Bahan yang digunakan Alat dan Bahan 1. Alat yang digunakan

22 Kristal dapat diketahui dengan menggunakan metode Debye Scherrer Morales et al.,2007 yaitu menggunakan persamaan: � = �. � ���� D adalah ukuran kristal nm, k merupakan konstanta material yang nilainya 0,λ, merupakan panjang gelombang yang digunakan pada waktu pengukuran nm, merupakan Full Widht Half Maximum FWHM puncak yang dipilih γ puncak utama dan θ merupakan sudut difraksi dari data grafik βθ pada difraktogram. Sedangkan untuk mengetahui nilai parameter kisi ditentukan dengan menggunakan persamaan: = � √� Berdasarkan persamaan tersebut dapat diketahui nilai parameter kisi dengan struktur kubik. Untuk parameter kisi dengan struktur kubik adalah a=b=c dan α= = . Selain itu juga dilakukan analisis dengan menggunakan spektronik infra red FTIR. Sepktra IR digunakan untuk mengetahui kandungan senyawa apasaja yang berada di dalam hasil sintesis tersebut. Pembacaan spectra IR dengan cara membandingkan antara hasil spectra IR dari amilum dengan hasil spectra IR senyawa CdS. Dari hasil tersebut maka dapat diketahui perbedaan antara amilum dengan senyawa CdS yang telah disintesis sebelumnya. Analisis data dilakukan dengan menggunakan XRD, spektrometer IR, spektrofotometer UV-Vis dan SEM. Spektrofotometer UV-Vis digunakan untuk mengetahui dan menganalisa pergeseran panjang gelombang 23 maksimum maks dan data reflektasi untuk mengetahui energi celah pita atau nilai band gap. Dari data spektrofotometer nantinya akan didapatkan grafik hubungan antara R dengan panjang gelombang . Energi celah pita didapatkan dengan mengubah R yang ada kedalam persamaan Kubelka-Munk FR dan mengubah panjang gelombang menjadi besaran eV. Kemudian akan diperoleh grafik hubungan antara F R’∞ x hv 12 dengan eV. Senyawa hasil sintesis juga dianalisis dengan menggunakan SEM- EDX. Analisis SEM digunakan untuk menentukan morfologi partikel permukaan dan ukuran partikel sedangkan hasil analisis EDX digunakan untuk menentukan komposisi senyawa dari suatu sampel. Scanning Electrone Microscope SEM adalah sebuah mikroskop electron yang didesain untuk menyelidiki permukaan dari objek solid secara langsung. SEM memiliki perbesaran 10 – 3.000.000x, depth of field 4 – 0,4 mm dan resolusi sebesar 1 – 10 nm.