Difraksi Sinar-X X-Ray DiffractionXRD

24 d. Daerah cuplikan, dimana cuplikan masuk ke dalam daerah cuplikan dan masing-masing menembus sel cuplikan secara bersesuaian. e. Detektor berfungsi mengubah sinyal radiasi FTIR menjadi sinyal listrik. Selain itu, detektor dapat mendeteksi adanya perubahan panas yang terjadi karena adanya pergerakan molekul. Mekanisme yang terjadi pada alat FTIR dapat dijelaskan sebagai berikut: sinar yang datang dari sumber sinar akan diteruskan, kemudian akan dipecah oleh pemecah sinar menjadi dua bagian sinar yang saling tegak lurus. Sinar ini kemudian dipantulkan oleh dua cermin yaitu cermin diam dan cermin bergerak. Sinar hasil pantulan kedua cermin akan dipantulkan kembali menuju pemecah sinar untuk saling berinteraksi. Sebagian sinar akan diarahkan menuju cuplikan dan sebagian menuju sumber. Gerakan cermin yang maju mundur akan menyebabkan sinar yang sampai pada detektor akan berfluktuasi. Sinar akan saling menguatkan ketika kedua cermin memiliki jarak yang sama terhadap detektor, dan akan saling melemahkan jika kedua cermin memiliki jarak yang berbeda. Fluktuasi sinar yang sampai pada detektor ini akan menghasilkan sinyal pada detektor yang disebut interferogram. Interferogram ini akan diubah menjadi spektra FTIR dengan bantuan komputer berdasarkan operasi matematika Tahid, 1994. Berdasarkan penelitian Siti Sulastri 2013, silika gel yang diperoleh dari abu sekam padi memiliki puncak-puncak serapan yang menunjukkan adanya gugus fungsi silanol ≡Si-OH dan siloksan =Si-O-Si=. 25 Karakterisasi ini diharapkan dapat digunakan untuk indikasi kualitatif keberhasilan sintesis silika gel. Serapan karakteristik senyawa-senyawa karbon-silikon ditunjukkan pada Tabel 1. Tabel 1. Serapan Karakteristik Senyawa-Senyawa Organo-Silikon Hardjono, 1992 Gugus Fungsional Frekuensi cm -1 Panjang Gelombang m Si-H 2230-2150 4,48- 4,65 890-860 11,24-11, 63 Si-OH 3390-3200 2,95- 3, 13 870-820 11,49-12, 20 Si-O 1110-100 9,01- 10, 00 SO-O-Si disiloksan 1053 9,50 Si-O-Si linier 1080 9,26 1025 9,76 Si-O-Si trimersiklis 1020 9,80 Si-O-Si tetramersiklis 1082 9,42 Si-OCH 3 1090-1050 9,18- 9, 52 Si-OC 2 H 5 1090 9,18 Si-C 890-690 11,24-14, 49 Si-CH 3 1260 7,93 820-800 12,21-12, 50 SiCH 3 2 1260 7,93 840 11,90 Si-C 6 H 5 1632 6,13 1428 7,00 1125 8,89 26

9. Spektroskopi Serapan Atom SSA

Spektroskopi serapan atom SSA adalah analisis kuantitatif terhadap unsur-unsur logam. Alat yang digunakan untuk analisis secara spektroskopi serapan atom disebut Spektrofotometer Serapan Atom. Alat ini memiliki sensitifitas yang sangat tinggi, sehingga sering dijadikan sebagai pilihan utama dalam menganalisis unsur logam yang konsentrasinya sangat kecil ppm bahkan ppb. Prinsip dasar pengukuran dengan SSA adalah penyerapan energi sumber cahaya oleh atom-atom dalam keadaan dasar menuju ke keadaan tereksitasi. Pembentukan atom-atom dalam keadaan dasar atau proses atomisasi pada umumnya dilakukan dalam nyala. Cuplikan yang mengandung logam M sebagai ion M + dalam bentuk larutan garam M + dan A - akan melalui serangkaian proses dalam nyala, sebelum akhirnya menjadi atom logam dalam keadaan dasar M seperti terlihat pada Gambar 5. Gambar 5. Proses Atomisasi Welz, 1985