19
diperoleh arus yang dihasilkan oleh elektroda kerja berupa garis linier antara potensial dan arus, seperti yang ditunjukkan pada Gambar 4.
Gambar 4. Kurva Fungsi Potensial dengan Waktu dan Voltamogram Linear
6. Difraksi Sinar-X XRD
X-ray diffraction XRD atau difraksi sinar X merupakan alat untuk mengetahui indeks bidang ataupun karakteristik struktur kristal yang terdapat dari
berbagai macam bahan dengan memanfaatkan hamburan sinar-X Rahman Toifur, 2016: 5. Selain itu juga digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin
dalam material Nelson, 2014. XRD juga dapat memberikan data kualitatif dan semi kuantitatif pada padatan atau sampel Rylan, 1958: 80.
Seberkas sinar monokromatik ditembakkan pada permukaan material, maka atom-atom dalam kristal akan menyerap energi danmenghamburkan kembali sinar
ke segala arah. Berkas sinar yang dihamburkan oleh atom yang sefasa akan terjadi interferensi saling menguatkan, tetapi apabila tidak sefasa maka akan saling
menghilangkan. Pemantulan dan interferensi bergabung menjadi difraksi. Difraksi akan saling menguatkan jika terpenuhi persamaan Bragg 2d sin
θ = nλ Rahman Toifur, 2016: 6.
20
Gambar 5. Hamburan Sinar-X pada Kristal Sumber: Rahman Toifur, 2016: 6
Difraksi sinar-X terjadi apabila suatu berkas elektron bebas berenergi kinetik tinggi menumbuk logam yang merupakan sumber sinar dengan daya tembus yang
besar. Kemudian elektron-elektron inilah akan menimbulkan pancaran sinar-X, sehingga puncak-puncak akan muncul atau terlihat dari suatu bahan yang
ditembakkan Rahman Toifur, 2016: 6. Difraksi sinar-X merupakan salah satu metode yang sangat penting untuk
mengkarakterisasi struktur kristal material. Selain itu, difraksi sinar-X juga dapat digunakan untuk beberapa hal, diantaranya adalah sebagai berikut Nelson, 2014:
a. Pengukuran jarak rata-rata antara lapisan atau baris atom
b. Penentuan kristal tunggal
c. Penentuan struktur kristal dari material yang tidak diketahui
d. Mengukur bentuk, ukuran, dan tegangan dalam dari kristal kecil
7. SEM-EDX
SEM Scanning Electron Microscope merupakan instrumen yang digunakan untuk mengetahui struktur atau sifat permukaan material. Prinsip dasar dari
instrumen ini adalah terjadinya interaksi antara elektron dengan sampel yang dianalisis Abed et. al., 2012: 720. Analisis SEM bermanfaat untuk mengetahui
21
mikrostruktur, termasuk porositas dan bentuk retakan suatu material Gunawan dan Azhari, 2011: 7-9.
Berikut ini gambaran umum interaksi antara elektron dengan sampel dapat dilihat pada Gambar 6.
Gambar 6. Interaksi Elektron dan Sampel Sumber: Sujatno et. al., 2015: 46
Gambar 6 menunjukkan bahwa ketika berkas elektron ditembakkan pada permukaan sampel, terjadi interaksi elektron dengan atom-atom di permukaan
maupun di bawah permukaan sampel. Akibat interaksi tersebut sebagian besar berkas elektron berhasil keluar kembali, elektron-elektron tersebut disebut sebagai
Backscattered Electrons BSE. Sebagian kecil elektron masuk ke dalam bahan kemudian memindahkan sebagian besar energi pada elektron atom sehingga
terpental ke luar permukaan bahan, elektron tersebut disebut Secondary Electrons SE Sujatno et. al., 2015: 46-47. Radiasi yang dipancarkan selama interaksi
meliputi elektron sekunder, backscattered electron dan komponen tambahan seperti cahaya tampak, elektron auger, dan sinar-X Sutton et. al., 2007: 776.
Pembentukan elektron-elektron sekunder selalu diikuti proses munculnya X- ray, sehingga dapat digunakan untuk mengukur kandungan elemen yang ada di
22
dalam bahan yang diteliti untuk mengetahui morfologi permukaan sampel Sujatno et. al., 2015: 46-47.
8. Lidah Buaya
