13
Setiap gugus fungsional suatu senyawa memiliki daerah penyerapan radiasi yang berbeda-beda sehingga dalam aplikasinya apabila berbeda gugus fungsional
maka akan bebeda pula data radiasi panjang gelombang yang ditunjukkan. Namun tidak semua ikatan dalam molekul dapat menyerap energi inframerah, hanya ikatan
yang memiliki momen dipol yang dapat menyerap radiasi inframerah Sastrohamidjojo, 1992. Pada penelitian ini fungsi dari FTIR adalah untuk
mengetahui gugus fungsi yang terdapat di dalam sintesis senyawa CdS yang telah dikalsinasi. FTIR juga difungsikan untuk mengetahui apakah masih terdapat
amilum di dalam sintesis senyawa CdS.
7. Analisis Spektrofotometer UV-Vis
Spektrofotometer UV-Vis adalah pengukuran panjang gelombang dan intensitas sinar ultraviolet dan cahaya tampak yang diabsorbsi oleh sampel. Sinar
ultraviolet dan cahaya tampak memiliki energi yang cukup untuk mempromosikan elektron pada kulit terluar ke tingkat energi yang lebih tinggi. Panjang gelombang
terhadap transmisi spektrum absorbansi yang diukur dengan alat UV-Vis dapat juga digunakan sebagai pengukuran awal untuk menentukan besaran celah pita. Sinar
Ultraviolet mempunyai panjang gelombang antara 200-400 nm, sementara sinar tampak mempunyai panjang gelombang 400-800 nm Dachriyanus, 2004.
Prinsip dari spektrofotometer UV-Vis adalah jika material disinari dengan gelombang elektromgnetik maka cahaya akan diserap oleh elektron dalam
material. Setelah menyerap cahaya, elektron akan berusaha meloncat ke tingkat energi yang lebih tinggi. Jika energi cahaya yang diberikan kurang dari lebar
celah pita energi maka elektron tidak sanggup meloncat ke pita valensi. Elektron
14
baru akan meloncat ke pita konduksi apabila energi cahaya yang diberikan lebih besar daripada lebar celah pita energi, seperti yang ditunjukan pada Gambar
5.
Gambar 5. Energi Celah Pita
Penentuan energi celah pita
band-gap dengan Diffuse Reflectance UV
Metode spektrofotometri UV-Vis Diffuse Reflectance digunakan untuk mengetahui besarnya energi celah pita dari material CdS. Energi celah pita
diperoleh dengan mengubah besaran R ke dalam faktor Kubelka-Munk FR, sesuai dengan rumus sebagai berikut.
Dimana, FR adalah faktor Kubelka-Munk, K adalah koefisien absorbansi, S adalah koefisien scattering, dan R adalah nilai reflektansi. Selanjutnya besaran
panjang gelombang diubah menjadi eV, sesuai dengan rumus berikut:
15
dimana, Eg adalah energi celah pita band gap, h adalah konstanta Planck 6,626 x 10
-34
Joule, c adalah kecepatan cahaya di udara 2,998 x 10
8
ms, da n
adalah panjang gelombang nm.
8. Analisis SEM-EDX
SEM-EDX Scanning Electron Microscopy – Electron Dispersive X-Ray
Analyser . SEM adalah sebuah mikroskop electron yang didesain untuk menyelidiki
permukaan dari objek solid secara langsung. SEM memiliki perbesaran 10 –
3.000.000x, deph of field 4 – 0,4 mm dan resolusi sebesar 1 – 10 nm. Kombinasi
dari perbesaran yang tinggi, depth of field yang besar, resolusi yang baik, kemampuan untuk mengetahui komposisi dan informasi kristalografi membuat
SEM banyak digunakan untuk keperluan penelitian dan industri. Perlu diperhatikan, saat mengoperasikan SEM, electron optical coloumn
dan sample chamber harus dalam kondisi vakum agar elektron yang ditembakkan dan dipantulkan tidak berhamburan karena dapat merusak kualitas gambar yang
dihasilkan Jaya., 2005:192: 417-422. EDX menggunakan emisi spektrum sinar-X dari sampel yang ditembak
dengan elektron yang terfokus untuk analisis kandungan kimianya. Analisis kualitatifnya melibatkan identifikasi pada garis spektrum dari X-Ray. Analisis
