keduanya bergerak pada bidang vertikal dalam arah yang berlawanan di atas pusat spesimennya. Pada beberapa bentuk analisis difraksi sinar-X sampel dapat
dimiringkan dan dirotasikan sekitar suatu sumbu psi.
Lingkaran difraktometer pada gambar 2.9 berbeda dari lingkaran pemfokusnya. Lingkaran difraktometer berpusat pada specimen dan detektor
dengan sumber sinar-X keduanya berada pada keliling lingkarannya. Jejari lingkaran difraktometer adalah tetap. Lingkaran difraktometer juga dinyatakan
sebagai lingkaran goniometer. Goniometer adalah komponen sentral dari suatu difraktometer sinar-X dan mengandung pemegang sampel sample holder. Pada
kebanyakan difraktometer serbuk goniometernya adalah vertikal.
2.8.3 Scanning Electron Microscope SEM
Berbicara tentang teknologi nano, maka tidak akan bisa lepas dari mikroskop, yaitu alat pembesar untuk melihat struktur benda kecil tersebut.
Teknologi nano: teknologi yang berbasis pada struktur benda berukuran nano meter, satu nano meter = sepermilyar meter. Tentu yang dimaksud disini bukanlah
mikroskop biasa, tetapi mikroskop yang mempunyai tingkat ketelitian resolusi tinggi untuk melihat struktur berukuran nano meter. Oleh sebab itu maka
dibutuhkan SEM Scaning Electron Microscope untuk morfologi dari sampel. Fungsi mikroskop elektron scanning atau SEM adalah dengan membuat
terfokus balok halus elektron ke sampel. Elektron berinteraksi dengan sampel komposisi molekul. Energi dari elektron menuju ke sampel secara langsung dalam
proporsi jenis interaksi elektron yang dihasilkan dari sampel. Serangkaian energi elektron terukur dapat dihasilkan yang dianalisis oleh sebuah mikroprosesor yang
canggih yang menciptakan gambar tiga dimensi atau spektrum elemen yang unik yang ada dalam sampel dianalisis. Ini adalah rangkaian elektron yang dibelokkan
oleh tumbukan dengan elektron yang dihamburkan oleh sampel.
Universitas Sumatera Utara
2.8.4 X-Ray Fluorosence XRF
XRF merupakan pengujian yang tidak merusak Lisjak,D, 2006. XRF berfungsi untuk mengganalisa komposisi kimia yang terkandung dalam suatu
sampel dengan menggunakan metode stoikiometri. XRF pada umumnya digunakan untuk menganalisis mineral dan bebatuan. Analisis digunakan secara
kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk menganalisis jenis unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif dilakukan untuk
menentukan konsentrasi unsur dalam bahan. Secara garis besar, prinsip kerja XRF adalah elektron pada kulit bagian
dalam sampel akan dieksitasi oleh foton bagian dari sinar-X. Selama proses dieksitasi proton akan berpindah dari tingkat energi yang lebih tinggi untuk
mengisi kekosongan elektron. Energi yang dipancarkan oleh kulit yang berbeda akan muncul sebagai sinar-X yang diemisikan oleh atom. Spektrum sinar-X yang
diperoleh selama proses diatas menyatakan jumlah dari karakteristik puncak. Energi puncak untuk mengidentifikasi unsur dalam sampel analisis kualitatif,
sementara intensitas puncak menyediakan konsentrasi unsur yang relevan dan mutlak analisis kuantitatif dan semi kuantitatif. XRF terdiri dari sumber radiasi
primer biasanya radioisotop atau tabung sinar-X dan peralatan untuk mendeteksi sinar-X sekunder. XRF mempunyai keunggulan analisis yang cepat dan tidak
memerlukan preparasi yang rumit. Waktu yang digunakan untuk sekali pengujian adalah 300 detik 5 menit. Sedangkan preparasi sampel tidak perlu dilakukan
dengan merusak, sehingga sampel dapat segera diukur.
2.8.5 Permagraph
