10
Amilum tersusun dari monomer monosakarida enam karbon D-glukosa. Struktur monosakarida D-glukosa dapat digambarkan dalam struktur rantai
terbuka atau dalam cincin. Rumus molekul amilum adalah C
6
H
10
O
5
n, dimana n terdiri atas 40-3000 unit D-glukosa Anna, 1994. Pada dasarnya, amilum
merupakan salah satu surfaktan yang biasa digunakan dalam sintesis nanopartikel. Amilum merupakan jenis surfaktan netral. Surfaktan netral mengandung suatu
gugus non-ion seperti suatu karbohidrat yang dapat membentuk ikatan hidrogen dengan air
.
Surfaktan digunakan sebagai agen peningkat dalam sintesis nanomaterial yang berfungsi untuk mengontrol mekanisme dan kinetika reaksi.
Amilum mampu memengaruhi morfologi dan ukuran partikel dari produk akhir. Distribusi ukuran nanopartikel dapat dikontrol dengan menambahkan surfaktan.
Surfaktan lain selain amilum yang juga biasa digunakan dalam sintesis nanopartikel adalah natrium dodesil sulfat SDS, polivinil pirolidon PVP,
gliserol, bis 2-ethylhexyl sulfosuccinate AOT, cetyltrimethyl amonium bromida CTAB, dan dietil sulfosuccinate DES Yadav et al, 2012.
5. Analisis X-Ray Diffraction XRD
Difraksi sinar-X merupakan teknik yang digunakan untuk mengidentifikasi adanya fasa kristalin di dalam material-material benda dan serbuk, untuk
menganalisis sifat-sifat struktur sperti stress, ukuran butir, cacat kristal, dan fasa komposisi oriental kristal dari tiap fasa. Metode ini menggunakan suatu berkas
sinar-X yang terdifraksi seperti sinar yang direfleksikan dari setiap bidang, berturut-turut dibentuk oleh atom-atom kristal dari material sampel. Selanjutnya
identifikasi dengan membandingkan pada database Internasional Zakaria, 2003
11
yang dikenal sebagai data JCPDS Joint Commite on Powder Diffraction Standars
. Gambar 4 menjelaskan bahwa seberkas sinar-X dipantulkan dari sehimpunan bidang kristal yang berjarak antara d.
Gambar 4. Difraksi Sinar X
Prinsip difraksi untuk sampel berbentuk serbuk adalah cahaya monokromatik sinar X dikenakan pada kristal, satu pantulan atau difraksi dari variasi sudut sinar
X akan menunjukkan sinar mula-mula, jika seberkas sinar X menumbuk partikel berukuran atom maka sinar tersebut akan dipantulkan oleh partikel atomik yang
ditumbuknya Bird, 1987: 34-36. Sinar X yang terdifraksi oleh bidang permukaan sampel memiliki sudut refleksi yang sama dengan sudut sinar datang West, 1989
: 122.
12
Dalam penelitian ini, sampel dianalisis untuk memperoleh informasi tentang struktur kristal, ukuran kristal dan parameter kisi. Untuk mengetahui struktur
kristal dari senyawa yang dianalisis perlu dibandingkan dengan data standar JCPDS CdS no. 75-1546 untuk struktur kubik dan JCPDS CdS no. 41-1049 untuk
struktur heksagonal. Data standar JCPDS CdS untuk struktur kubik memiliki nilai βθ yaitu 26,505
o
; 43,969
o
; dan 52,076
o
dengan hkl 111, 220 dan 311. Untuk data
standar JCPDS CdS dengan struktur heksagonal memiliki nilai βθ yaitu
26,507
o
; 47,839
o
; dan 52,795
o
dengan hkl 002, 103 dan 201.
6. Analisis Spektrometer IR
Spektrometer inframerah merupakan instrumen yang digunakan untuk mengukur radiasi pada berbagai panjang gelombang. Spektrofotometer IR
memberikan analisis secara kualitatif dengan mengidentifikasi macam gugus fungsi yang terdapat dalam suatu senyawa. Suatu senyawa akan memancarkan
energi yang kemudian akan diserap oleh alat dengan spektra. Radiasi inframerah terjadi pada panjang gelombang 4000-670 cm
-1
sehingga energi yang dihasilkan rendah. Energi dalam radiasi inframerah ini tidak mampu memecahkan suatu
molekul menjadi komponen-komponennya, namun hanya dapat memberikan efek vibrasi getaran pada gugus-gugus yang terkena pancaran inframerah ini. Efek
vibrasi yang ditimbulkan menghasilkan hasil yang spesifik untuk masing-masing gugus, atau dengan kata lain efek vibrasi pada masing-masing gugus terjadi pada
panjang gelombang yang berbeda-beda. Data inilah yang menjadi acuan dalam spektrometer inframerah untuk menyimpulkan gugus fungsional yang terkandung
dalam senyawa sampel.
