Konduktometer X-Ray Diffraction XRD

26 mengukur kadar total suatu logam dalam satu cuplikan, tidak tergantung bentuk molekul logam dalam cuplikan Susila, Suyanta, dan Siti., 2009. Hasil perhitungan dari karakterisasi menggunakan AAS akan memberikan kadar total dari unsur logam atau semi logam dari sampel yang kita teliti dan tidak tergantung dari bentuk molekul logam tersebut dalam sampel jumlah radiasi yang diserap tergantung pada jumlah atom-atom bebas yang terlihat dan kemampuan atom itu untuk menyerap radiasi. Perhitugan dalam karakterisasi dengan AAS adalah berdasarkan hukum Lambert-Beer yaitu: A = ε.b.C ………………………………...…………………………. 7 Keterangan : A = Absorbansi C = konsentrasi b = tebal kuvet ε = koefisien absorpsi molar

5. Konduktometer

Konduktometri digunakan untuk mengetahui kemampuan senyawa kompleks dalam menghantarkan listrik. Konduktivitas senyawa kompleks diukur dengan menggunakan konduktometer yaitu dengan cara menetapkan hambatan suatu kolom cairan. Pengukuran konduktivitas listrik berbentuk konduktivitas sel yang terdiri atas sepasang elektroda dimana luas permukaannya telah ditetapkan dengan teliti. Daya hantar listrik larutan elektrolit dapat dinyatakan sebagai daya hantar listrik molar dan didefinisikan sebagai daya hantar yang ditimbulkan oleh mol zat sesuai dengan persamaan 8 Atkins, 1990: Ʌm = � � …………………………………………...………………. 8 27 Keterangan : Ʌm = daya hantar ekivalen S.mol -1 .cm 2 K= daya hantar listrik spesifik terkoreksi μS.cm -1 C = Konsentrasi elektrolit mol.L -1 Daya hantar molar suatu larutan bergantung pada konsentrasi, jumlah ion dan muatan ion dari senyawa elektrolit. Jumlah muatan atau jumlah ion dari spesies yang terbentuk ketika larutan kompleks dilarutkan dapat diketahui dengan membandingkan daya hantar molar kompleks tersebut dengan senyawa ionik sederhana yang telah diketahui jumlah dan perbandingan muatan ionnya Lee, 1994. Pengukuran konduktivitas listrik suatu larutan garam kompleks merupakan salah satu metode penting dalam mempelajari pasangan ion atau kumpulan ion. Pengukuran konduktivitas juga digunakan untuk memperkirakan energi bebas hidrasi beberapa larutan elektrolit dan mempelajari sifat alami interaksi antara zat yang terlarut dengan pelarut El- Hammany et al., 2010.

6. X-Ray Diffraction XRD

X-ray diffraction XRD merupakan suatu teknik pengujian yang digunakan untuk menentukan struktur kristal, parameter kisi dan volume kisi. Bila seberkas sinar-X mengenai suatu bahan kristalin, berkas ini akan didifraksi oleh bidang atom dalam kristal tersebut. Berkas sudut difraksi θ tergantung pada panjang gelombang berkas sinar-X dan jarak d antar bidang Smallman Bishop, 2000. 28 Sudut antara berkas sinar yang didifraksikan dengan sinar ditransmisikan itu besar nya selalu 2θ ν 2θ inilah yang terukur oleh alat eksperimen difraksi sinar-X dan dikenal sebagai sudut difraksi. Pola difraksi sinar-X yang terjadi akan mengikuti hukum Bragg dengan persamaan 9 : 2d sinθ = n ……………………….………………………………….. λ Difraksi akan terjadi apabila hukum Bragg tersebut terpenuhi. Difraktometer yang dijalankan pada suatu rentang sudut tertentu akan menghasilkan sederet puncak-puncak intensitas difraksi. Setiap puncak intensitas difraksi untuk setiap sudut difraksi, mewakili bidang-bidang kisi kristal yang mendifraksikan sinar-X Subagja, 2011. Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai macam pemantulan sinar dihitung dengan menggunakan suatu model acuan struktur yang sesuai. Dalam metode Le Bail dilakukan pergeseran nilai-nilai parameter kisi sehingga dihasilkan kemiripan struktur yang maksimal antara hasil difraksi sinar-X yang dihasilkan dengan acuan yang digunakan Rusli, 2011.

C. Penelitian yang Relevan