikroskop cahaya. Mikroskop electron menggunakan jauh lebih banyak energy dan radiasi elektromagnetik yang lebih pendek dibandingkan mikroskop cahayaSagala,2013. Universitas Sumatera Utara SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara makroskopik. Berkas elektron dengan diameter 5-10 nm diarahkan pada spesimen interaksi berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, sinar x, elektron sekunder, absorbs elektron. Teknik SEM pada hakikatnya merupakan pemeriksaan dan analisa permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan yang tebalnya sekitar 20 µm dari permukaan yang diperoleh merupakan gambar tofografi dengan segala tonjolan, lekukan, dan lubang permukaanWirjosentono, 1996. Prinsip dasar dari SEM adalah electron. Didalam SEM, digunakan sinyal electron BSEs Backscaterred Electrons dan Ses Secondary Electrons. Yang membedakan topografi dan specimen permukan dipengaruhi oleh keluarnya intensitas sinyal electron yang dikumpulkan berdasarkan gelombang-gelombang pemindaian Sagala, 2013.

2.4.3 Uji Tarik